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文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 2篇电子电信
  • 2篇电气工程
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇化学工程

主题

  • 4篇导体
  • 4篇阻抗谱
  • 4篇半导体
  • 4篇半导体陶瓷
  • 3篇钛酸
  • 3篇钛酸钡
  • 3篇BATIO
  • 2篇镧掺杂
  • 2篇离子注入
  • 2篇掺杂
  • 1篇氧化钛
  • 1篇陶瓷
  • 1篇陶瓷半导体
  • 1篇阻抗
  • 1篇阻抗特性
  • 1篇钛酸钡陶瓷
  • 1篇PTC
  • 1篇X
  • 1篇BA

机构

  • 4篇武汉工业大学
  • 3篇清华大学

作者

  • 4篇王国梅
  • 4篇杜慧玲
  • 3篇勾焕林
  • 2篇雷家珩
  • 2篇吴建锋
  • 2篇徐晓虹

传媒

  • 1篇陶瓷学报
  • 1篇中国陶瓷
  • 1篇功能材料
  • 1篇现代技术陶瓷

年份

  • 4篇1997
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
铜离子注入镧掺杂BaTiO_3半导体陶瓷的阻抗谱研究被引量:2
1997年
本文应用宽频率范围的阻抗谱测量,分析了铜离子注入(110KeV,6×1015和1×1017ions/cm2)镧掺杂BaTiO3半导瓷在不同温度时的晶粒电阻晶界电阻和电极与材料界面电阻。提出了相应的等效电路。研究结果表明,注入剂量为6×105ions/cm2时,可以提高材料的PTCR效应。此外,也应用阻温特性测量分析了铜离子注入样品的PTCR效应。
王国梅徐晓虹吴建锋杜慧玲勾焕林
关键词:钛酸钡离子注入阻抗谱半导体陶瓷掺杂
Cu注入 PTC BaTiO_3 陶瓷的复阻抗谱研究被引量:6
1997年
对传统工艺法制备的BaTiO3陶瓷进行了Cu元素的离子注入。在较宽的频率范围内和不同温度下对样品进行了阻抗测量,确定了样品的等效电路。根据阻抗谱分析了Cu注入BaTiO3多晶陶瓷的晶粒、晶界电阻与温度的关系。结果表明,选择合适的注入剂量的样品,其PTC性能优于非注入样品。
杜慧玲王国梅雷家珩
关键词:半导体陶瓷PTC离子注入钛酸钡阻抗谱
铜离子注入镧掺杂BaTiO_3半导体陶瓷的阻抗谱研究
1997年
本文应用宽频率范围的阻抗谱测量,分析了铜离子注入(110kev,6×10^(15)和1×10^(17)ions/cm^2)镧掺杂BaTiO_3半导瓷在不同温度时的晶粒电阻,晶界电阻和电极与材料界面电阻。提出了相应的等效电路。同时,讨论了离子注入剂量的影响,表明铜离子注入剂量较低时,可以提高材料的PTCR效应。此外,也应用阻温特性测量分析了铜离子注入样品的PTCR效应。
王国梅杜慧玲雷家珩勾焕林
关键词:阻抗谱陶瓷半导体钛酸钡陶瓷
铜离子注入(Ba_(1-x)Sr_x)TiO_3半导体陶瓷的交流阻抗特性
1997年
本文测量了铜离子注入(Ba(1-x)Srx)TiO3半导体陶瓷样品在25~180℃,10Hz~13MHz之间的交流阻抗。根据等效电路模型与阻抗谱的变化,分析了注入样品的晶粒电阻、晶界电阻及其对温度的依从位以及样品的PTCR特性。研究表明,注入剂量为6×1015ions/cm2时,可以提高材料的PTCR效应。此外,辅以XPS和阻温特性测量分析注入铜离子的状态及样品的PTCR特性。
王国梅徐晓虹吴建锋杜慧玲勾焕林
关键词:阻抗谱半导体陶瓷氧化钛
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