2024年8月24日
星期六
|
欢迎来到维普•公共文化服务平台
登录
|
进入后台
[
APP下载]
[
APP下载]
扫一扫,既下载
全民阅读
职业技能
专家智库
参考咨询
您的位置:
专家智库
>
>
梁文烈
作品数:
2
被引量:1
H指数:1
供职机构:
中国计量科学研究院
更多>>
相关领域:
一般工业技术
机械工程
更多>>
合作作者
陈成仁
中国计量科学研究院
蔡新泉
中国计量科学研究院
席德熊
中国计量科学研究院
李达汉
中国计量科学研究院
作品列表
供职机构
相关作者
所获基金
研究领域
题名
作者
机构
关键词
文摘
任意字段
作者
题名
机构
关键词
文摘
任意字段
在结果中检索
文献类型
2篇
中文期刊文章
领域
2篇
机械工程
2篇
一般工业技术
主题
1篇
单晶
1篇
电阻率
1篇
硅单晶
1篇
毫米波
1篇
半导体
1篇
NBS
1篇
SR
1篇
测量系统
1篇
I
机构
2篇
中国计量科学...
作者
2篇
梁文烈
1篇
李达汉
1篇
席德熊
1篇
蔡新泉
1篇
陈成仁
传媒
2篇
计量学报
年份
1篇
1990
1篇
1989
共
2
条 记 录,以下是 1-2
全选
清除
导出
排序方式:
相关度排序
被引量排序
时效排序
毫米波计量测试技术的进展
被引量:1
1989年
本文介绍毫米波计量标准、精密测量技术的进展,综述了各国国家标准实验室的毫米波测量系统。
陈成仁
席德熊
蔡新泉
梁文烈
关键词:
毫米波
测量系统
NIM-IC型半导体硅单晶电阻率标准样片与NBS的SRM型标准样片的比较实验
1990年
通过对中国计量科学研究院(NIM)与美国国家标准局(NBS)研制的硅单晶电阻率标准样片的比较实验研究,获得了标志着标准样片主要性能的方块电阻直径扫描分布曲线、全片等值分布图和大量有用数据。实验结果表明,NIN标准样片的各项性能均达到NBS同类标准样片的水平,其中,径向电阻率不均匀度和标称值偏差两项的指标还优于NBS标准样片。
李达汉
袁隐
梁文烈
姜云翔
W.A.Keenan
关键词:
硅单晶
电阻率
半导体
全选
清除
导出
共1页
<
1
>
聚类工具
0
执行
隐藏
清空
用户登录
用户反馈
标题:
*标题长度不超过50
邮箱:
*
反馈意见:
反馈意见字数长度不超过255
验证码:
看不清楚?点击换一张