彭润玲
- 作品数：46 被引量：57H指数：6
- 供职机构：上海理工大学光电信息与计算机工程学院更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划上海市教育委员会重点学科基金更多>>
- 相关领域：机械工程理学一般工业技术文化科学更多>>
- 基于电湿效应的双液体变焦透镜结构最小化分析
- 基于电湿效应的双液体变焦透镜具有结构小、寿命长、功耗低、无机械可动部件的优点,应用前景广阔,受到了业内的广泛关注。本文对双液体变焦透镜结构小型化进行了理论研究,分析出透镜中两种液体界面的极限变化范围,最终得出了圆柱型双液...
- 王大振彭润玲陈家璧庄松林
- 文献传递
- 无机械运动变焦照相透镜组对有限远成像的光学设计方法
- 一种无机械运动变焦照相透镜组的高斯光学设计方法，涉及光学设计技术领域；该设计方法的步骤是：1)确定无机械运动变焦照相透镜组的结构；2)计算两双液体透镜光焦度为零、物距为l<Sub>0</Sub>时，由后一个液体透镜的后表...
- 陈家璧彭润玲绳金侠祝澄瞿晶晶庄松林
- 文献传递
- 一种模拟人眼变焦的双液体变焦透镜光学成像系统及成像方法
- 一种模拟人眼变焦的双液体变焦透镜光学成像系统，圆柱管的上、下端分别与双液体变焦透镜上、下盖密闭连接，双液体变焦透镜上盖的中心位置密闭嵌入固定焦距透镜，固定聚焦透镜之外对称设置两个小孔；双液体变焦透镜下盖中心位置密闭连接平...
- 彭润玲王大振陈家璧庄松林
- 一种对无穷远定焦的无机械运动变焦照相透镜组设计方法
- 本发明公开了一种对无穷远定焦的无机械运动变焦照相透镜组设计方法，其具体步骤是：(1)确定无机械运动变焦照相透镜组的结构；(2)计算两双液体透镜光焦度为零时整个透镜组的焦点位置；(3)计算两双液体透镜前一组曲率半径为正、后...
- 陈家璧彭润玲绳金侠祝澄瞿晶晶庄松林
- 文献传递
- 脉冲激光溅射及富—锆PZT薄膜的性能研究
- 采用脉冲激光溅射方法将PZT、YBCO沉积在LaAlO<,3>
(LAO)基底上,所选择的烧结靶材是Pb(Zr<,0.94>Ti<,0.06>)O<,3>+2％Bi<,2>O<,3>.沉积YBCO和PZT薄膜的基底温度...
- 彭润玲
- 关键词：X射线衍射铁电薄膜
- 文献传递
- 电湿效应双液体变焦透镜性能的分析
- 本论文主要研究一种"电湿效应"液体变焦透镜。透镜部分由折射率不同的两种不浸润溶液体组成。一种是导电性水溶液,另一种是不导电性油,将两种液体加入上下两面透明的短圆筒中。由于圆筒侧壁和上下均进行了疏水性处理,因此导电性水溶液...
- 绳金侠彭润玲陈家璧
- 关键词：接触角
- 文献传递
- 电湿效应变焦光学系统的设计与分析被引量：14
- 2008年
- 与传统的通过电机调节透镜相对位置达到变焦目的设计完全不同,提出了一种设计无机械运动变焦光学系统的新方法。利用亥姆霍兹自由能最小化方法推导出适合双液体变焦透镜的杨氏方程,将以气液固三相系统为基础的传统杨式方程扩展到了液液固三相系统。以圆柱结构的双液体变焦透镜为组分设计了一种新型的变焦光学系统,分析了系统在外加电压作用下使焦距变化的同时又能保持像面不变时必须满足的条件。模拟结果表明该系统的变倍比大约可达到1∶1.5。
- 彭润玲陈家璧庄松林
- 关键词：光学设计变焦系统
- PLD法制备PZT-YBCO结构的铁电薄膜的研究
- 本文利用脉冲准分子激光在LaAlO3单晶基片上淀积了YBCO和Zr/Ti为94/6的PZT铁电薄膜,并通过高频溅射将Pt蒸镀在PZT薄膜上作为上电极;用X射线衍射表征了该多层膜的晶相结构,测量了PZT的铁电性能和介电特性...
- 吴平彭润玲符欣
- 关键词：铁电薄膜X射线衍射
- 文献传递
- 基于龙格库塔法解析双液体变焦透镜的初始特性
- 2016年
- 双液体变焦透镜受电润湿效应驱动,其焦距的变化完全取决于两种液体之间接触面的变化.通过Yang方程推导得到描述接触面的微分方程并以此分析双液体变焦透镜内导电液体、绝缘液体、容器内壁三者间的物理化学性质对初始接触面形貌及初始特性的影响.利用Matlab结合龙格库塔法以数值解描述双液体变焦透镜的接触面特性,并且结合具体试剂的物理性质在ZEMAX中模拟单透镜成像.最后在实验中对比验证得到,存在密度差的双液体变焦透镜接触面的面型为非球面,且经过接触面形貌调制的双液体变焦透镜拥有更好的边缘成像质量,使得双液体变焦透镜在小型化成像系统中有着巨大的应用前景.
- 汤征洋彭润玲陈家璧庄松林
- 关键词：非球面
- 掺杂对富—锆Pb(Zr_xTi_(1-x))O_3薄膜性能的影响
- 2004年
- 采用脉冲激光溅射方法将PZT/YBCO沉积在LaAlO3(LAO)基底上,所选择的烧结靶材分别是不掺杂的Pb(Zr0.94Ti0.06)O3和掺有2%Bi2O3的Pb(Zr0.94Ti0.06)O3。沉积这两种薄膜时所选择的工艺参数均相同。通过X射线衍射分析比较了两种薄膜的结晶状态,利用P-V曲线比较了两种薄膜的电学性质,并测量出这两种薄膜的介电常数与频率(ε-f)以及介电损耗与频率(tanδ-f)的关系曲线。
- 彭润玲吴平
- 关键词：PZTX射线衍射介电常数
