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曾平英

作品数：8 被引量：30H指数：2
供职机构：哈尔滨工业大学更多>>
相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>

合作作者

文献类型

  • 7篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 7篇电子电信
  • 2篇自动化与计算...

主题

  • 4篇电路
  • 4篇集成电路
  • 4篇VLSI
  • 3篇自测试
  • 3篇内建自测试
  • 2篇可测性
  • 2篇可测性设计
  • 2篇加法器
  • 2篇乘法器
  • 1篇电路测试
  • 1篇行为级
  • 1篇阵列乘法器
  • 1篇设计技术
  • 1篇专用集成电路
  • 1篇模块化
  • 1篇模块化结构
  • 1篇内建自测试技...
  • 1篇可测试性
  • 1篇混合式
  • 1篇集成电路测试

机构

  • 8篇哈尔滨工业大...

作者

  • 8篇曾平英
  • 7篇毛志刚
  • 6篇叶以正
  • 1篇李兆麟

传媒

  • 3篇微电子学
  • 2篇微电子测试
  • 1篇计算机研究与...
  • 1篇电子学报

年份

  • 3篇1999
  • 2篇1998
  • 3篇1997
共 8 条 记 录，以下是 1-8
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排序方式：
基于模块化结构的N位加法器的测试生成被引量：5
1998年
针对单个ｓｔｕｃｋ－ａｔ故障，研究了Ｎ位加法器的测试矢量生成问题。对于行波进位加法器，只需８个测试矢量就可得到１００％的故障覆盖率；对于Ｎ位先行进位加法器，只需Ｎ２＋２Ｎ＋３个测试矢量即可得到１００％的故障覆盖率。
曾平英毛志刚叶以正
关键词：大规模集成电路VLSI
测试综合技术的发展被引量：2
1997年
简要介绍了测试综合的概念，实现测试综合的两种设计流程以及目前国际上常用的测试综合工具的特点。
曾平英毛志刚叶以正
关键词：集成电路可测性设计测试工具
CLA加法器混合式BIST方案被引量：1
1999年
本文以先行进位加法器为例，将确定性测试方法与伪随机测试方法相结合，提出了实现内建自测试电路中测试生成器的、在测试时间和测试电路硬件开销之间取得折衷的几种方案．最后，比较并分析了所得结果．
曾平英毛志刚叶以正
关键词：内建自测试VLSIBIST
CSA/CLA阵列乘法器的测试生成被引量：1
1999年
文中针对最后一级采用４位ＣＬＡ加法器级联的Ｍ×Ｎ位ＣＳＡ／ＣＬＡ阵列乘法器，讨论了一种非常有效的测试生成方法．该方法不依赖于乘法器的大小以及乘法器基本单元内部的具体实现结构，与前人的工作相比，缩短了测试时间．对于上述结构的ＣＳＡ／ＣＬＡ阵列乘法器，使用２８个测试矢量即可得到１００％的故障覆盖率．采用文中给出的测试矢量构造ＣＳＡ／ＣＬＡ阵列乘法器的ＢＩＳＴ电路不需要改变乘法器的结构，因此对乘法器的正常工作性能几乎没有任何影响．
曾平英毛志刚叶以正
关键词：阵列乘法器CLACSA乘法器
ASIC可测试性设计技术被引量：21
1999年
可测性设计技术对于提高军用ＡＳＩＣ的可靠性具有十分重要的意义。结合可测性设计技术的发展，详细介绍了设计高可靠军用ＡＳＩＣ时常用的ＡｄＨｏｃ和结构化设计两种可测性技术的各种方法、优缺点及使用范围。其中，着重论述了扫描技术和内建自测试技术。
曾平英李兆麟毛志刚
关键词：专用集成电路可测性设计内建自测试
测试在高级综合中的应用
1997年
本文在简略地回顾DFT技术发展过程的基础上,通过比较DFT和SFT,阐述了开发高级测试综合工具的重要性,给出了高级测试综合的基本概念和基本流程。
曾平英毛志刚叶以正
关键词：VLSIDFT
算术运算电路内建自测试技术的研究
该论文在综述了集成电路测试技术的发展概况,并介绍了可测性设计的各种技术之后,讨论了在测试生成器和输出响应分析器中应用十分广泛的线性反馈移位寄存器的构成及其产生伪随机测试码的原理和在输出响应分析中的应用.然后,讨论了BIS...
曾平英
关键词：集成电路测试内建自测试加法器乘法器
基于结构的行为级测试生成
1997年
本文针对固定型单故障,讨论了不同结构的、任意位全加器的测试生成问题。对于串行进位的全加器,只需8个测试码就可得到100％的故障覆盖率;对于n位先行进位全加器,则需要2^(n+2)+2~n-n+4个测试码。
曾平英毛志刚叶以正
关键词：VLSI行为级
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