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张义炳

作品数:4 被引量:13H指数:2
供职机构:上海大学理学院物理系更多>>
发文基金:国家重点实验室开放基金更多>>
相关领域:理学机械工程冶金工程更多>>

文献类型

  • 4篇中文期刊文章

领域

  • 3篇理学
  • 2篇机械工程
  • 1篇冶金工程

主题

  • 2篇电子束蒸发
  • 2篇氧化锆
  • 2篇透射
  • 2篇透射率
  • 2篇退火
  • 2篇退火温度
  • 2篇二氧化锆
  • 1篇电解
  • 1篇电解铁
  • 1篇电解液
  • 1篇电解制备
  • 1篇探针
  • 1篇化学分析
  • 1篇RRR
  • 1篇纯铁
  • 1篇磁阻
  • 1篇磁阻效应

机构

  • 4篇上海大学
  • 1篇华东理工大学
  • 1篇河北工业大学

作者

  • 4篇张义炳
  • 2篇徐国庆
  • 2篇马洪良
  • 2篇任树喜
  • 1篇曹为民
  • 1篇龚小燕
  • 1篇周炯
  • 1篇戴迎春
  • 1篇高召顺
  • 1篇严惠根
  • 1篇张恒
  • 1篇印仁和

传媒

  • 1篇电化学
  • 1篇原子与分子物...
  • 1篇强激光与粒子...
  • 1篇物理测试

年份

  • 1篇2006
  • 1篇2005
  • 1篇2003
  • 1篇1997
4 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
二氧化锆薄膜制备及其特性测量被引量:3
2005年
在室温下采用电子束蒸发的办法制备二氧化锆(ZrO2)薄膜。借助紫外分光光度计、原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)等方法研究了薄膜的透射率和表面结构。同时研究了不同退火温度对薄膜物理性质的影响。在退火温度700,900,1 050 ℃时显微镜图像没有明显差别。随着退火温度的变大,薄膜表面的晶粒的直径逐渐变大,但粒径均在25 nm左右。当退火温度达到 1 150 ℃时,粒径变得很大(约 400 nm)。在700,900,1 050 ℃下退火后的薄膜的X射线衍射谱没有明显差别。在退火温度1 150 ℃下出现了较高的峰,研究结果表明:退火温度的增加,大量大粒径二氧化锆单晶晶粒出现,使得二氧化锆薄膜的漏电流增大,从而导致其热稳定性变差。
任树喜马洪良徐国庆张义炳
关键词:电子束蒸发退火温度透射率
八探针方法测量磁阻效应被引量:2
1997年
本文提出八探针方法用来测量薄膜的幅度磁阻(MMR)和各向异性磁阻(AMR)。测量时,外加磁场方向不变,通过改变电流方向来改变磁场和电流方向的夹角,分别测得薄膜处于同一磁化状态下的电流和外场相互垂直或平行时的电阻。通过在不同幅度磁场下的测量,可以得到AMR随外加场幅度的变化以及电流和外场相互垂直或平行时随外加场幅度变化的MMR。
张恒龚小燕张义炳阚敏
关键词:磁阻效应
电解制备纯铁及其RRR_H法研究被引量:7
2003年
以工业废铁屑为原料制备高纯度电解铁 ,纯度可达 99.98%以上 .应用剩余电阻率比(RRRH)法 ,在外加垂直磁场 80 0 0e下分别测定该电解铁在 4 .2K和 2 98K时的电阻率 ,并得出样品对应的剩余电阻率比 (RRRH) .研究表明 :电解铁纯度越高 ,其RRRH 越大 .通过SEM断面形貌观察 。
曹为民印仁和严惠根张义炳戴迎春
关键词:电解制备纯铁电解铁化学分析电解液
掺钇二氧化锆薄膜制备及其特性测量被引量:2
2006年
采用电子束蒸发法在室温下制备出掺钇二氧化锆薄膜.借助紫外分光光度计、原子力显微镜(AFM)、X射线衍射(XRD)方法研究了薄膜的透射率、表面结构.同时研究了不同退火温度下对薄膜光学性质的影响.研究的结果表明:退火温度的增加,使得二氧化锆薄膜的漏电流增大,从而导致其热稳定性变差.不同浓度三氧化二钇的掺杂对其透射率影响很小.
任树喜马洪良徐国庆高召顺周炯张义炳
关键词:电子束蒸发退火温度透射率
共1页<1>
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