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王慧敏

作品数：11 被引量：0H指数：0
供职机构：中国计量科学研究院更多>>
相关领域：电子电信机械工程环境科学与工程一般工业技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇会议论文
  • 3篇专利
  • 1篇科技成果

领域

  • 7篇电子电信
  • 2篇机械工程
  • 1篇轻工技术与工...
  • 1篇环境科学与工...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 5篇光纤
  • 3篇偏振
  • 3篇偏振相关
  • 3篇偏振相关损耗
  • 3篇无源器件
  • 3篇回波损耗
  • 3篇光功率
  • 3篇光无源器件
  • 3篇测量方法
  • 2篇矩阵
  • 2篇矩阵法
  • 2篇功率计
  • 2篇光功率计
  • 2篇光器件
  • 2篇波导
  • 2篇测光
  • 1篇低温辐射计
  • 1篇电极
  • 1篇电极结构
  • 1篇织物

机构

  • 11篇中国计量科学...

作者

  • 11篇王慧敏
  • 10篇张志新
  • 10篇李健
  • 8篇姚和军
  • 5篇熊利民
  • 3篇徐楠
  • 3篇李建威
  • 3篇林延东
  • 1篇邓玉强
  • 1篇吕亮
  • 1篇李平
  • 1篇王煜
  • 1篇郑春弟
  • 1篇梁宇
  • 1篇姜晓梅

传媒

  • 2篇2009年中...
  • 1篇2008'激...
  • 1篇新世纪全国紫...
  • 1篇中国计量测试...

年份

  • 1篇2014
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 3篇2009
  • 3篇2008
  • 1篇2006
  • 1篇2001
共 11 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
光无源器件回波损耗测试方法研究
介绍了一种新型光回波损耗测试方法，以光环形器作为核心器件代替常用的光耦合器，同时结合剪断法进行光器件回波损耗的精确测量。有效避免了采用光耦合器所引入的光信号于耦合器内双向传输因干涉产生的测量误差。
李健张志新姚和军王慧敏徐楠李建威
关键词：光环形器光耦合器
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背覆金属层式共面波导电极结构分析
本文主要研究了以钽酸锂电光调制器为对象的共面波导(基准阻抗为50Ω)结构参数之间的关系问题。采用保角交换理论对电极结构、晶体厚度及特性参数进行数值分析，研究结果表明：电极加工宽度的微小变化会对特性阻抗产生较大的影响，中心...
李建威徐楠李健张志新王慧敏
关键词：共面波导电极结构数值仿真
一种光器件回波损耗测量方法
一种光器件回波损耗测量方法，包括：步骤1：取一三端口光纤环形器，先在三端口光纤环形器的第二端口接激光光源，在第三端口接标准光功率计，测量其第二端口到第三端口的器件光功率插入损耗；步骤2：再在环形器的第一端口接一激光光源，...
姚和军李健张志新熊利民王慧敏
文献传递
一种光器件回波损耗测量方法
一种光器件回波损耗测量方法，包括：步骤1：取一三端口光纤环形器，先在三端口光纤环形器的第二端口接激光光源，在第三端口接标准光功率计，测量其第二端口到第三端口的器件光功率插入损耗；步骤2：再在环形器的第一端口接一激光光源，...
姚和军李健张志新熊利民王慧敏
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抗紫外织物测试结果的统计分析
李平王煜郑春弟王慧敏
关键词：抗紫外织物织物测试统计分析
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光纤激光功率溯源至低温辐射计方法
介绍了1.3μm/1.5μm 光纤激光功率溯源至低温辐射计的测量方法，与传统溯源至绝对辐射计的方法相比较，最终利用低温辐射计法通过633nm波长稳定光源标定陷阱式探测器，然后用陷阱式探测器将量值传递到陷阱式量传探测器，最...
李健张志新林延东姚和军王慧敏
关键词：激光功率低温辐射计光纤激光测量方法
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光无源器件偏振相关损耗测试方法研究
随着高速大容量光网络的发展，偏振相关损耗(PDL)已经成为光无源器件的一项重要标准指标。在偏振不受限制且不会随机改变的光网络中，器件的PDL可能会出现出人意料的累积，从而降低网络传输质量，甚至导致网络故障。本文介绍了目前...
李健姚和军张志新熊利民王慧敏
关键词：光无源器件
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偏振相关损耗标准器
一种偏振相关损耗标准器，其特征在于，包括：一输入光纤；一脊型波导，该脊型波导的两个端面具有隔离槽，该脊型波导一端的端面与输入光纤连接；一输出光纤，该输出光纤与脊型波导的另一端的端面连接。本发明采用波导器件结构，制备方法简...
李健张志新邓玉强姚和军王慧敏熊利民
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利用相关光子技术建立光电探测器量子效率测量装置的研究与应用
吕亮林延东李健姜晓梅张志新梁宇王慧敏
“相关光子”又可称为“纠缠光子”或“孪生光子”，也就是两个光子同时产生，在时间和空间上高度相关，严格满足动量守恒和能量守恒关系。相关光子的独有特性，近年来被应用到光辐射计量中来，用于绝对定标光电探测器的量子效率，成为一种...
关键词：
关键词：光电探测器
光无源器件偏振相关损耗测试方法研究
介绍了目前种广泛使用的测试无源光器件偏振相关损耗(PDL)的方法：偏振态扫描法和目勒(Mueller)矩阵法，并通过试验对这两种方法进行了比较。试验结果显示偏振扫描法能够更有效、准确的进行PDL的测试，但其对设备及环境等...
李健张志新李建威徐楠姚和军熊利民王慧敏
关键词：计量学光无源器件偏振相关损耗
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