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游志强

作品数：19 被引量：0H指数：0
供职机构：华为技术有限公司更多>>

合作作者

文献类型

  • 19篇中文专利

主题

  • 6篇芯片
  • 5篇电路
  • 4篇电路板
  • 4篇引脚
  • 4篇扫描链
  • 4篇互连
  • 3篇逻辑
  • 3篇加载
  • 3篇加载方法
  • 2篇代码
  • 2篇单板
  • 2篇地址线
  • 2篇读写
  • 2篇端口
  • 2篇短路
  • 2篇短路故障
  • 2篇信号
  • 2篇信号线
  • 2篇以太
  • 2篇以太网

机构

  • 19篇华为技术有限...

作者

  • 19篇李颖悟
  • 19篇游志强
  • 6篇袁标
  • 3篇徐光晓
  • 3篇兰波

年份

  • 1篇2008
  • 2篇2007
  • 3篇2006
  • 6篇2005
  • 2篇2004
  • 5篇2003
共 19 条 记 录，以下是 1-10
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排序方式：
一种电路板设计方法
本发明涉及电路板设计方法。一种电路板设计方法，其将启动程序和应用程序合并到同一个FLASH芯片中，通过与FLASH芯片相邻的CPU完成对FLASH芯片中应用程序的加载。由于取消插装的FLASH芯片，并且通过CPU的JTA...
袁标李颖悟游志强
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一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法
本发明涉及一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法。一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法，其特征在于包括以下步骤：形成透明元件的特征文件，将特征文件加载到测试系统；将网表加载到测试系统；测试系统根据透明元件的特征...
游志强李颖悟
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一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法
本发明涉及一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法。一种边界扫描互连测试中对透明元件的处理方法，其特征在于包括以下步骤：形成透明元件的特征文件，将特征文件加载到测试系统；将网表加载到测试系统；测试系统根据透明元件的特征...
游志强李颖悟
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一种对FLASH内部单元进行测试的方法
一种对FLASH内部单元进行测试的方法，包括：将FLASH内部单元均匀分为n块，按地址升序依次为B<Sub>0</Sub>、B<Sub>1</Sub>、…、B<Sub>n－1</Sub>，每一个块的大小为m，然后执行下列...
李颖悟游志强
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基于边界扫描结构的器件功能自动测试方法
本发明公开了一种基于边界扫描结构的器件功能自动测试方法，该方法首先获取被测试器件功能的逻辑关系，根据该逻辑关系确定测试矢量输入文件和测试正确响应文件，再利用测试矢量输入文件为被测试器件测试激励输入引脚赋值，并将所述引脚的...
李颖悟游志强兰波徐光晓
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一种非边界扫描器件逻辑簇故障测试方法
本发明涉及一种非边界扫描器件逻辑簇故障测试方法。一种非边界扫描器件逻辑簇故障测试方法，其特征在于通过与非边界扫描器件逻辑簇相邻的边界扫描BS(BoundaryScan)器件向该非边界扫描器件逻辑簇输出测试激励并捕获测试响...
李颖悟游志强兰波徐光晓
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一种边界扫描芯片容错测试方法及系统
本发明涉及在容错测试中边界扫描芯片故障插入的一种方法和系统。一种边界扫描芯片容错测试方法，其特征在于包括如下步骤：向边界扫描芯片发送测试命令，模拟边界扫描芯片故障状态；将模拟故障状态与边界扫描芯片正常状态做对比，得出测试...
李颖悟游志强
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一种FLASH芯片的加载方法和JTAG控制器
一种FLASH芯片加载方法，其特征在于通过JTAG控制器发送命令和数据给与欲加载FLASH芯片相邻的边界扫描器件，进而将数据传送到该FLASH芯片而实现加载的目的。本发明相对于以前的各种加载方式，只需要在普通PC机上插一...
李颖悟袁标游志强
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一种外围互连线的测试方法
一种外围互连线的测试方法，包括下列步骤：固定一个地址，采用一组全“1”数据和一组全“0”数据测试FLASH数据线的呆滞型故障。固定地址，用“10”三角形数据矩阵测试数据线；然后选用一组相异地址，用走步1数据矩阵测试数据线...
李颖悟游志强
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一种FLASH芯片的加载方法和JTAG控制器
一种FLASH芯片加载方法，其特征在于通过JTAG控制器发送命令和数据给与欲加载FLASH芯片相邻的边界扫描器件，进而将数据传送到该FLASH芯片而实现加载的目的。本发明相对于以前的各种加载方式，只需要在普通PC机上插一...
李颖悟袁标游志强
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