安康
- 作品数：58 被引量：48H指数：4
- 供职机构：重庆大学更多>>
- 发文基金：国家自然科学基金重庆市自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域：自动化与计算机技术机械工程理学核科学技术更多>>
- 高分辨率CCD辐射探测器串扰校正被引量：2
- 2021年
- 近年来出现的新型闪烁体与科学级CCD图像传感器耦合的高分辨辐射探测器,对提高Micro-CT等高分辨成像系统的空间分辨率、信噪比、图像质量等有重要意义,具有广泛的应用前景。但新型闪烁体如Gd_(3)Al_(2)Ga_(3)O_(12)等发光传输的各向同性特性,给μm尺寸的CCD像元带来了严重的串扰噪声,导致辐射探测器系统空间分辨率的实际值与理论值相差甚远。本文理论分析了高分辨率CCD辐射探测器串扰产生的物理机理,提出了利用蒙特卡罗EGSnrc仿真和Zemax光学仿真工具理论计算探测器系统像元间的串扰率函数(CTF),再以CTF为卷积核,通过Lucy-Richardson反卷积运算对实际投影数据进行串扰校正,用双丝型像质计进行验证实验。实验结果表明,本方法可有效校正探测器串扰噪声,对改善探测器系统的调制传递函数和提高空间分辨率等有明显的效果。
- 周日峰周日峰唐杰唐杰刘瑜川安康
- 关键词：辐射探测器CCD图像传感器
- 一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法
- 本发明公开了一种基于卷积的X射线CT系统射束硬化校正方法，属于工业CT系统应用领域；该方法包括以下步骤：一：将铅箔过滤片紧贴后准直器放置进行散射校正；二：设置CT系统扫描参数；三：不开射线源，采集系统的本底值；四：打开射...
- 高富强周钦蔡玉芳陈赟飞冯永李岭兰扬严强安康
- 文献传递
- 一种平板探测器信号串扰校正装置及方法
- 本申请提供一种平板探测器信号串扰校正装置及方法，所述装置包括X射线源、平板探测器，以及设置在平板探测器与X射线源之间、紧贴平板探测器放置的校正单元，所述校正单元包括环形刻度盘、旋转组件、长方形金属薄片。所述方法步骤为：固...
- 安康段晓礁周日峰卢艳平
- 高能X射线工业CT电离型探测器
- 本发明提供一种高能X射线工业CT电离型探测器，能克服闪烁体探测器缺点，适用于高能X射线工业CT系统的辐射探测；所述高能X射线工业CT电离型探测器包括一密封壳体，密封壳体内充有工作气体，密封壳体内设置多个电离室单元，所述电...
- 周日峰高富强张平谭辉安康陈伟民
- 文献传递
- 工业CT数据采集系统被引量：6
- 2008年
- 工业CT机中需要对数百通道微弱光信号同时进行数据采集传输,本文介绍的系统是为满足这一要求而设计;系统采用FPGA+20位积分转化芯片模式构建探测部分,采用FPGA+AMCCS5335模式主控采集部分;运用多级缓存机制解决了实际应用中出现的数据阻塞、丢失问题;该设计已应用于重庆大学ICT中心的多台工业CT机中,取得了良好的效果。
- 高富强安康卢华曹鹏江仁清高福兵
- 关键词：FPGAPCI数据采集传输
- 一种CT扫描全帧CCD型x射线探测器smear校正方法
- 本发明涉及一种CT扫描全帧CCD型x射线探测器smear校正方法，属于无损检测领域。本发明针对动态曝光CT扫描，在控制系统精确同步控制下，分别采集具有CCD曝光操作的图像和无CCD曝光操作的图像，通过图像相减得到目标图像...
- 安康王珏
- 文献传递
- 基于RGB的颜色辨识系统设计被引量：15
- 2012年
- 传统颜色辨识系统需要白平衡调整,引入了人为误差,造成辨别精度较差。介绍了一种改进型颜色辨识方案,采用TCS3200D颜色传感器将颜色信号转换为数字信号后直接送至AT89C52单片机处理,硬件电路简单,在基本型软件算法的基础上设计了改进型软件算法流程,避免了白平衡调整引入的人为误差,有效提高了辨识精度。实验结果表明:系统对不同颜色辨识速度快、精度高,可广泛应用于各种需要对颜色成分进行分析、辨识的行业。
- 高富强李岭安康
- 关键词：RGBAT89C52
- 一种高分辨X射线平板探测器
- 本实用新型涉及一种高分辨X射线平板探测器，包括荧光反射层、闪烁屏、阵列准直器、光锥、CCD/CMOS图像传感器、数据采集与传输系统，通过屏蔽外壳实现探测器的封装。该探测器使用新型GAGG:Ce单晶闪烁体制成闪烁屏，在闪烁...
- 安康陈研毛世平丁雨憧
- 高精度高能工业CT综合研发平台及应用
- 王珏刘荣蔡玉芳谭辉安康周日峰邹永宁卢艳平段晓礁王福全沈宽
- 该项目属仪器仪表科学技术领域，涉及计算机、物理、数学、机械、自动控制等多个学科，学科交叉性强、系统复杂度高、技术难度大。该项目根据国家重大需求和工业CT技术发展前沿，针对高能工业CT系统大型工件的高精度检测这一长期困扰行...
- 关键词：
- 关键词：自动定位方法自动控制系统
- CsI(TI)与GAGG(Ce)闪烁屏高分辨X射线成像对比研究被引量：1
- 2021年
- 作为平板探测器的核心构件,闪烁屏的选型和参数设计直接影响X射线辐射成像系统的成像质量。本文应用光纤耦合全帧CCD型X射线辐射成像测试平台,对不同规格的GAGG(Ce)闪烁屏和碘化铯(Cs I(TI))闪烁屏进行实验对比。结果表明,在高分辨探测应用中,GAGG(Ce)闪烁屏比同等厚度Cs I(TI)闪烁屏具有更高的探测效率与空间分辨率,有望替代Cs I(TI)闪烁屏广泛应用于平板探测器。
- 吴石琳刘兴鹏安康王珏
- 关键词：平板探测器空间分辨率
