吴海东
- 作品数：6 被引量：15H指数：3
- 供职机构：信息产业部电子第五研究所更多>>
- 相关领域：电子电信更多>>
- 多层共烧陶瓷在MCM-C中的应用及其可靠性被引量：3
- 2003年
- 评述了应用于MCM-C的多层共烧陶瓷的材料选择、工艺过程与控制,通过对多芯片组件系统的应力失效、损伤机理、热分析及关键工艺的过程控制的探讨,试图找出多层共烧陶瓷对MCM的可靠性的影响。
- 吴海东
- 关键词：多芯片组件陶瓷可靠性
- 新型真空器件在武器装备中的应用被引量：5
- 2004年
- 介绍真空电子器件和固态器件组合的新型电子器件—微波功率模块 （Ｍ ＰＭ ），以及将微电子工艺应 用 于传 统真 空 电子 器件 而 出现 的真 空 微电 子器 件 ，这 两种 器 件将 对下 一 代武 器系 统 有重 要 的影 响。
- 吴海东
- 关键词：微波功率模块真空微电子器件微波集成电路
- 砷化镓微波单片集成电路的失效分析被引量：2
- 2003年
- 通过封装内部气氛、芯片显微、能谱等分析手段对国内某研究所研制砷化镓微波单片集成电路高温加速寿命试验后的样品进行了失效分析,对其失效机理进行探讨,得出:封装气密性不好、工艺造成的缺陷是引起失效的主要原因,也是造成国内产品质量与可靠性不如国外同类产品的重要原因。
- 郑丽香莫郁薇吴海东张增照
- 关键词：砷化镓微波单片集成电路
- GaAs MMIC可靠性研究与进展被引量：3
- 2001年
- 介绍了GaAs器件及MMIC的可靠性研究现状 。
- 吴海东庄志强莫郁薇张增照聂国健
- 关键词：砷化镓器件单片微波集成电路可靠性
- 砷化镓微波单片集成电路可靠性预计模型研究被引量：2
- 2007年
- 在对微波单片集成电路(MMIC)的失效模式和失效机理进行分析的基础上,提出了砷化镓微波单片集成电路(GaAs MMIC)的可靠性预计数学模型,并通过加速寿命试验确定了产品的基本失效率和预计模型温度系数πT。在大量统计工艺数据和文献数据的基础上,获得了可靠性预计模型中的其它系数。
- 王蕴辉莫郁薇吴海东张增照古文刚聂国健
- 关键词：微波单片集成电路
- 砷化镓微波单片集成电路的可靠性及其预计模型的研究
- 该论文用步进应力加速寿命试验的方法对国产砷化镓微波单片集成电路（GaAs MMIC）的可靠性进行了初步的研究,得到恒定应力加速寿命试验的最佳试验温度,并根据步进应力试验过程中出现的问题改进了样品试验夹具.经过调研和比较各...
- 吴海东
- 关键词：可靠性砷化镓微波单片集成电路
- 文献传递
