刘迎辉
- 作品数：19 被引量：8H指数：1
- 供职机构：中国空间技术研究院更多>>
- 相关领域：电气工程电子电信自动化与计算机技术航空宇航科学技术更多>>
- 一种宇航用FC-AE-1553PON型网络通信控制方法
- 一种宇航用FC‑AE‑1553PON型网络通信控制方法，FC‑AE‑1553PON型网络高速通信控制器包含FC‑AE‑1553NT通信控制核、EMIF通信控制核。FC‑AE‑1553NT通信控制核通过FC‑AE‑1553...
- 刘迎辉怀娜娜张竞择赵岩王博常明超段超罗磊胡灯三谢军肖爱斌邓峥张洪伟
- 部分三模冗余SRAM型FPGA的单粒子翻转特性的测试方法
- 本发明提供一种部分三模冗余SRAM型FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截...
- 于庆奎罗磊张大宇刘迎辉唐民祝名
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- 一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置
- 本发明涉及一种基于FPGA技术的CMOS图像传感器测试装置，特别是一种基于EMVA1288测试标准的性能测试平台，属于图像传感器测试技术领域。本发明的测试装置是基于EMVA1288标准设计的，性能参数的定义和测试方法都比...
- 张大宇宁永成刘迎辉齐向昆张海明张红旗蒲瑞民刘艳秋王贺丛山
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- 一种用于空间飞行验证平台的供配电控制系统及控制方法
- 一种用于空间飞行验证平台的供配电控制系统及控制方法，针对未来在轨批量化飞行试验的供配电可靠性需求，提出了一种支持多目标集中供配电管理的高可靠实时控制系统设计和控制方案。本发明先提出了一种用于飞行验证的供配电控制系统设计，...
- 张绍林刘迎辉肖爱斌邓峥魏志超王喆张洪伟刘辉张竞择汪洋
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- Xilinx低等级FPGA高可靠应用的升级试验方法研究被引量：6
- 2014年
- 随着微电子设计与制造水平的不断提高,部分低质量等级集成电路逐渐地具备了应用于高可靠性要求的军事和宇航领域的能力。Xilinx FPGA作为高性能逻辑器件的典型代表,具有较高的设计和工艺成熟度,在军事和宇航领域有着广阔的应用前景。全面梳理了Xilinx FPGA质量等级的定义规则,详细介绍了Xilinx不同质量等级FPGA的厂家保证情况,提出了Xilinx低质量等级FPGA面向高可靠应用的升级试验方法。
- 刘迎辉朱恒静张大宇唐民宁永成段超
- 关键词：现场可编程门阵列高可靠性
- 一种用于飞行验证平台的供电系统和方法
- 本发明公开了一种用于飞行验证平台的供电系统，外部一次电源经DC/DC1电源模块转换后为控制FPGA2供电；电压电流检测模块B采集DC/DC1电源模块输出的电压电流值，并反馈给控制FPGA1；控制FPGA1根据DC/DC1...
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- 一种检测和校正存储器双错的低冗余加固方法被引量：1
- 2014年
- 为了提高宇航用存储器的抗单粒子翻转能力,本文对传统的单错误修正、双错误探测(Single Error Correction and Double Error Detection,SEC-DED)码的构造进行了改进和优化,给出了构建单错校正、双错检测、相邻双错校正(Single Error Correction,Double Error Detection and Double Adjacent Error Correction,SEC-DED-DAEC)码奇偶校验矩阵的构造规则。通过适当地增加奇偶校验矩阵列向量的权重和、改变奇偶校验矩阵列向量顺序的方式,提出了一种具有新特征结构的SEC-DED-DAEC码,它可以修正任意相邻两位错误。实验结果表明,提出的SECDED-DAEC码是一种有效的宇航用存储器抗单粒子翻转加固措施,其冗余开销基本与传统的SEC-DED码相同,误码率低于国际同类文献的结果。
- 祝名朱恒静刘迎辉于庆奎唐民
- 关键词：存储器抗辐射加固
- 一种测试部分三模冗余FPGA的单粒子翻转特性的方法
- 本发明提供一种部分三模冗余SRAM型FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截...
- 于庆奎罗磊张大宇刘迎辉唐民祝名
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- SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法
- SRAM型FPGA单粒子效应试验系统及方法包括：单片机处理器、RS232接口电路、USB接口电路、测试FPGA以及存储单元，可以用于SRAM型FPGA的配置存储器和BRAM的故障注入试验，实现SRAM型FPGA的单粒子功...
- 刘迎辉张大宇于庆奎唐民宁永成孟猛张海明李鹏伟罗磊
- 文献传递
- 部分三模冗余SRAM型FPGA的单粒子翻转特性的测试方法
- 本发明提供一种部分三模冗余FPGA的单粒子翻转特性的测试方法，包括：在设定的注量率下辐照被测器，当器件输出特性不正确且停止粒子束辐照T1时间内器件功能未恢复正常，则记录1次单粒子错误，多次重复后计算单粒子错误截面；使粒子...
- 于庆奎罗磊张大宇刘迎辉唐民祝名
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