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薛进敏
作品数:
8
被引量:44
H指数:4
供职机构:
中国科学院物理研究所
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合作作者
赵玉珍
中国科学院物理研究所
辛仁轩
清华大学
吕佩德
中国科学院物理研究所
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年份
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2000
1篇
1999
3篇
1997
2篇
1996
1篇
1995
共
8
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ICP-AES法同时测定纯铁中八种杂质元素
被引量:19
1999年
本文研究了用ICP-AES法同时测定纯铁中8种杂质元素:Cr、Cu、Mg、Mn、Mo、Ni、Ti、V的分析方法。研究了铁基体元素对被测元素光谱线的光谱干扰与物理干扰,采用背景扣除法与基体匹配法进行校正。被测元素的检出限为0.4-3.0μg/L,合成试样的回收率为91%-110%,杂质元素含量为0.0003%-0.05%时,测量的相对标准偏差<9%。方法简便、准确、结果满意。
赵玉珍
薛进敏
关键词:
ICP
AES
纯铁
钼
钒
端视电感耦合等离子体光谱法测定高纯水中微量铜和铁
被引量:6
1996年
本文报道了用高灵敏度的电感耦合等离子体光谱法(ICP-AES)同时测定高纯水中微量铜和铁。光谱仪配有端视等离子体炬和旋流雾室进样装置。方法快速、简便,测定水中铜和铁的检出限分别为0.0007mg/L和0.0005mg/L。本法已用于反应堆用高纯水的分析。
辛仁轩
赵玉珍
薛进敏
关键词:
ICP
铁
ICP-AES法同时测定硼铁中的主要成分及杂质
被引量:8
1997年
本文研究了用ICP-AES法同时测定硼铁中的主要成分B、Fe及杂质元素AI、Mn、Si的方法。采用碱熔融法(Na2O2+NaOH)分解样品,选Cd作为内标元素。方法简便、快速、准确。合成试样的回收率为97.8%一102.0%,样品测定的相对标准偏差小于1%,用于样品分析,结果满意。
赵玉珍
吕佩德
薛进敏
关键词:
ICP-AES
硼铁
锰
钕铁硼
永磁材料
ICP-AES法同时测定掺质钒酸钙晶体中的钙、钒、钕、镱、锗
被引量:4
1997年
本文采用ICP-AES法同时测定了掺质Ca3(VO4)2晶体中Ca、V、Nd、Yb、Ge的含量.选择了合适的分析谱线和积分时间,试样用硝酸溶解后直接测定。方法简便、准确、快速。合成试样中各被测元素的回收率为98%-104%。相对标准偏差<4.0%,Nd、Yb、Ge的检出限为0.0002一0.18μg/mL。
薛进敏
赵玉珍
关键词:
激光晶体
钙
钕
镱
锗
ICP-AES法测定Nb:SrTiO_3晶体及功能陶瓷材料中的铌含量
被引量:4
2000年
本文报导了用ICP-AES法直接测定掺铌钛酸锶晶体及功能陶瓷材料(Nb:SrTiO_3)中铌含量的分析方法。研究了试样的分解方法、铌分析线的选择、Nn:SrTiO_3基体的干扰及试液的稳定性。所选三条铌分析线的检出限分别为0.0042μg/mL、0.0015μg/mL、0.0013μg/mL。合成试样回收率为98.7%~100.9%。铌含量为0.1%1.0%时,测量的相对标准偏差<1.5%。方法简便、准确,用于样品分析,结果满意。
赵玉珍
薛进敏
关键词:
ICP-AES
铌
功能陶瓷材料
等离子体发射光谱法测定单晶硅中微量锗
薛进敏
关键词:
锗
发射谱
单晶硅
二维电荷注入阵列检测器等离子体光谱仪的分析性能
被引量:4
1996年
报道了一种新型发射光谱仪的分析性能的试验研究,该仪器具有二维电荷注入检测器(CID)和端视电感耦合等离子体炬管。进行了分析线的选择、多元素标准曲线的绘制及载气压力对谱线影响等项实验,结果表明该仪器有良好的分析性能。
辛仁轩
赵玉珍
薛进敏
关键词:
等离子体光谱仪
等离子体发射光谱法测定单晶硅中微量锗
被引量:1
1997年
本文阐述了用等离子体发射光谱法测定单晶硅中微量锗的方法。试验了三种样品制备方法,结果表明,样品溶解于硝酸加氢氟酸中,除去硅后直接测定铝的方法最好,其检出限是0.0237μg/mL,合成样品的回收率为99.9%—100.2%,相对标准偏差小于3.6%。
薛进敏
关键词:
单晶硅
ICP-AES
电感耦合等离子发射光谱法
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