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梁文烈

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：中国计量科学研究院更多>>
相关领域：一般工业技术机械工程更多>>

合作作者

文献类型

  • 2篇中文期刊文章

领域

  • 2篇机械工程
  • 2篇一般工业技术

主题

  • 1篇单晶
  • 1篇电阻率
  • 1篇硅单晶
  • 1篇毫米波
  • 1篇半导体
  • 1篇NBS
  • 1篇SR
  • 1篇测量系统
  • 1篇I

机构

  • 2篇中国计量科学...

作者

  • 2篇梁文烈
  • 1篇李达汉
  • 1篇席德熊
  • 1篇蔡新泉
  • 1篇陈成仁

传媒

  • 2篇计量学报

年份

  • 1篇1990
  • 1篇1989
共 2 条 记 录，以下是 1-2
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排序方式：
毫米波计量测试技术的进展被引量：1
1989年
本文介绍毫米波计量标准、精密测量技术的进展,综述了各国国家标准实验室的毫米波测量系统。
陈成仁席德熊蔡新泉梁文烈
关键词：毫米波测量系统
NIM-IC型半导体硅单晶电阻率标准样片与NBS的SRM型标准样片的比较实验
1990年
通过对中国计量科学研究院(NIM)与美国国家标准局(NBS)研制的硅单晶电阻率标准样片的比较实验研究,获得了标志着标准样片主要性能的方块电阻直径扫描分布曲线、全片等值分布图和大量有用数据。实验结果表明,NIN标准样片的各项性能均达到NBS同类标准样片的水平,其中,径向电阻率不均匀度和标称值偏差两项的指标还优于NBS标准样片。
李达汉袁隐梁文烈姜云翔W.A.Keenan
关键词：硅单晶电阻率半导体
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共1页<1>
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