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李国培

作品数:9 被引量:39H指数:3
供职机构:上海大学机电工程与自动化学院精密机械工程系更多>>
发文基金:上海市教委科研基金上海市青年科技启明星计划更多>>
相关领域:机械工程金属学及工艺自动化与计算机技术电子电信更多>>

文献类型

  • 6篇期刊文章
  • 2篇会议论文
  • 1篇学位论文

领域

  • 4篇机械工程
  • 2篇金属学及工艺
  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇电子电信
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 3篇面形
  • 2篇谱密度
  • 2篇误差均化
  • 2篇相移
  • 2篇面形测量
  • 2篇功率谱
  • 2篇功率谱密度
  • 2篇干涉仪
  • 1篇迭代法
  • 1篇数学模型
  • 1篇平面度
  • 1篇最小二乘解
  • 1篇相移技术
  • 1篇相移误差
  • 1篇面形检测
  • 1篇空间分辨率
  • 1篇计量学
  • 1篇光学
  • 1篇光学元件
  • 1篇分辨率

机构

  • 9篇上海大学

作者

  • 9篇李国培
  • 8篇于瀛洁
  • 6篇陈明仪
  • 1篇郭红卫

传媒

  • 2篇仪器仪表学报
  • 1篇光学精密工程
  • 1篇宇航计测技术
  • 1篇计量学报
  • 1篇上海大学学报...
  • 1篇2001微机...

年份

  • 2篇2003
  • 2篇2002
  • 5篇2001
9 条 记 录,以下是 1-9
排序方式:
干涉图处理中的相位去包裹技术被引量:14
2002年
介绍了相位去包裹的相关技术和算法。文中将去包裹算法分成两大类 :路径跟踪算法和与路径无关算法。同时介绍了这两大类算法的数学模型。
于瀛洁李国培陈明仪
关键词:数学模型
误差均化的拼接技术
利用相关拼接技术实现光学波面检测,可以用较小的测量口径实现较大面积的测量,并保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本.获得高精度的子孔径波面分布和有效的拼接方面是一技术的关键.最简单的两两拼接的方法由于在拼接过程中...
李国培于瀛洁陈明仪
关键词:误差均化
文献传递
误差均化的拼接技术被引量:9
2001年
利用相关拼接技术实现光学波面检测 ,可以用较小的测量口径实现较大面积的测量 ,并保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。获得高精度的子孔径波面分布和有效的拼接方法是这一技术的关键。最简单的两两拼接的方法由于在拼接过程中存在误差积累 ,对全孔径拼接精度有很大的影响。采用误差均化的拼接方法 ,要求所有拼接区中相差值的平方和同时达到最小。从本质上看 ,这是一种并行算法。给出了在平面直角坐标系下误差均化拼接的数学模型和求解方法 ,进行了计算机仿真。
李国培于瀛洁陈明仪
关键词:误差均化
平面度干涉仪中拼接技术及PSD评定方法的研究
光学元件面形测量在科研和生产中有大量的需求,其中大尺寸光学件的测量更是一个富有挑战性的课题.针对大口径光学元件面形检测要求,该文采用了多孔径拼接技术实现检测.实现面形多孔径拼接测量的关键是获取高精度的子孔径面形数据和采用...
李国培
关键词:面形检测相移技术功率谱密度
文献传递
拼接干涉测量技术被引量:3
2003年
利用相关拼接技术实现光学波面检测 ,可以用较小的测量口径实现较大面积的测量 ,并保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。获得高精度的子孔径波面分布和有效的拼接方法是这一技术的关键。简述了采用相移技术测量子孔径波面的关键技术。两个子孔径之间的拼接是比较容易的 ,但采用两两拼接的方法会有很大的误差累积。因此采用了具有误差均化作用的拼接方法 ,该方法本质上是一种并行的方法。文中简述了该拼接方法的数学模型和求解方法。
于瀛洁李国培
关键词:空间分辨率干涉仪
两种迭代最小二乘相移算法的比较
2001年
健壮有效的相移算法是干涉图处理中一个非常关键的技术 .相位值自动标定算法可以消除移相误差 ,因此得到了广泛关注和应用 .其中 Kong- Kim算法和基于一阶泰勒级数展开式的迭代最小二乘算法是两种非常优秀的算法 .
李国培于瀛洁郭红卫陈明仪
关键词:相移误差最小二乘解迭代法
面形测量中相关拼接模型的精确求解方法
利用相关拼接技术测量表面面形,可以用较小的测量口径实现较大面积表面面形的测量,并同时保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。在这项技术中,模型的建立和求解至关重要。本文针对一般模型建立和求解过程中的问题,提出了基...
李国培于瀛洁陈明仪
关键词:面形测量
文献传递
关于光学元件波面测量中的功率谱密度被引量:11
2003年
讨论了光学件波面检测中 ,采用功率谱密度 (PSD)作为重要评价参数的原因、相关的国际标准、PSD计算方法及PSD结果的评价准则等。虽然所进行的讨论主要是针对高功率激光系统中的光学元件检测 。
于瀛洁李国培
关键词:计量学功率谱密度光学元件
面形测量中相关拼接模型的精确求解方法被引量:2
2001年
利用相关拼接技术测量表面面形 ,可以用较小的测量口径实现较大面积表面面形的测量 ,并同时保持高的测量精度、高的空间分辨率和系统的低成本。在这项技术中 ,模型的建立和求解至关重要。本文针对一般模型建立和求解过程中的问题 ,提出了基于最小二乘迭代的求解方法。该方法不但考虑了高度信息的变化 ,而且全面考虑了在一般模型求解中简化的 x,y方向上参数的影响。
李国培于瀛洁陈明仪
关键词:面形测量
共1页<1>
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