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李静婉

作品数：6 被引量：21H指数：2
供职机构：北京工业大学更多>>
发文基金：北京市自然科学基金国家高技术研究发展计划国家教育部博士点基金更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇专利

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...

主题

  • 2篇热阻
  • 1篇电学
  • 1篇扫描测试
  • 1篇数据采集
  • 1篇切换
  • 1篇热学
  • 1篇控制软件
  • 1篇快速切换
  • 1篇功率
  • 1篇功率半导体
  • 1篇二极管
  • 1篇发光
  • 1篇发光二极管
  • 1篇高温
  • 1篇白光
  • 1篇半导体
  • 1篇GAN
  • 1篇程序控制
  • 1篇大功率
  • 1篇大功率白光

机构

  • 3篇北京工业大学

作者

  • 3篇李静婉
  • 2篇周舟
  • 2篇冯士维
  • 2篇郭春生
  • 1篇程尧海
  • 1篇张光沉

传媒

  • 1篇发光学报

年份

  • 1篇2012
  • 2篇2011
共 6 条 记 录，以下是 1-3
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排序方式：
GaN基大功率白光LED的高温老化特性被引量：19
2011年
对大功率GaN基白光LED在85℃下进行了高温加速老化实验。经6 500 h的老化,样品光通量退化幅度为28%～33%。样品的I-V特性变化表明其串联电阻和反向漏电流不断增大,原因可归结为芯片欧姆接触的退化及芯片材料中缺陷密度的提高。样品的热特性变化显示出各结构层热阻均明显增大,这是由散热通道上各层材料的老化及焊料层出现大面积空洞引起的。分析表明,高温老化过程中芯片和封装材料的退化共同导致了LED的缓变失效。
周舟冯士维张光沉郭春生李静婉
关键词：大功率白光LED热阻
功率半导体LED热阻快速批量筛选装置和方法
功率半导体LED热阻快速批量筛选装置和方法属于半导体LED及相关PN结器件热阻考核和筛选技术领域。该发明主要应用于快速、非破坏性确定器件热阻过大的方法和装置。本发明的主要发明点在于：设计了可容纳百颗LED的夹具，保证每颗...
冯士维张光沉郭春生周舟程尧海李静婉
LED热阻测试仪控制软件和数据采集技术研究
随着半导体器件不断向高集成度、高频、高压、大功率特性的方向发展，器件的电流密度不断增加，由此带来的器件有源区工作温升过高严重地影响着半导体器件的工作特性及可靠性。因此，人们对半导体器件的热设计提出了越来越高的要求，对半导...
李静婉
关键词：发光二极管控制软件数据采集
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