鞠艳秋
- 作品数：4 被引量：0H指数：0
- 供职机构：清华大学信息科学技术学院自动化系更多>>
- 发文基金：国家重点基础研究发展计划更多>>
- 相关领域：电子电信自然科学总论自动化与计算机技术更多>>
- 含存储器数字电路系统的自动测试生成
- 2007年
- 已有的数字电路自动测试生成(ATPG)软件没有存储器的结构模型,不支持对存储器电路的自动测试生成。该文分析了2类存储器的功能特征,提出了面向测试的ROM和RAM结构模型的建立方法,其中,ROM根据所储存的数据等效成组合电路模型,RAM利用新建立的RAMBIT基元等效成利于测试的时序电路模型。将其应用于ATPG软件中,解决了含存储器数字电路的自动测试生成问题。
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- 关键词：存储器自动测试生成故障仿真
- 含存储器数字电路系统的自动测试生成
- 本文针对实际维护PCB板中对含存储器模块的电路系统的测试需求,从测试角度对ROM和RAM建立一种复杂器件模型。方案在确认模型正确的基础上,利用数字电路板故障诊断测试集的自动生成软件对含有存储器的数字电路板进行测试生成并进...
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- 关键词：存储器自动测试生成故障仿真
- 文献传递
- 含存储器数字电路板的TPS开发研究
- 2006年
- 提出了含存储器数字电路板的两种测试矢量集(TPS)开发方案。对含少量存储器芯片的电路板采用结构化的测试方案,即将RAM等效成时序电路模型,利用时序电路ATPG软件进行测试生成。对以RAM为主的存储器板提出了一种功能测试方案,采取压缩地址空间的方法,对RAM阵列进行读写操作。实际应用证明,这两种方案较好地满足了实际应用中的需要。
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- 关键词：存储器
- 面向ATPG的ROM模型
- 分析了结构化的测试生成对于只读存储器的建模需求,从提高测试生成的效率角度,建立含复杂数据的ROM简化模型,经过模型验证、测试生成及仿真实验表明,模型的使用在保证了故障覆盖率的前提下明显减少测试生成时间,更有助于生成有效的...
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- 关键词：只读存储器
- 文献传递
