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吴振海

作品数:7 被引量:4H指数:2
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇期刊文章
  • 3篇会议论文

领域

  • 7篇电子电信

主题

  • 3篇在片测试
  • 3篇成品率
  • 2篇电路
  • 2篇砷化镓
  • 2篇集成电路
  • 2篇GAAS_M...
  • 2篇测试技术
  • 1篇移动通信
  • 1篇移动通信用
  • 1篇直流
  • 1篇手机
  • 1篇通信
  • 1篇全自动
  • 1篇自动测试系统
  • 1篇微波器件
  • 1篇校准
  • 1篇校准技术
  • 1篇脉冲
  • 1篇开关
  • 1篇机用

机构

  • 7篇南京电子器件...
  • 1篇东南大学

作者

  • 7篇吴振海
  • 4篇李拂晓
  • 4篇陈新宇
  • 3篇杨乃彬
  • 3篇蒋幼泉
  • 3篇邵凯
  • 2篇洪倩
  • 2篇郝西萍
  • 2篇郑华
  • 1篇郑惟彬
  • 1篇钮利荣
  • 1篇黄庆安
  • 1篇陶洪琪
  • 1篇高建峰
  • 1篇林罡
  • 1篇陈金远
  • 1篇周剑明
  • 1篇张斌
  • 1篇徐中仓
  • 1篇曹敏华

传媒

  • 2篇固体电子学研...
  • 1篇Journa...
  • 1篇功能材料与器...
  • 1篇2002'全...
  • 1篇第十二届全国...
  • 1篇全国化合物半...

年份

  • 1篇2012
  • 1篇2006
  • 3篇2002
  • 2篇2000
7 条 记 录,以下是 1-7
排序方式:
GaAs功率单片脉冲在片测试技术研究被引量:2
2012年
讨论了功率单片在片脉冲测试中在片校准技术、脉冲功率测试技术等难题,并在讨论以上问题的基础上,实现工程化应用,该测试技术能够有效覆盖至40GHz。在建立的脉冲大功率在片测试系统上对输出功率典型值5W的GaAs功率单片放大器进行测试验证,测试结果和装架测试结果相比较,输出功率误差<0.2dB。
陈金远陶洪琪曹敏华吴振海郑华高建峰张斌
关键词:在片测试
全自动在片直流测试技术对提高GaAs MMIC批量生产成品率的作用被引量:1
2000年
成品率高低是批量生产能否进行的关键。采用全自动在片直流测试 ,对参数进行统计分析 ,能判断成品率是否正常 ,并帮助找出影响成品率的原因。本文介绍了行之有效的测试统计和分析技术。
吴振海郝西萍蒋幼泉陈新宇
关键词:成品率在片测试GAASMMIC微波器件
全自动在片直流测试技术对提高GaAS MMIC批量生产成品率的作用
成品率高低是批量生产能否进行的关键。采用全自动在片直流测试,对参数进行统计分析,能判断成品率是否正常,并帮助找出影响成品率的原因。该文介绍了行之有效的测试统计和分析技术。
吴振海郝西萍蒋幼泉陈新宇
关键词:成品率在片测试
文献传递
移动通信用GaAs集成电路的微波自动测试系统
建立用于移动通讯用GaAs集成电路的自动测试系统,采用HP-VEE编写软件,通过微机GPIB总线控制微波测试设备,实现GaAs集成电路的快速测试、数据处理、产品筛选等功能,满足GaAs集成电路批量化生产的需求.
吴振海陈新宇洪倩李拂晓邵凯杨乃彬
关键词:GAASMMICGPIB
文献传递
手机用砷化镓双刀双掷单片射频开关成品率分析
2002年
采用 Ga As75 mm 0 .7μm离子注入场效应晶体管 (MESFET)标准工艺技术研制出手机用 Ga As双刀双掷(DPDT)单片射频开关 (以下简称单片开关 ) .成品率分析表明 ,影响单片开关直流及射频参数成品率的主要因素包括 :材料几何参数、注入退火均匀性、栅光刻成品率、挖槽控制及圆片沾污等 .优化工艺条件可以使单片开关直流成品率稳定在 90 %左右 ,微波成品率稳定在 80 %左右 。
李拂晓蒋幼泉吴振海徐中仓钮利荣周剑明邵凯杨乃彬
关键词:手机成品率分析砷化镓
砷化镓0.5 μm PHEMT开关标准工艺研究被引量:2
2006年
采用PCM技术对砷化镓0.5μmPHEMT开关工艺关键工艺步骤进行定量严格监控,并对关键工艺节点进行工序能力评价(Cpk),运用统计过程控制(SPC)技术对采集的工艺数据进行分析,实现了开关工艺的稳定受控,工艺水平不断提高,砷化镓单片开关的成品率逐步提升;同时采用REM技术对该工艺制作的PHEMT开关器件、无源元件进行可靠性的预先估计,实现了对该标准工艺的可靠性评估。研究数据表明,砷化镓0.5μmPHEMT开关标准工艺PCM成品率达到90%,开发的单片开关和衰减器成品率不低于80%;砷化镓单片开关在最高工作温度85°C、置信度90%下失效率λ小于400Fit,完全满足产品的使用要求。
李拂晓郑华郑惟彬林罡吴振海黄庆安
关键词:砷化镓开关
多端口开关射频自动测试系统
针对移动通讯用GaAs开关集成电路,采用Agilent-VEE软件,建立多端口GaAs开关电路的RF参数自动测试系统,完成器件的快速测试、数据处理、产品筛选等功能,满足GaAs器件批量生产的需求.
洪倩陈新宇吴振海李拂晓邵凯杨乃彬
关键词:自动测试系统半导体集成电路
文献传递
共1页<1>
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