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王大成

作品数:3 被引量:22H指数:3
供职机构:中国地质大学(北京)工程技术学院更多>>
相关领域:电子电信机械工程更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇机械工程

主题

  • 3篇激光
  • 2篇激光二极管
  • 2篇二极管
  • 2篇半导体
  • 2篇半导体激光
  • 2篇半导体激光二...
  • 2篇LD
  • 1篇数学模型
  • 1篇通信
  • 1篇自动校正
  • 1篇激光测距
  • 1篇激光测距机
  • 1篇光纤
  • 1篇光纤通信
  • 1篇参数测试
  • 1篇测距机
  • 1篇测试系统

机构

  • 3篇北京理工大学
  • 2篇中国地质大学...
  • 2篇中国矿业大学
  • 1篇中国地质大学
  • 1篇中国矿业大学...

作者

  • 3篇亢俊健
  • 3篇王大成
  • 2篇苏美开
  • 1篇高稚允
  • 1篇安海忠
  • 1篇安海忠

传媒

  • 2篇激光杂志
  • 1篇计算机测量与...

年份

  • 2篇2003
  • 1篇2002
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
激光测距机光轴误差的自动测试与校正被引量:10
2003年
利用CCD图像采集处理技术 ,对脉冲测距机的光轴偏差自动检测和校正。不仅大大提高了工作效率 ,而且检测校正精度满足实际要求。
安海忠苏美开高稚允亢俊健王大成
关键词:激光测距机自动校正
LD参数连续测试系统研究被引量:8
2002年
本文介绍了一种新型半导体激光二极管 (LD)参数连续测试系统 ,它采用了高精度的数据采集技术、超强的数据处理技术及精密机械定位技术 ,可对LD的P -I和V -I曲线及相关参数进行连续测试、显示、存储、管理和打印 ,测量速度快 ,测量精度高 。
亢俊健王大成姚升武焦长利刘鹏鹏安海忠苏美开
关键词:半导体激光二极管参数测试光纤通信
LD老化筛选及寿命测试系统被引量:6
2003年
介绍了半导体激光二极管 (LD)老化及寿命测试的理论依据 ,给出了寿命测试的数学模型 ,并据此研制了新型LD老化筛选及寿命测试系统 ,该系统在密封抽真空充氮环境下 ,通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息及所处环境的温度 ,绘制LD的老化曲线 ,即恒流条件下的“P -t曲线” 。
亢俊健苏美开王大成
关键词:半导体激光二极管LD测试系统数学模型
共1页<1>
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