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徐玮

作品数:4 被引量:17H指数:1
供职机构:中国电子科技集团第十四研究所更多>>
相关领域:电子电信金属学及工艺更多>>

文献类型

  • 2篇期刊文章
  • 1篇会议论文
  • 1篇专利

领域

  • 3篇电子电信
  • 1篇金属学及工艺

主题

  • 1篇电子组装
  • 1篇多层印制板
  • 1篇印制板
  • 1篇制板
  • 1篇天线
  • 1篇天线单元
  • 1篇热膨胀
  • 1篇热膨胀系数
  • 1篇椎体
  • 1篇微组装
  • 1篇无损检测
  • 1篇喇叭
  • 1篇喇叭天线
  • 1篇检测法
  • 1篇封装
  • 1篇封装技术
  • 1篇X-RAY
  • 1篇X-射线
  • 1篇AIP
  • 1篇BGA

机构

  • 4篇中国电子科技...
  • 1篇南京航空航天...

作者

  • 4篇徐玮
  • 3篇禹胜林
  • 1篇胡永芳
  • 1篇刘刚
  • 1篇薛松柏
  • 1篇王锋
  • 1篇张兆华
  • 1篇崔凯
  • 1篇夏侯海

传媒

  • 1篇电子工艺技术
  • 1篇电焊机
  • 1篇第十六届全国...

年份

  • 1篇2023
  • 2篇2008
  • 1篇2005
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
微组装焊接中应力控制方法
2008年
新一代电子产品朝着微型化、轻型化、多功能、高集成、高可靠方向发展,因此,微组装工艺应用也越来越广泛。在微组装工艺中,由于强度、导热等问题,应用最广泛的是焊接工艺。考虑到成本、导热等问题,对焊接技术提出了更高的要求。在微组装工艺兼容性基础上,对用热膨胀系数相差较大的材料进行了焊接技术试验研究,结果表明:采用低熔点焊料能够实现不同种材料之间的可靠性焊接,有效缓和焊后残余应力,并且能够满足微组装组件的使用要求。
徐玮禹胜林刘刚
关键词:微组装热膨胀系数
BGA封装器件焊点缺陷X-射线检测法被引量:17
2005年
讨论了BGA器件焊接的特点,并对BGA器件焊接过程中产生的缺陷进行了阐述,采用X-射线检测仪检测了BGA封装器件安装焊点的几种常见缺陷,分析、阐述了其图像与相应缺陷的关系,结果表明X-射线检测方法能够准确地检测出BGA封装器件安装中的各种焊点缺陷,并能够自动计算BGA封装器件安装焊点的空洞率,对空洞缺陷的快速检测和预防具有实际意义。
胡永芳徐玮禹胜林薛松柏
关键词:BGAX-射线无损检测
X-RAY检测技术在电子组装焊接中的应用
本文介绍了电子组装中焊点的各种检测方法以及其优缺点.重点介绍了一些特殊焊点即具有一定隐蔽性的焊点,采用HAWK-160XI这款X-RAY检测仪检测的情况.通过选择合适的检测参数,可以实现对BGA、裸芯片封装等焊接在元器件...
徐玮禹胜林
关键词:电子组装封装技术
文献传递
一种封装天线AiP三维集成模块的测试工装
本实用新型属于微波/毫米波三维异构集成产品测试的技术领域,公开了一种封装天线AiP三维集成模块的测试工装,包括压接装置、盖板、印制板支撑平台、微波多层印制板、支撑杆、以及喇叭天线,所述压接装置上设有倒四棱椎体的窗口,所述...
张兆华何宇昊崔凯王锋孟伟孙毅鹏夏侯海徐玮
共1页<1>
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