您的位置: 专家智库 > >

贺香荣

作品数:24 被引量:33H指数:3
供职机构:中国科学院上海技术物理研究所更多>>
发文基金:国家自然科学基金国家重点基础研究发展计划中国科学院知识创新工程青年人才领域前沿项目更多>>
相关领域:电子电信理学一般工业技术自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 14篇专利
  • 9篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 9篇电子电信
  • 1篇自动化与计算...
  • 1篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 7篇探测器
  • 6篇杜瓦
  • 5篇冷头
  • 5篇红外
  • 4篇光阑
  • 4篇光谱
  • 4篇光学
  • 4篇红外探测
  • 4篇红外探测器
  • 3篇透射
  • 3篇透射光
  • 3篇透射光谱
  • 3篇热学
  • 3篇光学材料
  • 3篇INGAAS...
  • 2篇氮气保护
  • 2篇弹簧弹力
  • 2篇低温胶
  • 2篇点源
  • 2篇电机

机构

  • 24篇中国科学院
  • 1篇上海科技大学
  • 1篇中国科学院大...

作者

  • 24篇贺香荣
  • 13篇汪洋
  • 13篇张亚妮
  • 10篇范广宇
  • 10篇陈安森
  • 7篇龚海梅
  • 5篇王小坤
  • 4篇李淘
  • 3篇李雪
  • 3篇张燕
  • 3篇莫德锋
  • 2篇庄馥隆
  • 2篇张文静
  • 2篇徐勤飞
  • 2篇刘大福
  • 2篇季鹏
  • 2篇杨波
  • 2篇曾志江
  • 2篇曾智江
  • 1篇吴小利

传媒

  • 5篇光学与光电技...
  • 2篇红外与激光工...
  • 1篇表面技术
  • 1篇光电子

年份

  • 1篇2023
  • 1篇2022
  • 1篇2019
  • 4篇2016
  • 2篇2015
  • 7篇2014
  • 4篇2013
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
24 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
结电容对不同光敏元尺寸InGaAs探测器I-V特性测试的影响
2019年
I-V特性是光伏探测器最重要的表征手段之一。用电压扫描方式对光敏元尺寸为Φ 5 mm的InGaAs探测器进行I-V测试时,在负压方向电流出现了震荡现象。分析认为采样时电压处在变化中,变化的电压会引起积累在P-N结空间电荷和扩散区电荷的改变,形成P-N结电容效应而导致。本文通过测试不同光敏元尺寸探测器的零偏电阻、暗电流和电容,讨论了光敏元尺寸对InGaAs探测器I-V特性测试的影响。结果表明:随着光敏元尺寸增大,探测器的零偏电阻减小,暗电流增大,电容增大。并分析了InGaAs探测器的P-N结电容效应及其对I-V特性测试的影响,当零偏压结电容C >10?8f @2 kHz时,I-V特性曲线在负压方向电流出现了震荡现象,测试过程中可通过限流设置或从正偏压至反偏压测试两种方式避免电流振荡现象,实现大光敏元Φ 5 mm InGaAs探测器I-V特性测试。
贺香荣李淘徐勤飞杨波
关键词:光伏探测器INGAAS探测器I-V特性
一种低温应用的弹性测试插座
本发明公开了一种低温应用的弹性测试插座。包括导热底座、PCB线路板、弹性插针、弹性针导向板和组件针导向板等零件。弹性针导向板和组件针导向板通过定位销钉实现精密对准,焦平面组件针脚插入组件针导向板后与安装于弹性针导向板内的...
莫德锋刘大福贺香荣
文献传递
InGaAs线列探测器的I-V特性研究被引量:5
2008年
采用p-InP/n-InGaAs/n-InP外延异质结材料,制备了InGaAs线列台面探测器,并测试了器件的I-V曲线、响应率和噪声。通过拟合I-V曲线得到了器件的理想因子和串联电阻,并分析了它们对器件响应率和噪声的影响。结果表明:InGaAs吸收层外延质量与器件的理想因子相关联,影响器件的噪声,但对器件的响应率影响不大。计算了无光照和有光照情况下串联电阻Rs取不同值时器件的I-V曲线,得到串联电阻较小时其作用可忽略,但串联电阻会表观上增大零偏电阻,且串联电阻越大,损失的光电流越多。实验结果证明该方法对改进器件性能有一定的参考意义。
唐恒敬吴小利张可锋汪洋贺香荣李雪龚海梅
关键词:INGAAS探测器串联电阻噪声
一种带真空检测的测试杜瓦
本发明公开了一种带真空检测的测试杜瓦,由金属材料的杜瓦内筒、杜瓦外筒和杜瓦窗口帽组成的真空密封容器,在杜瓦窗口帽上焊接真空检测阀,真空检测阀耦合真空计,从而实现杜瓦真空检测。该结构杜瓦的优点在于充分利用测试杜瓦的窗口帽和...
汪洋陈安森张亚妮贺香荣范广宇龚海梅
文献传递
结电容对InGaAs探测器I-V特性测试影响
I-V 特性是光伏探测器件重要的电学特性,是探测器最重要的表征手段之一.用电压扫描方式对光敏元尺寸为&Phi,5mm 单元InGaAs 探测器进行I-V 测试时,在负压方向电流出现了震荡现象.I-V 测试过程中,InGa...
贺香荣李淘徐勤飞杨波
基于LabVIEW的短波红外焦平面相对响应光谱测试系统被引量:4
2013年
搭建了一套适用于短波红外焦平面的相对响应光谱自动测试系统。系统测试程序在LabVIEW虚拟仪器开发环境下完成,具备光栅单色仪的控制、数据采集处理与存储等功能。系统采用单光路标准代替法实现了相对响应光谱的校准。测试了InGaAs短波红外线列焦平面,得到了每个像元校准后的相对响应光谱,提取了峰值波长、截止波长等参数在线列上的分布情况,实现了对焦平面全像元的相对响应光谱测试。
陈郁贺香荣邵秀梅方家熊
关键词:光栅单色仪虚拟仪器
石墨烯喷涂与化学镀镍黑化冷屏性能对比
2022年
目的 探索高效的冷屏黑化技术,获得石墨烯环氧胶混合喷涂与化学镀镍黑化后的红外探测器冷屏的光学特性、真空放气特性。方法 采用傅里叶光谱仪对比测试不同粗糙度的基底,以及基底经过化学镀镍、石墨烯喷涂黑化后的样品在2.5~15μm波段内的镜面反射率,利用扫描电子显微镜观察分析黑化表面形貌。采用小孔流导法测试对比不同粗糙度基底250℃除气前后的放气规律,以及除气后基底、化学镀镍、石墨烯喷涂黑化样品的出气率。结果 化学镀镍黑化反射率受基底粗糙度的影响大,若在喷砂面黑化,镜面反射率低于2%。石墨烯喷涂的黑化涂层厚,吸收率不受基底表面粗糙度影响,镜面反射率低于0.4%,但镀层的表面结合力受到基底粗糙度的影响。对放气特性进行分析发现,高温除气可以去除化学吸附气体分子,再次暴露大气吸附的气体多为物理吸附。黑化层对出气率的影响远大于基底粗糙度,石墨烯黑化层的微孔洞结构使初始出气率大于镀黑镍约1个数量级。结论 石墨烯与环氧胶混合喷涂黑化的消杂散光能力显著优于化学镀镍黑化,但总放气量高,采用适当的低出气率处理,改进其真空性能是在红外组件应用中的关键。
范崔莫德锋王小坤贺香荣杨力怡曾智江李雪
关键词:石墨烯反射率出气率
红外滤光片低温光谱特性研究被引量:3
2013年
低温光谱是红外滤光片一项重要的考核参数,采用傅里叶光谱仪测试了红外滤光片在安装滤光片架前后的常温和85K低温光谱,同时利用有限元分析方法模拟了85K的红外滤光片安装滤光片支架前后的形变和应力,分析和比较了试验结果,为进一步优化红外滤光片的可靠性设计提供了参考。
汪洋王小坤陈安森张亚妮贺香荣范崔
关键词:热应力
带真空检测的测试杜瓦
本专利公开了一种带真空检测的测试杜瓦,由金属材料的杜瓦内筒、杜瓦外筒和杜瓦窗口帽组成的真空密封容器,在杜瓦窗口帽上焊接真空检测阀,真空检测阀耦合真空计,从而实现杜瓦真空检测。该结构杜瓦的优点在于充分利用测试杜瓦的窗口帽和...
汪洋陈安森张亚妮贺香荣范广宇龚海梅
一种光学材料光谱测试用低温杜瓦
本发明公开了一种光学材料光谱测试用低温杜瓦,由内外金属圆筒组成的真空密封容器,在过渡冷头上依次安装杜瓦冷头、测试样品、力学缓冲环和磁性压环组成测试样品固定结构。该结构的优点在于充分利用磁性压环与杜瓦冷头之间的磁性力,将测...
汪洋陈安森贺香荣张亚妮范广宇龚海梅
文献传递
共3页<123>
聚类工具0