时万春
- 作品数：13 被引量：21H指数：2
- 供职机构：中国科学院计算技术研究所更多>>
- 发文基金：“八五”国家科技攻关计划更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 存储器测试技术发展
- 时万春
- 关键词：存储器集成电路
- VLSI自动测试系统技术最新发展被引量：1
- 1997年
- 回顾了ＶＬＳＩ自动测试系统（ＡＴＳ）发展历程，介绍了ＶＬＳＩＡＴＳ发展现状，并提出了未来发展中可能引起ＡＴＳ发展突破的若干新技术和新思想。
- 时万春
- 关键词：VLSI自动测试系统一体化测试仪
- 系统芯片(SOC)测试
- SOC是一种比较有特点的集成电路,它不能像传统的集成电路那样进行测试.除了超过10亿位的数字通讯链路和已达千兆赫的工作速度,一个SOC可能已经包括了所有类型的逻辑电路、多种CPU、各种模拟模块和几百种不同类型的存储器.特...
- 时万春
- 关键词：SOC
- 文献传递
- 系统芯片(SOC)测试
- SOC是一种比较有特点的集成电路,它不能像传统的集成电路那样进行测试。除了超过10亿位的数字通讯链路和已达千兆赫的工作速度,一个SOC可能已经包括了所有类型的逻辑电路、多种CPU、各种模拟模块和几百种不同类型的存储器。特...
- 时万春
- 关键词：SOC
- 文献传递
- IC工程测试和生产测试
- IC工程测试和生产测试直接涉及IC设计、生产产品的性能、指标、应用和价格,并最后直接面对市场和效益的考验和取向。专题发言对IC产业化测试进行了较为完整和系统的阐述,特别介绍和分析了IC产业化测试和验证的几个重要流程。IC...
- 时万春吉国凡陈大为刘鸿琴刘学森孙加兴
- 文献传递
- 测试图形程序的进一步研究：PATTERN抽象及再实现被引量：2
- 1996年
- 异构自动测试仪（ＡＴＥ）之间的测试图形程序移植是一项难度很高的工作。通常采用的方法是对测试图形向量进行逐条直移。这样，如果在异构ＡＴＥ测试图形语言之间找不到对应的语言成分，将导致实际有可能成功的移植失败。并且，即使这样移植成功，移植的测试图形程序可保证词法和语法的正确性，但在大多数情况下，这些程序仍不能在目标ＡＴＥ上正确运行。本文在详细分析了传统移植方法后，提出一种基于异构ＡＴＥ功能对等的移植方法，使测试图形程序在移植前后保持其意义的一致性。利用这种方法，可以大大提高测试图程序的可移植性。
- 孙育宁时万春
- 关键词：软件工程
- 一个接集成电路设计和测试的系统－－Ｔｅｌｉｎｋ
- 王勇时万春
- 关键词：测试系统计算机模拟电路设计数据处理
- VLSI测试系统的总定时精度
- 时万春
- 关键词：超大规模集成电路故障检测
- 面向21世纪的微电子测试技术
- ＜正＞ 引言 微电子技术最显著的进步在于集成电路的发展。在未来的15年,半导体集成电路的发展仍将决定电子业竞争的根本,支持这个时代的将是半导体的演进,其中的硅技术作为半导体的中坚地位不会改变。所以迄今为止,为提高IC性能...
- 时万春
- 文献传递
- 测试系统仿真器的设计与验证
- 马玉海时万春
- 关键词：仿真器测试系统模块化程序程序系统脱机操作调试方法
