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吴华生
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复旦大学物理学系
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合作作者
邬建根
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1990
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1989
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喇曼散射光极值法定闪锌矿结构薄层的晶向
1990年
测定金刚石结构薄层晶体的喇曼散射光极值法被推广到测定闪锌矿结构薄层晶体的晶向。导出了闪锌矿结构晶体LO和TO声子的喇曼散射光强和晶体的方位及入射光偏振方向间的函数关系。由函数的极值可以确定簿层的晶向。对GaP晶片比较了本方法得到的结果和X射线衍射法得到的结果。
吴华生
邬建根
屈逢源
关键词:
锌矿
晶向
喇曼散射
用Raman光谱测定半导体外延薄层的晶向
<正>X射线法可给大块晶体定向。但对半导体外延薄层却有不少困难,Raman散射光谱反映晶体对称性,所用的可见光源在半导体中的穿透深度又往往很小,因此可用作测定半导体外延薄层晶向的合适工具。对闪锌矿结构的极性半导体外延层,...
吴华生
劳浦东
屈逢源
文献传递
喇曼散射光极值法定金刚石结构薄层的晶向
1989年
本文提出了一个测定任意取向的金刚石结构薄层晶向的方法——喇曼散射光极值法。文中推导了任意取向的金刚石结构薄层的喇曼散射光强与薄层晶向及入射光偏振方向间的函数关系,并利用此函数的极值定出晶向。利用本文方法所得硅单晶定向结果与X射线衍射法定向结果进行了比较。
吴华生
劳浦东
邬建根
屈逢源
关键词:
金刚石
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