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肖冰

作品数:3 被引量:17H指数:2
供职机构:浙江大学光电信息工程学系现代光学仪器国家重点实验室更多>>
发文基金:国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信机械工程更多>>

文献类型

  • 3篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 1篇机械工程

主题

  • 2篇图像
  • 2篇图像拼接
  • 2篇光学
  • 2篇大口径
  • 1篇散射
  • 1篇误差分析
  • 1篇光学测量
  • 1篇光学元件
  • 1篇表面缺陷检测
  • 1篇表面散射
  • 1篇差分
  • 1篇超光滑
  • 1篇大口径光学元...

机构

  • 3篇浙江大学

作者

  • 3篇刘东
  • 3篇肖冰
  • 3篇杨甬英
  • 2篇卓永模
  • 2篇高鑫
  • 1篇翁俊淼
  • 1篇王道档
  • 1篇陆春华
  • 1篇李凌丰
  • 1篇刘旭
  • 1篇王琳

传媒

  • 1篇光电子.激光
  • 1篇红外与激光工...
  • 1篇浙江大学学报...

年份

  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 1篇2008
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
适于大口径精密光学表面疵病图像的拼接算法被引量:2
2011年
在大口径精密光学表面疵病检测中,针对原有图像拼接算法在子孔径图像数目较多时易产生拼接错位的情况,提出了基于特征分类的多层次图像拼接算法.该算法分为特征分类和多层次拼接2部分:前一部分通过重叠区域内特征的提取和分类,将所有子孔径图像的重叠区域分为4类;后一部分针对4类重叠区域的不同特点,进行4轮拼接,最终得到全景图像.结果表明,该算法能有效避免由导轨累积定位误差和缺陷贯穿数个子孔图像的贯穿型直线特征导致的拼接错位,且较原有算法效率更高.因此,该算法对于实现大口径光学元件表面疵病的高分辨率检测具有重要意义.
肖冰杨甬英高鑫刘东王道档卓永模
关键词:图像拼接
光学元件表面疵病检测扫描拼接的误差分析被引量:13
2008年
为实现大口径光学元件表面疵病的高效率、高精准的检测,本文提出一种能分辨微米级疵病的光学显微散射扫描成像检测系统,因为该检测系统单个子孔径的物方视场为毫米级,所以检测大口径光学元件需对X、Y方向进行子孔径扫描成像并将子孔径图拼接成同一坐标系下的全孔径图。在进行扫描时,系统的机构误差会被引入到子孔径列阵中,导致子孔径拼接处产生像素错位,甚至造成拼接断裂的情况,从而严重影响疵病等级及位置的正确评定。鉴于此,本文对影响全孔径拼接最敏感的误差因素进行了分析,并根据其特点找到合理减小误差的方法,确保子孔径的正确拼接。
刘旭杨甬英刘东陆春华肖冰李凌丰翁俊淼王琳杨李茗李瑞洁
关键词:表面缺陷检测表面散射大口径光学元件
超光滑表面瑕疵的光学显微成像和数字化评价系统被引量:4
2010年
提出了利用一种特殊设计的LED多光束环状分布照明光源,与显微镜组成超光滑表面元件缺陷检测的光学显微散射成像系统,获取适合于数字图像二值化处理的暗背景上的亮瑕疵图像。利用X、Y两方向的精密移导系统对表面实施子孔径图像的扫描。在原有的子孔径图像拼接"边缘拓展法"算法的基础上,提出一种基于特征分类的多层次图像拼接算法。该算法分为特征分类和多层次拼接两个部分:通过重叠区域内特征的提取和分类,将所有子孔径图像的重叠区域分为四类;然后针对这四类重叠区域的不同特点,有次序地进行图像拼接,最终得到全景图像。并应用二元光学制作了标准比对板,以获得瑕疵正确的数字化评价依据。实验结果证明:该系统和算法特别适合在被测表面范围较大、具有微米量级分辨率的瑕疵的数字化定量检测和评价。
杨甬英高鑫肖冰刘东卓永模
关键词:光学测量图像拼接
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