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王长庆
作品数:
3
被引量:15
H指数:3
供职机构:
北京有色金属研究总院
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相关领域:
理学
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合作作者
伍星
北京有色金属研究总院
陈炜
北京有色金属研究总院
沈欣
北京有色金属研究总院
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发射光谱
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发射光谱法
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机构
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北京有色金属...
作者
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伍星
3篇
王长庆
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陈炜
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沈欣
传媒
3篇
分析试验室
年份
1篇
1998
2篇
1997
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3
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化学光谱法测定6N氧化铈中14个稀土杂质元素
被引量:4
1997年
提出了二次分离富集-发射光谱法测定高纯氧化铈中14个稀土杂质元素的方法。所建立的方法分离时间短,富集倍数高,化学光谱测定下限为0.33μg/g,适用于6N氧化铈中14个稀土杂质元素的测定。
王长庆
沈欣
伍星
关键词:
稀土杂质元素
氧化铈
发射光谱法
化学光谱法测定5N氧化钆中14个稀土杂质元素
被引量:5
1998年
报道了化学光谱法测定5N高纯氧化钆中14个稀土杂质元素,在P507萃淋树脂色层柱上分离氧化钆中稀土杂质元素,分别采用定量分离La-Sm及Tb-Lu+Y和部份分离Eu的方法,并相应地采用碳粉吸附法和碳粉粉末法进行光谱测定。分离时间为3.5h,测定下限为1.2μg/g(RE)。
王之光
王长庆
伍星
关键词:
高纯稀土
氧化钆
稀土杂质
色层分离
光谱法
化学光谱法测定6N氧化铕中14个稀土杂质元素
被引量:9
1997年
本文利用铕易被还原的特性,将铕还原为二价进行预分离后,继以P507萃淋树脂柱进行二次分离,光谱测定富集物中14个稀土杂质元素。本方法富集倍数高达20,000倍,化学光谱测定下限为0.65μg/g(RE),可满足6N氧化铕产品分析的要求。
伍星
王长庆
陈炜
关键词:
高纯稀土
氧化铕
P507
稀土杂质
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