翟玉卫
- 作品数：148 被引量：110H指数：7
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术机械工程一般工业技术更多>>
- 用于光热反射显微热成像的三维位移补偿方法及控制装置
- 本发明提供一种用于光热反射显微热成像的三维位移补偿方法及控制装置。该方法包括：获取被测件位于待补偿位置时的采集图像，及被测件位于参考位置时的参考图像；根据参考图像计算得到第一傅里叶变换，根据采集图像计算得到第二傅里叶变换...
- 刘岩吴爱华王维翟玉卫李灏丁晨荆晓冬
- 微电子器件红外测温中的发射率测量方法研究被引量：3
- 2015年
- 为了使红外热像仪能够准确测量微电子器件中微米级发热结构的温度,并克服由热胀冷缩引起的器件形变问题,提出了一种单温度发射率测量方法。分析了在用传统的双温度发射率测量方法对微电子器件进行红外检测时热胀冷缩对检测结果的影响。在温度变换过程中,器件的形变效应会严重影响温度测量结果。提出了一种针对微电子器件显微红外测试的单温度发射率测量方法。该方法只需将被测件保持在一个固定温度下即可对发射率进行测量。理论分析结果表明,该方法与双温度法在最终的测量结果上是等效的。单温度发射率测量方法可以有效避免微电子器件的形变影响,因而可保证温度测量结果的准确性和可靠性。
- 郑世棋翟玉卫刘霞美
- 关键词：微电子发射率
- 一种图像配准方法、图像配准装置及终端
- 本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种图像配准方法、图像配准装置及终端，所述图像配准方法包括：获取平移图样，根据平移图样上的每个平移点对目标图像进行平移配准，得到多个候选图像，计算各个候选图像与指定的基准图像的互相关度...
- 刘岩翟玉卫邹玉锋荆晓冬李灏乔玉娥丁晨
- 文献传递
- 一种图像配准方法、图像配准装置及终端
- 本发明适用于图像处理技术领域，提供了一种图像配准方法、图像配准装置及终端，所述图像配准方法包括：获取平移图样，根据平移图样的每个平移点对目标图像进行平移配准，得到多个候选图像，计算各个候选图像与指定基准图像的互相关度，将...
- 乔玉娥翟玉卫李灏邹学锋韩伟丁立强马春雷
- 文献传递
- 1mV～10mV直流电压的高准确度校准被引量：2
- 2019年
- 针对1mV～10mV直流电压溯源方面存在的问题,提出采用恒流源、标准取样电阻和标准直流电压表的方法对较小的直流电压进行校准。采用5720A输出稳定的直流电流,用742A作为取样电阻,用8508A作为标准直流电压表,根据欧姆定律进行校准工作,并给出了消除或减小校准过程中存在的各种影响量的途径。对数字多用表8508A进行校准,分别评定了1mV、10mV点的测量不确定度,通过与分压箱法的对比和传递比较法验证,证明了取样电阻法的可行性和准确性,能够满足1mV～10mV小电压校准需求。
- 翟玉卫程晓辉丁立强
- 关键词：直流电压校准取样电阻测量不确定度
- 亚像素图像配准方法、装置及终端设备
- 本申请适用于亚像素图像配准技术领域，提供了亚像素图像配准方法、装置及终端设备，该亚像素图像配准方法包括：获取目标物体的参考图像、目标物体的待配准采集图像；对待配准采集图像和参考图像进行傅里叶变换；对经过傅里叶变换后的待配...
- 刘岩翟玉卫荆晓冬丁立强王维赵丽李茹梁法国
- 多指栅型晶体管热阻测试方法、装置及终端设备
- 本发明提供了一种多指栅型晶体管热阻测试方法、装置及终端设备，该方法包括：获取多指栅型晶体管各个栅指的第一温升，并根据各个栅指的第一温升确定各个栅指对应的温度权值；其中，多指栅型晶体管各个栅指的第一温升由显微红外热像仪测量...
- 翟玉卫郑世棋李灏丁晨丁立强韩伟荆晓冬
- 微波半导体器件噪声参数测量系统校准技术研究
- 吴爱华梁法国郑世棋乔玉娥翟玉卫栾鹏
- 项目所属科学技术领域：该项目属于“计量科学技术”研究领域，计量研究的仪器对象为“微波半导体器件噪声参数测量系统”，简称噪声参数测量系统，属于半导体专用仪器计量技术研究范畴。立项背景：在项目立项时，国内没有自主可控的计量技...
- 关键词：
- 关键词：微波半导体器件校准装置
- 热反射测温系统测温准确度验证方法研究
- 2021年
- 针对热反射测温系统测温准确度验证结果不准确的问题,提出了一种热反射测温系统测温准确度的验证方法。采用以Si为衬底,利用半导体工艺制备金薄膜电阻,通过制作夹具,键合薄膜电阻与夹具的方式研制出验证电阻件。使用温控平台在30~100℃温度下对其进行温度系数考核,结果表明电阻件的阻值与温度有良好的线性关系。通过热电法计算出电阻件温度值,与热反射测温系统测量的电阻件温度值相比较,从而实现热反射测温系统测温准确度验证,保障了热反射测温系统的测温准确性。
- 丁晨翟玉卫刘岩郑世棋吴爱华
- 关键词：温度监测
- 验证热反射测温设备准确性的装置、制备方法及验证方法
- 本发明适用于半导体技术领域，提供了一种验证热反射测温设备准确性的装置、制备方法及验证方法，该装置包括：衬底；所述衬底的上表面覆盖绝缘层；所述绝缘层的上表面设有图形结构，所述图形结构包括金属电阻和两个金属焊盘，其中一个所述...
- 翟玉卫邹学锋郑世棋刘岩李灏乔玉娥梁法国冯亚南
- 文献传递
