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李洪国

作品数：2 被引量：0H指数：0
供职机构：中国航天科技集团公司四院四十三所更多>>
相关领域：航空宇航科学技术一般工业技术金属学及工艺更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 1篇金属学及工艺
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 2篇射线照相
  • 2篇夹杂缺陷
  • 1篇无损检测
  • 1篇焦距
  • 1篇测量方法

机构

  • 2篇中国航天科技...

作者

  • 2篇张新春
  • 2篇张华坤
  • 2篇李洪国
  • 2篇苏丽芳

传媒

  • 1篇航空制造技术
  • 1篇高性能复合材...

年份

  • 2篇2009
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
整体模压封头中夹杂缺陷二次射线照相定位方法
2009年
概述了模压封头中夹杂缺陷埋藏深度的二次射线照相测量方法的基本原理及试验过程,并根据对试验数据的分析确定了该测量方法中关键工艺参数平移距离W、焦距F的选取原则和数值,同时通过实例一、实例二对二次射线照相测量方法的验证,进一步证明了该测量方法的应用空间和应用价值。
苏丽芳李洪国张新春张华坤
关键词：焦距
整体模压封头中夹杂缺陷二次射线照相定位方法
本文阐述了模压封头中夹杂缺陷埋藏深度的二次射线照相测量方法的基本原理及试验过程,并根据对试验数据的分析确定了该测量方法中关键工艺参数平移距离W、焦距F的选取原则和数值,同时通过实例一、实例二对二次射线照相测量方法的验证,...
苏丽芳李洪国张新春张华坤
关键词：无损检测
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