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唐万荣

作品数：2 被引量：1H指数：1
供职机构：电子科技大学通信抗干扰技术国家级重点实验室更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇低电压
  • 1篇电路
  • 1篇电压
  • 1篇数字电路
  • 1篇CMOS数字...

机构

  • 1篇电子科技大学

作者

  • 1篇胡剑浩
  • 1篇唐万荣
  • 1篇唐青
  • 1篇李妍

传媒

  • 1篇信号处理

年份

  • 1篇2012
共 2 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
低电压下CMOS数字电路概率模型研究被引量：1
2012年
为解决数字电路低功耗问题,电路工作电压被不断降低,导致电路逻辑器件呈现概率特性。本文提出了低电压下CMOS数字电路的错误概率模型,并完成硬件电路测试验证。本文首先详述了深亚微米(DSM)量级的门电路及模块在低电压供电条件下导致器件出错的因素,结合概率器件结构模型推导基本逻辑门概率模型,并提出了状态转移法用于完成由门级到模块级的概率分析模型;我们搭建硬件平台对CMOS逻辑芯片进行了低供电压测试,通过分析理论推导结果与实测结果,验证并完善了分析模型。实验结果表明,由状态转移法推导的电路概率模型符合电路实际性能,从而为构建低电压下数字电路概率模型提供了可靠分析模型。
唐青胡剑浩李妍唐万荣
关键词：低电压
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