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王成

作品数：1 被引量：0H指数：0
供职机构：无锡微电子科研中心更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇国内会议论文

主题

  • 1篇电路
  • 1篇集成电路
  • 1篇CMOS集成
  • 1篇CMOS集成...
  • 1篇MOS电路

机构

  • 1篇无锡微电子科...

作者

  • 1篇于宗光
  • 1篇王万业
  • 1篇王成

传媒

  • 1篇第八届全国可...

年份

  • 1篇1999
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
CMOS集成电路静电击穿机理的研究
OS集成电路的静电击穿一直是影响集成电路可靠性的一个重要因素。当器件尺寸缩小到1微米以下时，在减小芯片I/O尺寸，提高工作频率的同时，保证较高的抗静电能力就显得尤为重要。本文首先对几种1微米CMOS集成电路进行静电击穿实...
于宗光王成王万业
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