何伟
- 作品数：9 被引量：7H指数：2
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- 硅雪崩光电探测器工作寿命试验及失效分析研究被引量：2
- 2016年
- 通过FMEA分析和加速寿命试验,确定了硅雪崩光电探测器的主要失效模式有两种,一种是暗电流超标,另一种是前放输出电压不合格;对这两种失效模式进行了失效分析,认为是高温应力引起器件内部气氛的变化,主要是氢气含量变大引起器件暗电流不合格;大电流引起前置放大电路上晶体管损伤是前放输出电压不合格的原因。
- 邓敏孙莉周小燕何伟梁晨宇李龙
- 关键词：FMEA加速寿命试验
- 中心带雪崩光电二极管的InGaAs PIN四象限探测器被引量：3
- 2010年
- 介绍了研制的中心带雪崩管的PIN四象限InGaAs光电探测器。这种光电探测器PD芯片具有一个平面结构的InGaAs PIN四象限光电二极管,其中心位置带有一个雪崩光电二极管,位于同一晶片上。探测器的5个PD芯片被安装在各自厚膜集成的前置放大器上,同时封装在一个带光窗的金属壳体中。中心雪崩探测器和四象限探测器的电压响应度、响应时间、等效噪声功率分别为:2.5×105 V/W(1 550 nm)和0.95×104 V/W(1 550 nm);7 ns和20 ns;0.15×10-12 W/Hz1/2和4×10-12 W/Hz1/2,象限间串扰小于3%,象限内不均匀性小于5%。这种探测器可同时用于人眼安全激光测距、激光定位和跟踪。
- 石柱何伟覃文治向秋澄
- 关键词：INGAAS
- 多象限光电探测器高低温测试系统
- 本发明一种多象限光电探测器高低温测试系统，用于测试多象限光电探测器在高低温条件下的电参数。它包括，一个电连接直流稳压电源的示波器，内置测试夹具的高低温箱，在示波器与所述高低温箱之间，电连接有一个带有选通控制面板的选通电路...
- 钱煜余永琦周小燕苏洁梅王鸥李潇郭勇周红轮何伟祁祖峰向秋澄柯尊贵刘从吉胡卫英
- 文献传递
- 控制有害气氛及多余物产生的密封工艺研究
- 半导体器件内部的多余有害气氛及多余物是影响其可靠性的主要原因之一,是军用元器件质量控制的重要因素,因此在半导体器件的生产上不仅需要关注器件封装的气密性,而且需要对器件内部多余气氛和多余物的产生进行有效的控制,而我国在器件...
- 何伟向秋澄
- 关键词：水汽含量
- 文献传递
- 光电探测器寿命评估试验系统
- 本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器...
- 何伟周小燕向秋澄黄海华李龙梁晨宇
- 文献传递
- 带光子陷阱的光电探测芯片
- 本发明提出的一种带光子陷阱的光电探测芯片，旨在提供一种可以解决传统直接光电探测芯片元件在吸收长度较长的波长时响应速度和量子效率的矛盾限制，实现高速和高量子效率的兼容，适合各种半导体材料的芯片，增强波长范围可以覆盖芯片全部...
- 王鸥王平秋周红轮郭勇李丰马孜苏洁梅何伟石柱钱煜向秋澄覃文治李潇刘小会周小燕刘从吉柯尊贵胡卫英
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- 硅雪崩光电探测器加速工作寿命试验应用研究被引量：2
- 2016年
- 为了通过加速寿命试验评估硅雪崩光电探测器的工作寿命,通过FMEA分析和摸底试验,确定了硅雪崩光电探测器的主要失效模式、敏感应力和极限应力,设计并实施了加速工作寿命试验,得到了与理论分析和摸底试验相同的结果:温度应力是影响硅雪崩光电探测器工作寿命的主要应力,最高工作温度应力极限是130℃,对温度应力敏感的参数是暗电流和前放静态输出电压,验证了加速工作寿命试验方案的合理性和可行性。
- 周小燕何伟梁晨宇向秋澄李龙邓敏
- 关键词：工作寿命温度应力暗电流加速寿命试验
- 光电探测器寿命评估试验系统
- 本发明提出的一种光电探测器寿命评估试验系统，旨在提供一种实时自动监测、采集数据，能同时对探测器施加三种任意组合应力进行寿命试验的评估试验系统。本发明通过下述技术方案予以实现：光控制试验系统通过光纤分路器将来自半导体激光器...
- 何伟周小燕向秋澄黄海华李龙梁晨宇
- 文献传递
- 一种显微镜下快速定位被观察物的方法
- 本发明属于显微检测领域，具体涉及一种显微镜下快速定位被观察物的方法。该方法包括在用于承载被观察物的载具上制作多个具有指向性的标记，标记均指向载具上用于承载被观察物的位置；将被观察物放置在载具上的位置，并将载具放置在显微镜...
- 黄海华向秋澄刘期斌何伟
- 文献传递
