翁雷
- 作品数：14 被引量：28H指数：4
- 供职机构：江南计算技术研究所更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信兵器科学与技术理学更多>>
- 某型号车载设备振动试验设计与实施
- 本文介绍了某乍载设备振动试验设计内容和要点。对产品信息剪裁、振动实测数据采集、夹其设计和模志分析等进行了重点研究，通过实测数据与试验标准相结台剪裁获得某车载设备的振动试验条件，并对该设备振动试验结果进行了故障分析。
- 翁雷韩爱芳胡敏
- 关键词：车载设备模态分析
- 面向ATE测试设备的新型集成电路测试激励生成方法
- 本发明公开一种面向ATE测试设备的新型集成电路测试激励生成方法，包括以下步骤：步骤一、构建全片设计模型，步骤二、构建模拟验证环境，步骤三、编写测试文件，步骤四、按照四层结构、在不同验证平台、基于行为级进行仿真生成不同层次...
- 曲芳张永华谢翰威史凌艳翁雷张涛吴利仇志豪
- 基于ATE的测试程序自动生成方法及ATE测试方法
- 一种基于ATE的测试程序自动生成方法及ATE测试方法。测试程序自动生成方法包括：测试程序的自动正向生成方法和配置文件逆向自动生成方法。配置文件的逆向自动生成方法用于对已有的测试程序逆向生成新配置文件和新模板库。测试程序的...
- 曲芳张慧孙国强赵厚鑫陆晔刘岩翁雷
- 文献传递
- 电子产品可靠性增长试验综述被引量：5
- 2018年
- 可靠性增长试验是产品研制阶段提高其可靠性的一种试验手段,其目的是为了充分暴露产品潜在故障,分析故障原因,进而提出改进意见并验证改进的有效性。本文针对国产服务器设计上、工艺上存在的薄弱环节,对其进行可靠性增长试验研究,重点介绍可靠性增长试验方案设计中的关键要素,阐述可靠性增长试验方法及实施步骤,并针对国产服务器可靠性增长试验给出方案设计及应用案例。
- 翁雷廖军孙国强
- 关键词：可靠性增长试验国产服务器
- GJB 150A在某通信装备低温试验中的应用研究被引量：2
- 2013年
- 由于是剪裁标准,GJB 150A发布以来的很长一段时间内,许多使用人员还无法适应,对试验工作造成诸多困扰。为了指导研究人员摆脱菜单式标准的束缚,以GJB 150A为参考标准,根据某通信装备的寿命期剖面和寿命期环境剖面,论述了该装备低温试验的实施要点,对试验程序、试验顺序和试验条件的选择依据及结果给出了详细分析,提出了试验实施的设备与试件要求。
- 翁雷刘岩
- 关键词：GJB
- 基于ATE的测试程序自动生成方法及ATE测试方法
- 一种基于ATE的测试程序自动生成方法及ATE测试方法。测试程序自动生成方法包括：测试程序的自动正向生成方法和配置文件逆向自动生成方法。配置文件的逆向自动生成方法用于对已有的测试程序逆向生成新配置文件和新模板库。测试程序的...
- 曲芳张慧孙国强赵厚鑫陆晔刘岩翁雷
- 文献传递
- GJB 150A湿热试验中若干问题探讨被引量：8
- 2013年
- 作为等效采用美军标810F的GJB 150A是剪裁标准,其湿热试验方法中只有一个加速试验程序,因而要求使用人员对湿热试验方法的适用性、试验顺序和试验设备等相关信息进行收集和数据剪裁。文章简要介绍了湿热环境效应、湿热试验的发展历程,并以某型号计算机防火墙的湿热试验为例对GJB 150A湿热试验中的温湿度剖面、耐湿热适应性、湿热试验方法剪裁和特殊要求等进行了探讨,以期为试验人员提供参考。
- 翁雷白显毅
- 关键词：湿热试验
- 基于GJB 150A-2009的高温试验方法研究
- 2012年
- 介绍了GJB 150换版后的基本信息,以图表形式给出了高温对装备的影响及比重。对GJB150A-2009中的高温试验方法及剪裁指南进行了研究,对高温试验应用要点进行了分析,并以某型号电子装备为例,建立了其寿命期剖面和寿命期环境剖面。
- 翁雷刘岩
- 关键词：GJB高温试验
- 基于加速环境的可靠性指标验证试验被引量：6
- 2010年
- 首先进行了电子产品失效模型的理论研究,并利用加速退化试验技术而研究了某通信产品失效机理一致的应力范围,通过对试验数据进行的统计分析,计算出失效机理一致情况下的激活能。在可靠性指标验证的试验研究中,将试验样品分成若干组分别进行恒温加速验证试验,并将试验结果与现场统计数据进行比较,最终确定产品的MTBF。
- 王剑翁雷张慧
- 关键词：加速退化试验激活能
- 国产多核处理器芯片TDBI技术研究被引量：3
- 2014年
- 随着集成电路的功能越来越复杂,超大规模集成电路的动态老炼越来越成为一项困难的工作。传统针对超大规模集成电路的老炼多采用静态老炼方法,这种方法不能使电路内部的功能节点动作起来,无法保证老炼效果,因此能够实现电路内部所有功能模块全动态激励的TDBI技术越来越受到人们的关注。本文以国产多核处理器芯片为测试对象,为研究多核处理器芯片的TDBI方法进行了芯片老炼测试软硬件系统开发,解决了多核处理器老炼中大功率电源供电、图形存储空间不足等关键技术。
- 翁雷望正气曲芳
- 关键词：超大规模集成电路
