张庶元
- 作品数:82 被引量:115H指数:6
- 供职机构:中国科学技术大学更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金国家科技攻关计划中国科学院知识创新工程重要方向项目更多>>
- 相关领域:理学一般工业技术电子电信化学工程更多>>
- 硫化铅超细纳米带和纳米线的TEM表征被引量:2
- 2005年
- 本文报道了硫化铅超细纳米带和纳米线的电镜研究结果。纳米带宽度小于20nm,纳米线直径约30nm,轴向生长方向均为[110]方向。纳米带晶格完整,少有缺陷,而在纳米线中观察到Σ17、Σ5的[001]倾侧晶界和Σ17[001]对称倾转晶界,倾侧晶界由一晶粒的{410}或{210}晶面族与另一晶粒的{200}晶面族相互碰撞而形成;对称倾转晶界由两晶粒的{410}晶面族相互碰撞而形成。
- 张华左鸣李公普谭舜张庶元
- 关键词:纳米线纳米带TEM表征硫化铅超细晶面
- Au/a-Ge双层膜分形晶化及其Ⅴ-Ⅰ非线性研究
- 本文报道了 Au/a-Ge 双层膜的分形晶化现象,测量了 Au/a-Ge 双层膜在分形晶化后的Ⅴ-Ⅰ特性。实验结果表明:分形晶化后的 Au/a-Ge 双层膜具有反常的非线性Ⅴ-Ⅰ特征,应用隧道结网络(RTJN) 模型对该...
- 陈志文张庶元谭舜李凡庆田明亮
- 关键词:分形维数非线性
- 文献传递
- 石墨电弧放电阴极沉积物的电镜研究
- 1996年
- 石墨电弧放电阴极沉积物的电镜研究李凡庆陆斌陈志文张庶元(中国科学技术大学结构分析开放实验室,合肥230026)用直流电弧法制备布基球的装置[1,2],在制备布基球的过程中,可得到大量阴极沉积物,沉积物为柱形,有坚硬的铅灰色外壳,疏松的黑色内芯。图1表...
- 李凡庆陆斌陈志文张庶元
- 关键词:石墨电镜
- Au基多组元异质纳米颗粒的显微结构表征及光学特性
- 2009年
- 设计并制备出CdSe-Au、PbSe-Au、FePt-Au、Cu2O-Au和FePt-CdS-Au等二元和三元异质纳米颗粒。基于异质纳米颗粒的制备方法,TEM和HRTEM的观测分析,提出了Au基多组元异质纳米颗粒的形成机理。CdSe-Au异质纳米颗粒的吸收光谱、荧光光谱和X射线光电子能谱价带谱的研究表明,多组元材料构筑的异质纳米颗粒,不仅集合了不同组元材料各自的本征性能,还可以耦合产生新的物理特性。
- 张庶元曾杰林岳王晓平
- 关键词:光学特性
- 几种α相Si3N4纳米结构的TEM表征
- 作为一种陶瓷材料,氮化硅(SiN)具有许多优良的性质,如高强度、高硬度和高红外吸收率,耐磨性、耐高温性和耐腐蚀性等。一维尺度的纳米结构是未来纳米器件的基本组成单元。
- 张庶元张华李公普
- 文献传递
- 钽/硅多层膜在550℃退火后的局域扩散反应
- <正>多层膜提供了一个具有大量界面的扩散、晶化、固相反应的系统。本文研究了在550℃退火后钽/硅多层膜的结构变化。钽/硅多层膜在低温550℃退火时,由于钽、硅原子互扩散的短程性,使得钽与硅反应后形成的二硅化钽晶粒的生长取...
- 卢江李凡庆陈志文谭舜陆斌张庶元王路春李齐
- 文献传递
- W/C.Mo/Si,W/si,Pt/si多层膜热稳定性的电镜研究
- 本文利用横截面电镜试样方法研究了W/C、Mo/Si、W/Si、Pt/Si四种多层膜的热稳定性。它们均生长在Si(100)衬底上,其周期数分别为125,65,288,35。透射电镜实验在H—800上进行。W/C多层膜有未退...
- 蒋最敏卢江张庶元吴自勤
- 富勒烯甲苯溶液结晶的研究
- 1994年
- 富勒烯甲苯溶液结晶的研究李凡庆,张国赏,卢江,陈志文,邢锦云,贾云波,李碧琳,陆斌,张庶元(中国科技大学结构分析开放研究实验室,合肥230026)采用类似于Kratschmer等人 ̄[1]的方法得到包含有C_(60)C_(70)等富勒烯的烟灰,经甲苯...
- 李凡庆张国赏卢江陈志文邢锦云贾云波李碧琳陆斌张庶元
- 关键词:富勒烯甲苯碳60碳70
- 纳米Mn_2O_3的制备及其ESR研究被引量:4
- 1997年
- 采用通常的化学液相均相沉淀法首次制备出了纳米Mn2O3材料.X射线衍射(XRD)和透射电镜(TEM)观察表明纳米Mn2O3的颗粒在9-50nm;9纳米的Mn2O3顺磁共振(ESR)谱图观察到六线峰精细结构。
- 陈志文张庶元谭舜王健李凡庆金嗣炤
- 关键词:纳米材料XRDTEMESR
- 溅射制备的Co/V多层膜微观结构特征与铁磁共振研究被引量:3
- 1999年
- 研究了用射频磁控溅射方法制备的[Co(15nm)/V(dV)]20(05nm≤dV≤4nm)多层膜的结构和磁性.用X射线衍射、透射电子显微镜、高分辨率透射电子显微镜等手段对其结构的分析,表明它们层状周期结构良好,沿膜的生长方向具有fcCo(111)和bccV(110)织构,且是由小的柱状晶粒构成的多晶薄膜.界面一定程度的合金化,使其成为成分调制周期结构,也是它们的一个结构特征.由其铁磁共振谱计算得到较小的g因子和4πMef值,表明多层膜界面存在一定程度的合金化.对于V层厚度小于22nm的多层膜,观测到自旋波共振谱,并作了分析.计算了层间耦合常数,说明Co层之间存在较弱的层间交换耦合作用.
- 吴静杜军鹿牧赵晓宁徐惠平翟宏如张庶元张裕恒夏慧
- 关键词:多层膜铁磁共振