谢东
- 作品数：14 被引量：17H指数：2
- 供职机构：河北师范大学物理科学与信息工程学院物理系更多>>
- 相关领域：理学核科学技术化学工程金属学及工艺更多>>
- X射线荧光分析法直接测定胆结石中金属元素
- 1992年
- 本文叙述了使用X荧光分析法直接对胆结石中金属元素进行分析的过程,提出了一个适用于轻基体厚样品的逐次趋近计算法,并在计算机上成功地计算了胆结石中金属元素的测定结果。
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- 关键词：金属元素胆结石X射线荧光分析
- 再谈高纯锗探测器的GeKα逃逸峰强度问题
- 1992年
- 本文详细推导并讨论了在各种实验条件下,高纯锗探测器的GeKα逃逸峰强度的计算公式。
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- 关键词：探测器闪烁探测器锗
- X射线荧光法精确测定金属镀层的镀布量被引量：5
- 1997年
- 介绍了用X射线荧光法测定金属镀层镀布量的方法，测定快速、准确，样品不受破坏，能减轻劳动强度，减少环境污染。
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- 关键词：电镀镀层
- 金属镀层镀布量的X射线荧光测定
- 1995年
- 本文讨论了7辐射源激发 X 射线荧光法用于测定金属镀层镀布量的三种方法。给出了各自的计算方法和实验结果。并同其他实验手段做了比对。认为这是非破坏性测定镀布量小于几 mg/cm^2 的镀层的最准确方法。方法简单易行,主要靠物理计算。实验中只用两片纯金属片作比较即可。
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- 关键词：镀层X
- γ射线质量吸收系数测量条件的研究被引量：2
- 1992年
- 研究了各种实验条件对γ射线质量吸收系数测量结果的影响,提出了用“单道阈值法”测量质量吸收系数的新方法,该法可在“宽束”条件下进行测量,简化了笨重的铅准直系统以及对测量条件的严格要求,能达到相当的测量精度。
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- 关键词：Γ辐射
- GMX型同轴高纯锗探测器用于X射线荧光分析之性能评述被引量：1
- 1992年
- 本文以GMX型为例评述了同轴高纯锗探测器在X射线荧光分析中之应用情况,计算了锗的Kα逃逸所致之逃逸峰的强度。给出了能量分辨和逃逸峰的实验数据,并同Si(Li)探测器比较,提出了锗探测器的应用场合以及选择激发源的注意点。
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- 关键词：X射线荧光分析锗探测器
- 充分发挥GMX型高纯锗探测系统对低能γ和x射线能谱的分析功能被引量：1
- 1993年
- 近几年,各高校进口了一批GMX型同轴高纯锗探测器(ORTEC公司产品)。如何充分发挥该设备的性能是一个重要问题。大多用户都知道将其用于测量高能的γ谱,而想到用于测量X射线能谱的人却不多。
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- 关键词：高校高纯锗探测器射线能谱
- 高活度低能X,γ辐射源发射能谱的测定被引量：2
- 1992年
- 本文介绍了在普通核物理实验室内,对具有复杂能谱的高活度低能X,γ辐射源的发射谱进行测量的一种方法。该方法简便易行,只需使用Si(Li)探测系统即可。
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- 关键词：辐射源X射线谱探测器
- X射线荧光法检测金属镀层厚度被引量：6
- 1997年
- 介绍了用γ辐射源激发Ｘ射线荧光法测定金属镀层的镀布量的方法，并同其他检测手段做了对比。
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- 关键词：金属镀层厚度
- γ吸收实验的改进
- 1992年
- γ射线吸收是近代物理实验中重要内容之一。各校在做实验时,一般都是采用铅准直器将γ射线变为平行的窄束射线,以满足公式I=I_0e^(-μ^x) (1)的要求。然后测量γ射线穿过物质前后的强度I_0和I,由吸收物质的厚度x,用公式(1)求得物质的吸收系数μ。
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- 关键词：Γ射线
