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刘芬

作品数:43 被引量:142H指数:6
供职机构:中国科学院化学研究所更多>>
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43 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
K-Pb-Tl-O复合氧化物的合成和电子结构的XPS研究
2002年
用熔盐阳极电沉积法合成了导电的复合氧化物K-Pb-Tl-O晶体.这些晶体具有纳米尺寸层状结构.用XPS对其进行了表征,并与相关的化合物进行了比较.实验表明,氧化物中的Pb和Tl都以高价态的单一价态存在,但电子结合能比相应的非导电低价化合物的低.该文用原子外弛豫效应解释了复合氧化物中的Pb和Tl的结合能的反常现象.讨论了它们的价电子结构与导电性的关系.
邱丽美刘芬赵良仲
关键词:电子结构
样品高度对XPS测试的影响被引量:2
2013年
采用Al靶微聚焦单色器光电子能谱仪进行XPS测试时,如果样品高度选择不好,会导致测得的光电子峰强度降低.而对于一些电子结合能较高的元素,其光电子峰会变宽,有时出现双峰.分析了该现象的原因是X射线光斑、电子中和枪中和区域以及光电子能量接收区域没有聚焦于同一点.
章小余赵志娟刘芬
关键词:X射线光电子能谱
三维编织C/SiC纤维复合块材的XPS研究被引量:4
2001年
用常规XPS、小面积XPS和成象XPS研究了三维编织的C/SiC纤维复合材料.结果表明,在燃气中灼烧后材料表面生成的暗红色反应是由于层中的SiC已氧化成氧化硅,同时反应层中还引入了杂质Fe、Na、Ca和Al;在反应层下Si以元素Si、SiC和氧化硅多种形式存在.块材横截面的多点小面积XPS分析结果表明,元素硅的相对浓度随深度增加而减少, SiC的相对浓度则随深度增加而增加.块材横截面的成象XPS分析清楚地显示了SiC 在纤维束边界间呈大致均匀的分布,在块材两边元素Si的浓度明显偏高.根据XPS象的线性扫描结果估计了纤维束、束间SiC层和块材边缘元素Si富集层的厚度.
赵良仲刘芬李建章徐永东
关键词:C/SIC复合材料复合材料X射线光电子能谱碳化硅纤维
XPS分析固体粉末时的样品制备法研究被引量:8
2007年
用XPS分析固体粉末样品时通常将粉末直接撒在双面胶带上进行测试.这种方法粉末容易脱落,并导致仪器污染或损坏.本文介绍一种将粉末样品铺在胶带上压成薄层进行测试的制样方法.后一种方法不需模具,简单快捷,实验表明它不仅有利于保护仪器,而且有利于提高XPS分析的灵敏度和分辨率.
刘芬赵志娟邱丽美赵良仲
关键词:X射线光电子能谱
成像X射线光电子能谱定量分析研究被引量:8
2003年
探索了直接用实验测得的XPS图像强度来做元素或化学态相对定量分析的可能性。以AgCl和Na2 S2 O3样品为例 ,实验结果表明 :XPS图像强度与成像时间有良好的线性关系 。
刘芬邱丽美赵良仲
关键词:化学态
基于X射线光电子能谱的绝缘栅双极型晶体管失效分析
2023年
绝缘栅双极晶体管(IGBT)作为功率变流器的核心器件,其稳定状态在一定程度上决定了整个功率变流器的可靠性.国内某公司生产的一款IGBT模块在使用中出现过电压应力失效而被击穿,将其拆封后发现模块内部存在黑色枝状物,采用X射线光电子能谱法(XPS)对其进行失效分析,发现黑色枝状物的组成为金属硫化物及硫酸盐.通过元素定性、定量与化学态分析为模块实际应用中的失效机制提供了科学指导.进一步结合XPS数据结果详细分析了可能的硫物种污染来源,并针对器件封装材料和使用环境提出了改进和预防措施.
章小余赵志娟刘芬徐鹏屈宝龙
关键词:X射线光电子能谱绝缘栅双极晶体管硫化
用XPS法精确测量硅片上超薄氧化硅的厚度
本文给出了氧化硅厚度的计算公式,讨论了光电子发射角和晶体方位角的选择,介绍了硅片上超薄氧化硅的XPS测量方法。
刘芬邱丽美赵良仲
文献传递网络资源链接
XPS分析中使用样品磁透镜引起的谱峰位移和峰形畸变被引量:3
2002年
发现当使用Mg/Al双阳极和样品磁透镜进行非导电样品(或与样品托绝缘的导电样品)的X射线光电子能谱分析时,谱峰出现异常大的位移和谱形出现畸变;在同时使用电子中和枪时谱峰位移变小,当导电样品与样品托有良好的电接触时谱峰位移消失;作者提出这种异常大的位移来自样品荷电效应 。
刘芬邱丽美赵良仲
关键词:XPSX射线光电子能谱磁透镜荷电效应
表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
本标准规定了两种方法,用于测定AES和XPS谱仪强度标在容许线性离散限度范围内的最大计数率。它也包括校正强度非线性的方法,以便那些谱仪可使用更高的最大计数率,对于这些谱仪相关的校正公式已被证明是有效的。
刘芬邱丽美赵良仲王海宋小平沈电洪
关键词:仪器光学仪器表面性质
表面化学分析与标准化被引量:1
2013年
对表面化学分析标准化作了概述.介绍了标准管理机构和标准制订程序.还介绍了表面化学分析的相关标准和标准应用实例.
刘芬
关键词:电子能谱
共5页<12345>
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