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文献类型

  • 4篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 1篇电子电信
  • 1篇理学

主题

  • 2篇电流
  • 2篇电流法
  • 2篇电压
  • 2篇电压法
  • 2篇通用仪器
  • 2篇热释电
  • 2篇热释电系数
  • 2篇静电计
  • 2篇控制系统
  • 2篇分子束
  • 2篇分子束外延
  • 2篇SUB
  • 2篇测量控制系统
  • 1篇数据采集
  • 1篇数据采集系统
  • 1篇铝镓砷
  • 1篇非接触
  • 1篇非接触式
  • 1篇ALGAAS
  • 1篇GA

机构

  • 5篇中国科学院

作者

  • 5篇严立平
  • 4篇史国良
  • 3篇乔怡敏
  • 3篇陆卫
  • 3篇陈效双
  • 3篇万明芳
  • 3篇刘兴权
  • 3篇穆耀明
  • 3篇查访星
  • 3篇沈学础
  • 2篇王根水
  • 2篇孙璟兰
  • 2篇陈敏挥
  • 2篇吴小平
  • 2篇林铁
  • 2篇郭少令
  • 2篇陈静
  • 2篇孟祥建
  • 2篇褚君浩
  • 2篇杜捷

传媒

  • 1篇物理学报

年份

  • 1篇2004
  • 1篇2003
  • 1篇2002
  • 1篇1998
  • 1篇1997
5 条 记 录,以下是 1-5
排序方式:
一种用于热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法
发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于:本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术,设计一套简便易行...
陈敏挥孙璟兰王根水严立平史国良林铁孟祥建陈静郭少令褚君浩
文献传递
一种原位检测直接带隙Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As分子束外延薄膜材料组分方法和装置
本发明提供了一种在超高真空条件下非接触式的原位Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As组分检测技术,它把分子束外延系统的超高真空条件,与调制光谱系统有机地结合起来,形成了一个测量Al<Sub>x<...
陆卫刘兴权穆耀明杜捷查访星乔怡敏史国良严立平欧海疆万明芳陈效双吴小平沈学础
文献传递
超薄层AlGaAs样品的光调制反射谱研究
1997年
用调制光谱的方法对分子束外延(MBE)生长在GaAs(100)衬底上的一组超薄层本征型AlxGa1-xAs层进行了原位的研究.对厚度在35nm以下的一组样品观察到了若干个跃迁峰,而对厚度在100nm的样品只观察到了一个跃迁峰.观察到的各峰随厚度的改变而变化.
刘兴权陆卫穆耀明乔怡敏乔怡敏万明芳陈效双严立平万明芳
关键词:铝镓砷MBE
一种原位检测直接带隙AlxGa<Sub>1-x</Sub>As分子束外延薄膜材料组分方法和装置
本发明提供了一种在超高真空条件下非接触式的原位Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As组分检测技术,它把分子束外延系统的超高真空条件,与调制光谱系统有机地结合起来,形成了一个测量Al<Sub>x<...
陆卫刘兴权穆耀明杜捷查访星乔怡敏史国良严立平欧海疆万明芳陈效双吴小平沈学础
文献传递
一种用于热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法
发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于:本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术,设计一套简便易行...
褚君浩陈敏挥孙璟兰王根水严立平史国良林铁孟祥建陈静郭少令
文献传递
共1页<1>
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