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张岚

作品数:15 被引量:15H指数:3
供职机构:南京电子器件研究所更多>>
发文基金:江苏省自然科学基金国家自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信电气工程一般工业技术理学更多>>

文献类型

  • 10篇期刊文章
  • 5篇会议论文

领域

  • 11篇电子电信
  • 2篇电气工程
  • 2篇一般工业技术
  • 1篇理学

主题

  • 4篇晶体管
  • 3篇电子迁移率
  • 3篇淀积
  • 3篇异质结
  • 3篇气相淀积
  • 3篇迁移率
  • 3篇位错
  • 3篇金属有机化合...
  • 3篇刻蚀
  • 3篇SEM
  • 3篇MOCVD生...
  • 2篇氮化镓
  • 2篇电子束
  • 2篇电子束刻蚀
  • 2篇异质结双极晶...
  • 2篇双极晶体管
  • 2篇碳掺杂
  • 2篇外延层
  • 2篇微管
  • 2篇二维电子

机构

  • 14篇南京电子器件...
  • 2篇东南大学
  • 1篇长春光学精密...
  • 1篇南京大学

作者

  • 15篇张岚
  • 7篇董逊
  • 5篇李忠辉
  • 4篇黄子乾
  • 4篇王向武
  • 4篇李肖
  • 4篇潘彬
  • 3篇柏松
  • 3篇许晓军
  • 3篇李哲洋
  • 2篇刘六亭
  • 2篇姜文海
  • 2篇李亮
  • 2篇沈浩瀛
  • 2篇陈辰
  • 2篇韦钰
  • 2篇顾宁
  • 1篇程祺祥
  • 1篇李赟
  • 1篇陈刚

传媒

  • 5篇固体电子学研...
  • 1篇太阳能学报
  • 1篇Journa...
  • 1篇东南大学学报...
  • 1篇电子工业专用...
  • 1篇电子科学学刊
  • 1篇第六届全国毫...
  • 1篇第三届中国国...
  • 1篇第十届固体薄...
  • 1篇中国有色金属...

年份

  • 1篇2010
  • 1篇2009
  • 1篇2008
  • 3篇2006
  • 3篇2005
  • 2篇2004
  • 1篇2001
  • 2篇1994
  • 1篇1993
15 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
重掺碳GaAs层的MOCVD生长及特性研究被引量:2
2001年
采用 CCl4 作为碳掺杂源 ,进行了重掺碳 Ga As层的 L P- MOCVD生长 ,并且对掺杂特性进行了研究 ,研究了各生长参数对掺杂的影响。CCl4 流量是决定掺杂浓度的主要因素。减小生长温度、减小 / 比、降低生长压力 ,都能较大的提高掺杂浓度。通过改变 CCl4 流量 ,在生长温度为5 5 0~ 6 5 0℃、 / 比为 15~ 4 0 ,生长压力在 1× 10 4 ~ 4× 10 4 Pa的范围内 ,均能得到高于 2× 10 19/cm3 的掺碳 Ga As外延层 ,最高掺杂浓度为 8× 10 19/
王向武程祺祥张岚
关键词:砷化镓碳掺杂
MOCVD AlGaAs/GaAs HBT材料生长中基区、发射区结偏位的分析与控制被引量:1
2004年
分析了MOCVDAlGaAs/GaAsHBT外延材料生长中基区、发射区异质结界面与P N结界面产生偏离的原因 ,计算了外延生长参数对结偏离的影响 ,得到了对于C、Mg及Zn作为P型掺杂剂时 ,使得结偏位为 0时所需生长的GaAsspace层厚度 ,它们分别为 1~ 1.5nm、3~ 4nm及 12~ 15nm。计算与器件研制结果基本相符。
王向武李肖张岚黄子乾潘彬
关键词:异质结双极晶体管金属有机化合物气相淀积
原位掩模生长时间与GaN外延层性质的关系
利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)生长了低温SiNx 纳米尺寸掩模及GaN/SiNx/Al2O3 外延结构,研究了SiH4处理时间与GaN外延层的晶体质量、发光及电学性质的关系。当SiH4 处理时间为120s 时,...
李忠辉董逊张岚
关键词:位错密度外延层金属有机物化学气相沉积电学性质
文献传递
聚甲基丙烯酸甲酯LB膜用作高分辨率电子束抗蚀层的研究
1994年
应用LB技术制备了厚度为20—100nm的聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)超薄高分辨率电子束抗蚀层。应用改装的日立S-450扫描电子显微镜(SEM),研究了PMMALB膜的曝光特性和刻蚀条件。结果得到线宽0.15μm的铝掩模光栅图形,表明此种超薄膜具有良好的分辨率和足够的抗蚀性。
鲁武顾宁韦钰沈浩瀛张岚
关键词:LB膜电子束刻蚀抗蚀剂PMMA
扫描电镜电子束纳米刻蚀
1994年
扫描电镜电子束纳米刻蚀鲁武,顾宁,陆祖宏,韦钰(东南大学分子与生物分子电子学实验室,南京210018)沈浩赢,张岚(南京电子器件研究所,南京210016)随着超大规模集成电路集成度的提高,尤其是某些特种器件如高电子迁移率场效应管、高频声表面波器件的出...
鲁武顾宁陆祖宏韦钰沈浩赢张岚
关键词:SEM电子束刻蚀VLSI
用于GaInP/GaAs双结叠层太阳电池的MOVPE外延材料被引量:5
2006年
采用金属有机化合物气相淀积(MOVPE)技术生长用于GaInP/GaAs双结叠层太阳电池的外延材料。针对材料生长中的隧穿结、p-AlInP层等关键问题,通过对掺杂剂、生长技术及条件的调整与改进,极大地提高了GaInP/GaAs双结叠层太阳电池性能,最高转换效率达到23.8%(AMO,25℃)。
黄子乾李肖潘彬张岚
关键词:金属有机化合物气相淀积
用于HBT的AlGaAs/GaAs MOVPE材料
2005年
通过LP-MOVPE研制了实用化的AlGaAs/GaAsHBT材料。采用CCl4作为P型掺杂剂进行基区重掺杂。所作HBT增益为20~35,截止频率fT>50GHz,最大振荡频率fmax>60GHz,X波段功率HBT输出功率大于5W。
王向武黄子乾潘彬李肖张岚
关键词:异质结双极晶体管金属有机化合物气相淀积
碳掺杂AlGaAs的MOCVD生长及808nm大功率激光器
2004年
用 CCl4 作为掺杂剂 ,进行了掺碳 Al Ga As层的 LP-MOCVD生长 ,并对其掺杂特性进行了研究 ,分析了各生长参数对掺杂的影响 ;研制了碳掺杂 Al Ga As限制层 80 8nm大功率半导体激光器 ;激光器单面连续波输出功率大于 1 W,功率效率为 0 .7W/ A。
王向武张岚黄子乾潘彬李肖李忠辉
关键词:铝镓砷碳掺杂激光器
4H-SiC同质外延中的缺陷
从实验出发,有LPCVD外延系统在偏向<110>方向8°的4H-SiC(0001)Si面衬底上,利用CVD技术进行了4H-SiC同质外延生长.外延后在熔融KOH腐蚀液中进行腐蚀,使用SEM和光学显微表征方法探讨了CVD法...
李哲洋刘六亭董逊张岚许晓军柏松
关键词:微管位错扫描电子显微镜外延层
文献传递
3英寸Si基AlGaN/GaN/异质结材料生长
利用MOCVD在Si(111)衬底上生长了3英寸无裂纹的GaN外延薄膜和AIGaN/GaN异质结构。通过优化衬底浸润处理时间、AIN层厚度等参数获得了无裂纹的GaN外延薄膜,研究了缓冲层和插入层厚度对AlGaN/GaN异...
李忠辉李亮董逊张岚姜文海
关键词:氮化镓高电子迁移率晶体管二维电子气
文献传递
共2页<12>
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