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严立平
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供职机构:
中国科学院上海技术物理研究所
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相关领域:
理学
电子电信
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合作作者
史国良
中国科学院上海技术物理研究所
沈学础
中国科学院上海技术物理研究所
查访星
中国科学院上海技术物理研究所
穆耀明
中国科学院上海技术物理研究所
刘兴权
中国高等微结构科技研究中心
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中国科学院
作者
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严立平
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史国良
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乔怡敏
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陆卫
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万明芳
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刘兴权
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穆耀明
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查访星
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林铁
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郭少令
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陈静
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孟祥建
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褚君浩
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杜捷
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物理学报
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一种用于热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法
发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于:本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术,设计一套简便易行...
陈敏挥
孙璟兰
王根水
严立平
史国良
林铁
孟祥建
陈静
郭少令
褚君浩
文献传递
一种原位检测直接带隙Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As分子束外延薄膜材料组分方法和装置
本发明提供了一种在超高真空条件下非接触式的原位Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As组分检测技术,它把分子束外延系统的超高真空条件,与调制光谱系统有机地结合起来,形成了一个测量Al<Sub>x<...
陆卫
刘兴权
穆耀明
杜捷
查访星
乔怡敏
史国良
严立平
欧海疆
万明芳
陈效双
吴小平
沈学础
文献传递
超薄层AlGaAs样品的光调制反射谱研究
1997年
用调制光谱的方法对分子束外延(MBE)生长在GaAs(100)衬底上的一组超薄层本征型AlxGa1-xAs层进行了原位的研究.对厚度在35nm以下的一组样品观察到了若干个跃迁峰,而对厚度在100nm的样品只观察到了一个跃迁峰.观察到的各峰随厚度的改变而变化.
刘兴权
陆卫
穆耀明
乔怡敏
乔怡敏
万明芳
陈效双
严立平
万明芳
关键词:
铝镓砷
MBE
一种原位检测直接带隙AlxGa<Sub>1-x</Sub>As分子束外延薄膜材料组分方法和装置
本发明提供了一种在超高真空条件下非接触式的原位Al<Sub>x</Sub>Ga<Sub>1-x</Sub>As组分检测技术,它把分子束外延系统的超高真空条件,与调制光谱系统有机地结合起来,形成了一个测量Al<Sub>x<...
陆卫
刘兴权
穆耀明
杜捷
查访星
乔怡敏
史国良
严立平
欧海疆
万明芳
陈效双
吴小平
沈学础
文献传递
一种用于热释电薄膜材料的热释电系数测量装置及方法
发明公开了一种用于热释电薄膜材料热释电系数的测量装置及方法。其特征在于:本发明利用了电压法中以正弦函数周期调制样品温度的方法和电流法中利用通用仪器直接测量热释电电流的优点及数字化低频锁相放大器的应用技术,设计一套简便易行...
褚君浩
陈敏挥
孙璟兰
王根水
严立平
史国良
林铁
孟祥建
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