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王长庆

作品数:3 被引量:15H指数:3
供职机构:北京有色金属研究总院更多>>
相关领域:理学更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学

主题

  • 3篇稀土
  • 3篇稀土杂质
  • 3篇稀土杂质元素
  • 3篇化学光谱法
  • 3篇化学光谱法测...
  • 3篇光谱
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  • 2篇高纯
  • 2篇高纯稀土
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  • 1篇氧化铕
  • 1篇色层分离
  • 1篇发射光谱
  • 1篇发射光谱法
  • 1篇P507

机构

  • 3篇北京有色金属...

作者

  • 3篇伍星
  • 3篇王长庆
  • 1篇陈炜
  • 1篇沈欣

传媒

  • 3篇分析试验室

年份

  • 1篇1998
  • 2篇1997
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
化学光谱法测定6N氧化铈中14个稀土杂质元素被引量:4
1997年
提出了二次分离富集-发射光谱法测定高纯氧化铈中14个稀土杂质元素的方法。所建立的方法分离时间短,富集倍数高,化学光谱测定下限为0.33μg/g,适用于6N氧化铈中14个稀土杂质元素的测定。
王长庆沈欣伍星
关键词:稀土杂质元素氧化铈发射光谱法
化学光谱法测定5N氧化钆中14个稀土杂质元素被引量:5
1998年
报道了化学光谱法测定5N高纯氧化钆中14个稀土杂质元素,在P507萃淋树脂色层柱上分离氧化钆中稀土杂质元素,分别采用定量分离La-Sm及Tb-Lu+Y和部份分离Eu的方法,并相应地采用碳粉吸附法和碳粉粉末法进行光谱测定。分离时间为3.5h,测定下限为1.2μg/g(RE)。
王之光王长庆伍星
关键词:高纯稀土氧化钆稀土杂质色层分离光谱法
化学光谱法测定6N氧化铕中14个稀土杂质元素被引量:9
1997年
本文利用铕易被还原的特性,将铕还原为二价进行预分离后,继以P507萃淋树脂柱进行二次分离,光谱测定富集物中14个稀土杂质元素。本方法富集倍数高达20,000倍,化学光谱测定下限为0.65μg/g(RE),可满足6N氧化铕产品分析的要求。
伍星王长庆陈炜
关键词:高纯稀土氧化铕P507稀土杂质
共1页<1>
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