蔡志匡
- 作品数：204 被引量：33H指数：3
- 供职机构：南京邮电大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金江苏省自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术电子电信文化科学电气工程更多>>
- 统计静态时序分析方法综述
- 2023年
- 随着纳米技术的进步,工艺参数波动给电路性能带来的不确定性愈发明显,成为影响集成电路设计的主要因素之一。为了对先进工艺下超大规模集成电路更准确地进行时序分析,现代计算机辅助设计工具通过概率分布来表征电路的时序行为,并提出了统计静态时序分析(Statistical static timing analysis,SSTA)的方法。为了提高SSTA的速度,各种各样的方法及模型被陆续提出来。本文对快速蒙特卡洛仿真法、离散数值法、查找表法、解析法这四类SSTA的加速方法展开研究并对其性能进行分析,介绍了SSTA最新的研究方向并对各种时序分析方法进行总结展望。
- 郭静静赵东敏蔡志匡
- 关键词：解析法
- 一种可控的Chiplet串行测试电路
- 本发明公开一种可控的Chiplet串行测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该测试电路包括主控测试模块、从控测试模块、时钟控制模块、输出模块，主控测试模块由测试访问端口模块、段插入位模块、测试...
- 蔡志匡王运波宋健周国鹏姚佳飞徐彬彬王恒鹭王子轩郭宇锋
- 文献传递
- 一种用于低电压下的50%占空比整形电路
- 本发明涉及一种用于低电压下的50%占空比整形电路，利用脉宽调节电路和占空比检测电路，将正弦信号转化为占空比稳定为50%的方波。占空比检测电路和脉宽调节电路形成的负反馈环路将输出占空比锁定为50％。在保证信号正常转化的前提...
- 王子轩邵陆钦蔡志匡刘璐谢祖帅郭静静
- 一种基于局部间断Galerkin方法的IC互连线电容提取策略
- 2024年
- 求解椭圆方程的局部间断Galerkin(LDG)方法具有精度高、并行效率高的优点,且能适用于各种网格。文章提出采用LDG方法来求解IC版图中电势分布函数满足的Laplace方程,从而给出了一个提取互连线电容的新方法。该问题的求解区域需要在矩形区域内部去掉数量不等的导体区域,在这种特殊的计算区域上,通过数值测试验证了LDG方法能达到理论的收敛阶。随着芯片制造工艺的发展,导体尺寸和间距也越来越小,给数值模拟带来新的问题。文章采用倍增网格剖分方法,大幅减小了计算单元数。对包含不同数量和形状导体的七个电路版图,用新方法提取互连线电容,得到的结果与商业工具给出的结果非常接近,表明了新方法的有效性。
- 朱洪强邵如梦赵郑豪杨航汤谨溥蔡志匡
- 关键词：寄生参数提取集成电路工艺
- 一种2．5D Chiplet绑定后测试电路
- 本发明公开一种2.5D Chiplet绑定后测试电路，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。该绑定后测试电路包括中介层专用TAP控制器、中介层测试接口电路和芯粒测试输出控制电路。中介层专用TAP控制器新...
- 蔡志匡周国鹏宋健王运波谢祖帅王子轩郭宇锋
- 一种基于机器学习的众工艺角延迟预测方法
- 2024年
- 在不同工艺角下,关键路径呈现显著差异,因此需要进行大量的静态时序分析,从而导致时序分析运行时间较长。与此同时,随着工艺尺寸的缩小,静态时序分析的精度问题变得不容忽视。本文提出一种基于机器学习的适用于众工艺角下的延迟预测方法,考虑工艺、电压和温度对时序的影响,利用基于自注意力Transformer模型对关键路径进行全局聚合编码,预测众工艺角下关键路径的统计延迟。在EPFL基准电路下进行验证,结果表明该方法的平均绝对误差范围为5.8%~9.4%,有良好的预测性能,可以提高时序分析的准确度和效率,进而缩短数字电路设计周期和设计成本。
- 郭静静宁雪洁蔡志匡
- 基于自适应March算法的可重构MBIST方法
- 本发明公开基于自适应March算法的可重构MBIST方法，属于半导体器件在制造或处理过程中的测试或测量的技术领域。提出自适应March算法并基于该算法提出一种可重构MBIST电路，根据外部环境和用户指令自动重构出不同算法...
- 蔡志匡余昊杰杨航谢祖帅姚佳飞王子轩郭宇锋
- 基于机器学习和节点有效电容的线延时预测方法
- 本发明公开基于机器学习和节点有效电容的线延时预测方法，属于计算、推算或计数的技术领域。该方法：读入SPEF寄生文件、网表文件、时序库文件；采用SPICE仿真测量sink端节点线延时，建立线延时标准样本集；处理SPEF寄生...
- 郭静静查佩文赵泽宇封澳肖建蔡志匡王子轩郭宇锋
- 基于机器学习的模块封装注塑工艺参数预测方法
- 本发明公开了基于机器学习的模块封装注塑工艺参数预测方法，通过蚁群算法优化BP神经网络参数并进行寻优最佳工艺参数的方法，首先根据注塑产品的具体生产情况和质量指标选择工艺参数作为影响因素设计响应面试验；其次将响应面实验设计获...
- 蔡志匡杨丽刘璐杨航徐彬彬黄守坤王子轩郭宇锋
- 绝缘衬底上的硅和体硅横向功率二极管结构参数提取方法
- 本发明提供了一种绝缘衬底上的硅和体硅横向功率二极管结构参数的提取方法。首先，在某一适当区间内测得不同衬底电压下的击穿电压，根据测试结果绘制击穿电压随衬底电压变化曲线图，提取曲线峰值对应的最优衬底电压V<Sub>sub</...
- 郭宇锋陈静李曼蔡志匡王子轩
- 文献传递
