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李春雷

作品数：6 被引量：1H指数：1
供职机构：华为技术有限公司更多>>
相关领域：自动化与计算机技术经济管理电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 5篇专利
  • 1篇期刊文章

领域

  • 2篇自动化与计算...
  • 1篇经济管理
  • 1篇电子电信

主题

  • 5篇芯片
  • 5篇芯片测试
  • 2篇信号
  • 2篇通用接口
  • 2篇主控
  • 2篇芯片结构
  • 2篇连接器
  • 2篇母板
  • 2篇接口
  • 2篇板卡
  • 2篇测试信号
  • 2篇测试装置
  • 1篇压力感
  • 1篇演进
  • 1篇探针
  • 1篇网络
  • 1篇网络化
  • 1篇按压
  • 1篇IMS
  • 1篇测试设备

机构

  • 5篇华为技术有限...

作者

  • 6篇李春雷
  • 2篇林建军
  • 2篇杨文进
  • 2篇王宇
  • 2篇戈文
  • 2篇李益欢
  • 2篇张欣
  • 2篇李亚
  • 1篇孙斌

传媒

  • 1篇邮电设计技术

年份

  • 2篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2008
  • 1篇2006
  • 1篇2005
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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排序方式：
一种芯片测试装置及测试方法
一种芯片测试装置及测试方法，涉及芯片测试技术领域，解决了现有技术中ATE测试的测试成本过高的问题。具体方案为：提供一种芯片测试装置，包括：包括第一背板(311)，分别与第一背板(311)耦接的上位机(312)和第一测试模...
李春雷苗广田郑和徐一鸣袁博文李亚
以网络化的观点考虑融合业务平台的建设与发展被引量：1
2005年
侧重从执行角度阐述如何通过整体规划和分步实施,实现业务网络向3GIMS整体平移和演进;重点介绍了业务网络化的内涵和实施。
李春雷
关键词：IMS演进
用于芯片测试的插座组件以及芯片测试系统
本公开的实施例提供了用于芯片测试的插座组件以及芯片测试系统。该插座组件包括：第一本体；多个第一探针，穿过第一本体，多个第一探针适于在第一本体的第一表面处受到待测试芯片按压、并且在第一本体的第二表面处按压测试设备，以电连接...
尹鹏飞李春雷孙斌任延增王伟君
一种芯片测试装置及测试方法
一种芯片测试装置及测试方法，涉及芯片测试技术领域，解决了现有技术中ATE测试的测试成本过高的问题。具体方案为：提供一种芯片测试装置，包括：包括第一背板(311)，分别与第一背板(311)耦接的上位机(312)和第一测试模...
李春雷苗广田郑和徐一鸣袁博文李亚
一种芯片通用测试装置及其构建方法
本发明公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接...
张欣杨文进李益欢王宇林建军戈文李春雷
文献传递
一种芯片通用测试装置及其构建方法
本发明公开了一种芯片通用测试装置，包括一测试母板、一测试子板和一通用接口连接器；测试母板唯一地与一种测试平台对应，并与通用接口连接器的一端连接；测试子板唯一地与一种芯片结构对应，与通用接口连接器的另一端连接；通用接口连接...
张欣杨文进李益欢王宇林建军戈文李春雷
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