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王长河

作品数：6 被引量：76H指数：4
供职机构：电子工业部更多>>
相关领域：电子电信航空宇航科学技术电气工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文期刊文章

领域

  • 5篇电子电信
  • 1篇电气工程
  • 1篇航空宇航科学...

主题

  • 2篇半导体
  • 1篇带宽
  • 1篇单端
  • 1篇单粒子
  • 1篇单粒子效应
  • 1篇电磁
  • 1篇电磁脉冲
  • 1篇电源
  • 1篇电子器件
  • 1篇电子设备
  • 1篇正反激
  • 1篇正激
  • 1篇人造卫星
  • 1篇软开关
  • 1篇软开关变换器
  • 1篇失效模式
  • 1篇损伤阈值
  • 1篇微波功率
  • 1篇微波功率晶体...
  • 1篇微电子

机构

  • 6篇电子工业部
  • 1篇湖南大学

作者

  • 6篇王长河
  • 1篇周灵平
  • 1篇靳九成
  • 1篇崔恩录
  • 1篇李绍禄
  • 1篇王小平
  • 1篇郭雁恩

传媒

  • 5篇半导体情报
  • 1篇半导体技术

年份

  • 3篇1998
  • 3篇1997
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
硅微波功率晶体管内匹配设计技术研究被引量：3
1997年
着重论述了硅微波功率晶体管内匹配网络的设计方法，对内匹配网络的功率均分特性、带宽特性，增益性能做了分析研究。在上述基础上，通过优化设计。
王小平王长河崔恩录
关键词：功率带宽晶体管
高功率微波和电磁脉冲对半导体器件辐射损伤的研究被引量：6
1997年
主要讨论高功率微波(HPM)和电磁脉冲(EMP)对半导体分立器件和集成电路的辐射损伤机理。在此基础上提出有关对策,以便提高器件抗 HPM 和 EMP 的能力。
王长河
关键词：损伤阈值半导体器件HPMEMP
微米纳米新型微电子器件可靠性技术发展方向研讨被引量：5
1998年
介绍了新型微电子器件发展现状和主要技术，分析了微电子器件可靠性技术发展趋势，提出我国半导体器件可靠性技术发展对策和建议。
王长河
关键词：失效模式微电子器件
单粒子效应对卫星空间运行可靠性影响被引量：50
1998年
主要论述单粒子效应对卫星中微电子器件的辐射损伤机理。提出提高集成电路抗单粒子翻转和单粒子闭锁的技术路径。
王长河
关键词：航天器人造卫星单粒子效应电子设备
无损耗单端正反激软开关DC/DC变换器被引量：1
1998年
对单端正反激软开关变换器的拓扑进行了分析与设计。采用３０Ｗ、１００ｋＨｚ的原型电路对理论预期和设计步骤进行了验证，并讨论了整个电路损耗的优化过程。
郭雁恩王长河聂荣琪
关键词：反激正激开关电源软开关变换器
金刚石薄膜半导体研究进展及其应用前景被引量：11
1997年
ＣＶＤ金刚石薄膜是一种有发展前途的半导体材料，近几年来国内外研究取得了一定进展。目前采取的主要研究技术是在非金刚石衬底上生长掺杂金刚石多晶膜，其应用方向是耐高温和抗辐射的半导体器件。尽管金刚石薄膜半导体还有许多问题极待解决，但其应用前景十分广阔，到２０００年以后，市场销售额将超过金刚石膜工具而跃居首位。
周灵平靳九成李绍禄王长河
关键词：金刚石薄膜半导体掺杂
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