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提刘旺

作品数：4 被引量：0H指数：0
供职机构：中国科学院半导体研究所更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 3篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 4篇光电
  • 3篇对光
  • 2篇电参数
  • 2篇电器件
  • 2篇杜瓦
  • 2篇探测器
  • 2篇热沉
  • 2篇光电参数
  • 2篇光电器件
  • 2篇光电探测
  • 2篇光电探测器
  • 2篇光电探测器件
  • 1篇微光
  • 1篇光发射
  • 1篇光发射器
  • 1篇光发射器件
  • 1篇光输出
  • 1篇参数测试

机构

  • 4篇中国科学院
  • 1篇桂林电子科技...
  • 1篇中国电子技术...

作者

  • 4篇提刘旺
  • 3篇韩勤
  • 3篇杨晓红
  • 1篇王宝友
  • 1篇刘秀娟
  • 1篇赵英

传媒

  • 1篇信息技术与标...

年份

  • 1篇2012
  • 2篇2010
  • 1篇2008
共 4 条 记 录，以下是 1-4
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排序方式：
在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法
本发明公开了一种在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法。该方法是将标准器件与被测器件置于可精确控制温度的具有光窗口的真空杜瓦内，光信号可以通过光窗口出入杜瓦，被测器件与标准器件进行对比即可得到被测器件光电参数。...
杨晓红韩勤提刘旺
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在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置和方法
本发明公开了一种在高低温工作条件下对光电器件进行测试的装置，该装置包括：一导温密封腔，用于容置待检测光电器件，具有一光窗口，用于被检测光电器件的光输出或光输入；一支架，该导温密封腔固定于该支架的顶端；一托架，设置于该支架...
提刘旺杨晓红韩勤
文献传递
光电探测器件高低温光参数测试方法研究
2008年
提出一种在线测试光电探测器高温和低温光参数的测试方法。该方法通过一个小型的温度试验腔来实现,并与标准器件的参数对比得到被测器件的相关参数,得出与理论相协调的试验结果,能够满足器件可靠性评估的测试要求。
刘秀娟王宝友赵英提刘旺
关键词：光电探测器件
在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法
本发明公开了一种在特殊高低温条件下对光电器件进行测试的装置及方法。该方法是将标准器件与被测器件置于可精确控制温度的具有光窗口的真空杜瓦内，光信号可以通过光窗口出入杜瓦，被测器件与标准器件进行对比即可得到被测器件光电参数。...
杨晓红韩勤提刘旺
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