吴丰军
- 作品数：7 被引量：55H指数：5
- 供职机构：中国航天科技集团公司四院四十二所更多>>
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- NEPE推进剂/衬层粘接界面层厚度表征方法研究被引量：10
- 2008年
- 采用纳米压痕分析法和超声波扫描显微镜分析法，研究了NEPE推进剂／衬层粘接界面层的厚度。纳米压痕分析结果表明，界面层与粘接物的细观力学性能有明显差异，差异区域的厚度约为80μm；超声波扫描显微镜分析结果表明，界面层是非均匀性的复杂实体，计算出来老化粘接界面的厚度为84．94μm。计算结果和测试值基本一致，认为NEPE推进剂／衬层粘接界面层的厚度为80—85μm。
- 吴丰军彭松池旭辉
- 关键词：纳米压痕超声波厚度
- NEPE推进剂“两段式”老化的动力学研究被引量：7
- 2009年
- NEPE推进剂老化表现为"两段式",即稳定剂完全消耗前后(分别对应Ⅰ阶段和Ⅱ阶段),推进剂力学性能出现显著差异。文中借鉴双基系推进剂和NEPE推进剂老化研究结果,在进一步分析"两段式"老化特性的基础上,探讨了提高NEPE推进剂贮存寿命的技术途径,计算了"两段式"老化过程的动力学参数,并比较了温度对两阶段主要反应的影响。结果表明,Ⅰ阶段稳定剂消耗反应和Ⅱ阶段推进剂聚合物基体降解反应的表观活化能分别为86.18 kJ/mol和166.35 kJ/mol,常温25℃时两阶段的老化速率分别为1.30×10-4d-1和2.75×10-6d-1,温度对两个老化阶段都有很大影响,但老化第Ⅱ阶段受温度的影响远大于第Ⅰ阶段。
- 杨根彭松池旭辉杜锡娟吴丰军
- 关键词：NEPE推进剂贮存性能动力学
- NEPE推进剂/衬层粘接界面细观力学分析
- 本文主要采用纳米压痕仪分析了NEPE推进剂/衬层粘接界面老化前后模量和硬度的变化规律,得到了界面层的厚度约为80μm;讨论了模量和硬度变化与粘接件常温最大拉伸强度的相互关系,认为界面层的模量和硬度发生数量级变化时,粘接界...
- 吴丰军彭松尹华丽
- 关键词：模量NEPE推进剂粘接界面
- 文献传递
- NEPE推进剂/衬层粘接界面细观力学性能/结构研究被引量：21
- 2010年
- 研究了不同组成的NEPE推进剂/衬层粘接界面细观力学性能和结构的差异,以及对应粘接界面贮存过程中粘接性能和破坏方式的变化规律,探索了粘接界面的细观力学性能、结构与破坏方式的内在关联,初步提出NEPE推进剂/衬层粘接界面失效模式。试验结果表明,粘接界面细观力学性能、结构与界面粘接质量相关,是影响界面失效模式的主要因素。粘接界面具有高模量、高硬度层,N元素含量高且有明显梯度变化时,粘接质量较好,发生内聚破坏,反之发生界面破坏或混合破坏;老化过程中,粘接界面的模量和硬度降低、N元素的含量明显降低决定粘接界面依次发生内聚破坏、混合破坏和界面破坏。
- 吴丰军彭松池旭辉
- 关键词：NEPE推进剂模量结合能
- NEPE推进剂湿热双应力老化特性被引量：8
- 2010年
- 将NEPE推进剂置于不同的温度和湿度条件下贮存,测试其力学性能、凝胶分数和稳定剂含量的变化规律。研究发现:NEPE推进剂湿热双应力老化可以表示为物理老化和化学老化两部分的叠加;物理老化表现为湿老化特征,力学性能变化先快后慢,趋向于定值;化学老化表现为热老化特征,前期力学性能出现一个平台区,持续一段时间后,迅速下降至一个更低的平台;存在湿热两种因素的协同效应:湿气对化学老化具有加速效应,温度对物理老化具有增速和增幅效应。NEPE推进剂湿热双应力老化的基本化学特性与热老化类似,但是湿度对于稳定剂消耗与粘合剂网络降解都具有加速作用,可视为湿气降低了热老化的表观活化能。
- 池旭辉彭松庞爱民张诗平吴丰军
- 关键词：物理化学固体推进剂贮存性能相对湿度
- NEPE推进剂用HTPB衬层老化研究(Ⅰ)——化学环境对衬层老化行为的影响被引量：4
- 2010年
- 根据衬层的使用特点,研究了NEPE推进剂用HTPB衬层在NEPE推进剂环境及自由状态下的老化特性,发现NEPE推进剂对HTPB衬层的固化和老化都有严重影响。NEPE推进剂药浆影响HTPB衬层固化,导致衬层固化不完全。NEPE推进剂环境下的取样衬层与衬层材料具有不同的老化机理。取样衬层老化过程中HTPB网络发生了交联反应,模量、凝胶分数增大;而衬层材料老化以降解断链反应为主。老化对衬层材料动态损耗因子没有明显影响,但对取样衬层损耗因子曲线α峰影响显著。
- 池旭辉庞爱民彭松吴丰军朱学珍常华封学华
- 关键词：物理化学衬层NEPE推进剂动态力学性能
- NEPE推进剂／衬层粘接界面XPS表征被引量：20
- 2009年
- 运用XPS分析手段表征了NEPE推进剂/衬层粘接界面的化学组成和老化历程,通过研究界面区的化学组成及分布,得出了界面区各位置及老化前后主要组分的变化;探讨了界面老化过程中元素结合能变化与老化失效的关系,认为界面区域中结合能是286～287 eV的羟基和结合能是401～402 eV的N活性基团的含量降低,以及硝基的分解是粘接界面失效的主要原因。
- 吴丰军彭松池旭辉钟发春
- 关键词：X射线光电子能谱结合能
