迟雷
- 作品数：36 被引量：11H指数：2
- 供职机构：中国电子科技集团第十三研究所更多>>
- 相关领域：电子电信电气工程文化科学自动化与计算机技术更多>>
- 基于LabVIEW的微波功率监测系统设计
- 2014年
- 功率监测是检验微波系统是否正常工作最常用又比较有效的技术手段。对于复杂的微波系统需要对多个微波信号端口同时进行监测的情况来说,传统的功率监测方法成本太高,很难满足使用的要求。为了满足多系统长时间监测微波功率的需求,基于LabVIEW软件设计了一种微波功率监测系统。系统利用HMC602对数检波器优秀的检波性能,先将微波功率信号转换为与之呈对数线性关系的电压信号,然后利用LabVIEW软件将电压信号计算转换成微波功率值,进行实时显示和保存。本文设计的微波功率监测系统带宽为1 MHz^8 GHz,动态范围50 dB,具有友好的交互界面和较高的测量精度。
- 张瑞霞迟雷黄杰彭浩沈育蓉
- 关键词：微波信号LABVIEW
- SiC MOSFET的退化或失效识别电路及方法
- 本发明提供一种SiC MOSFET的退化或失效识别电路及方法。该电路包括待测SiC MOSFET、电流源、第一开关、第二开关、第三开关、第四开关、电压采集模块、栅极驱动电路、第一电源和第二电源。本申请基于SiC MOSF...
- 迟雷桂明洋安伟彭浩高金环沈彤茜陈龙坡焦龙飞
- GaAs微波小功率晶体管加速退化试验数据分析
- 2019年
- 本文以GaAs 微波小功率晶体管为研究对象,分别开展不同温度应力的直流稳态、射频动态加速退化试验。通过分析不同温度应力下同种类型加速退化试验结果,揭示GaAs 微波小功率晶体管的退化失效时间与开尔文温度的倒数呈指数变化规律;通过比对相同温度应力下直流稳态、射频动态加速退化试验,发现同温度应力下,直流稳态较射频动态工作造成的GaAs 微波小功率晶体管饱和漏电流的变化更为剧烈。
- 高金环迟雷陈龙坡
- 关键词：加速退化试验失效率
- SiN钝化层对GaN HEMT辐射效应的影响被引量：1
- 2019年
- GaN HEMT具有的大功率、高频率特性使其在空间应用中具有广阔的前景,GaN HEMT的空间辐射效应也引起了人们的广泛关注。然而GaN HEMT器件并没有完全体现出其材料优越的抗辐射能力,研究认为器件结构和制造工艺是导致器件和材料间抗辐射能力差距的主要原因之一。半导体制造工艺中通常采用钝化层进行隔离、保护以及调整反射率等来近一步提升器件性能,本文分析了钝化层对二维电子气(2DEG)和AlGaN/GaN异质结表面势垒高度的影响,讨论了不同钝化层结构GaN HEMT的辐射响应及退化机理,认为钝化层可有效改善GaN HEMT的抗辐射能力。
- 席善斌裴选迟雷迟雷尹丽晶彭浩黄杰
- 关键词：钝化层二维电子气可靠性
- 微波单片电路抗扰度测试夹具
- 本发明提供了一种微波单片电路抗扰度测试夹具，用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试，包括底座主体、PCB电路板、定位块、可拆卸连接在底座主体上的金属盒盖、设置在金属盒盖上的并用于压靠固定微波单片电路的压块，定位块上设有用于...
- 迟雷高金环黄杰杨洁张希军
- AlGaN/GaN HEMT器件的低频噪声测试方法研究
- 2021年
- AlGaN/GaN HEMT器件的低频噪声比常规电参数对缺陷更为敏感,缺陷信息更加丰富,且具有不可恢复的特点,与器件的质量和可靠性密切相关。该文设计了AlGaN/GaN HEMT器件低频噪声测试的偏置电路、建立了一套低频噪声测试系统,对不同测试端口和偏置条件下的低频噪声水平进行了测试,通过对比分析得到了低频噪声测试结果与电压、电流之间的关系,并对测试结果进行了误差分析,对AlGaN/GaN HEMT器件的可靠性评价有重要意义。
- 高蕾迟雷彭浩彭浩
- 关键词：可靠性
- SiC MOSFET阈值电压测试技术研究
- 2023年
- 受栅氧界面态影响,SiC MOSFET阈值电压不稳定,这种性质干扰了阈值电压的测试结果。本文总结了4种阈值电压提取方法和3种不同的测试电路,比较了不同方法的异同点和逻辑联系,讨论了栅极电压预偏置技术的原理、实施方式。最后总结了现有技术,基于工程应用给出了关于阈值电压测试的建议。
- 桂明洋迟雷焦龙飞安伟
- 关键词：半导体器件可靠性阈值电压
- 半导体器件的功率循环试验装置和系统
- 本发明属于半导体测试领域，提供一种半导体器件的功率循环试验装置和系统，系统包括工控机、加电设备、热学测试仪和试验装置，装置包括底座、电极设备、器件定位框、弹性压块设备和温度检测设备；加电设备在预设周期数内对电极设备进行循...
- 迟雷桂明洋高蕾黄杰彭浩高金环陈龙坡张瑞霞
- 电容快速放电方法、装置、上位机、系统及存储介质
- 本申请适用于电气技术领域，提供了电容快速放电方法、装置、上位机、系统及存储介质，该电容快速放电方法适用于电容快速放电系统，电容快速放电系统包括：至少两个继电器、至少两个放电电阻以及上位机；电容快速放电方法应用于所述上位机...
- 安伟迟雷桂明洋陈龙坡焦龙飞沈彤茜彭浩刘涛周晓黎
- 微波单片电路抗扰度测试夹具
- 本发明提供了一种微波单片电路抗扰度测试夹具，用于夹持微波单片电路并进行抗扰度测试，包括底座主体、PCB电路板、定位块、可拆卸连接在底座主体上的金属盒盖、设置在金属盒盖上的并用于压靠固定微波单片电路的压块，定位块上设有用于...
- 迟雷高金环黄杰杨洁张希军
- 文献传递
