马卫东
- 作品数：24 被引量：80H指数：5
- 供职机构：北京工业大学电子信息与控制工程学院更多>>
- 发文基金：国防科技工业技术基础科研项目北京市自然科学基金北京工业大学博士启动基金更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术电气工程金属学及工艺更多>>
- 恒定温度应力加速实验失效机理一致性快速判别方法被引量：17
- 2013年
- 针对加速实验中因失效机理发生改变而导致的无效实验问题,对失效机理一致性和分别在不同应力下器件的初期退化参数分布的关系进行了研究.研究证明了判断加速实验失效机理一致的条件:1)不同应力下失效分布的形状参数服从一致,即mi=m,i=1,2,3,···,2)尺度参数ηi服从ηi=AFi·η.从而提供一种在实验初期即可根据参数退化分布快速判别不同应力下失效机理是否一致的方法,避免了因失效机理发生改变而造成的无效加速实验.最后对加速实验初期理论退化数据和多芯片组件厚膜电阻初期退化数据进行了威布尔分布参数估计,并对其在不同应力下的失效机理一致性进行了判别.
- 郭春生万宁马卫东张燕峰熊聪冯士维
- 关键词：威布尔分布
- 设备诊断等技术在冷轧硅钢片厂“万点受控”工程中的研究与应用
- 高立新胡邦喜马卫东黄坤平赖为民郭斌卢开颜尹玉贵刘新启王灿敏张键魏厚培张剑平向爱霞周凤星周志裕肖永钢崔玲丽李伟李建文叶辉
- 该项目将人工、离线系统和在线系统相结合，把振动、电参数、扭距、温度、湿度、压力监测有机结合在一起，通过监测、诊断和事故分析的结合，形成全面、完整、准确和科学的设备状态信息处理流程和专家决策机制，使重点设备处于受控状态。该...
- 关键词：
- 关键词：冷轧硅钢片远程监测
- 基于序进应力加速实验评价失效率的新方法被引量：1
- 2007年
- 基于序进应力加速寿命实验的研究,提出了一种快速确定半导体器件失效率及寿命分布的新方法.该方法将序进应力加速实验应用于失效率评价中,在计算失效激活能并外推寿命的基础上,快速确定微电子器件的寿命分布及相应的失效率.以样品3DG130为例,在160～310℃范围内进行了序进应力加速寿命实验,然后根据模型计算得到了器件的寿命、分布和失效率.结果与文献吻合很好,验证了方法的可行性.
- 郭春生李秀宇朱春节马卫东吕长志李志国
- 关键词：失效率
- 基于参数退化法评价功率肖特基二极管寿命被引量：5
- 2009年
- 对功率肖特基二极管(SBD)施加恒定电应力、序进温度应力进行退化实验,考察了反向漏电流IR、理想因子n、势垒高度ΦB以及串联电阻RS等参数的退化情况。可以看出,在退化的过程中,SBD的IR增加较快,n逐渐减小,ΦB逐渐增大,而RS则缓慢增加。综合考察这些退化曲线,采用退化最为明显的IR作为失效判据。基于IR参数退化曲线,使用恒定电应力温度斜坡法(CETRM)模型,推导出该功率肖特基二极管的寿命约为4.3×107h,测试结果与实际预测相符。
- 段毅马卫东吕长志李志国
- 关键词：势垒高度肖特基二极管
- 电源模块中关键器件的加速寿命试验
- 使用印刷电路板仿制电源模块的电路,保证电路中的关键器件在实际的工作条件下被单独施加序进的温度应力,进行以电学参数退化为基础的加速寿命试验。克服了不能对电源模块中的关键器件施加较高温度应力进行加速寿命试验的困难。试验获得电...
- 吕长志马卫东黄春益张小玲谢雪松王东凤李志国
- 关键词：电源模块加速寿命试验可靠性
- 文献传递
- 电源模块中关键器件的加速寿命试验
- 使用印刷电路板仿制电源模块的电路，保证电路中的关键器件在实际的工作条件下被单独施加序进的温度应力，进行以电学参数退化为基础的加速寿命试验。克服了不能对电源模块中的关键器件施加较高温度应力进行加速寿命试验的困难。试验获得电...
- 吕长志马卫东黄春益张小玲谢雪松王东凤李志国
- 关键词：电源模块加速寿命试验可靠性
- 文献传递
- 开关电源模块可靠性研究
- 本文分析了某军用开关电源模块的工作原理以及关键点波形,找出了开关电源模块中易于失效的关键元件,提出了目前开关电源发展所面临的可靠性寿命评价的关键问题。
- 朱春节马卫东郭春生李志国吕长志
- 关键词：开关电源可靠性寿命评价
- 文献传递
- 序加实验理论模型误差修正的研究被引量：2
- 2010年
- 针对序进应力加速实验理论模型中数学算法的误差,提出一种新的计算模型,新模型利用计算机编程辅助计算,显著地减小了模型误差.利用新、旧模型算法对理论数据进行计算,表明原模型算法存在13%以上的激活能计算误差以及150%以上的寿命计算误差(Q≤1.0eV),而新模型算法可以将激活能误差控制在1%以内,寿命计算误差控制在-4.1%以内.
- 郭春生单尼娜冯士维马卫东
- 基于序进应力加速试验评价器件失效率的新方法
- 基于对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速确定半导体器件失效率及寿命分布的新方法.新方法将序进应力加速试验应用于失效率评价中,在计算失效激活能并外推寿命的基础上,确定微电子器件的寿命分布及相应的失效率.并以样品3D...
- 郭春生李秀宇马卫东谢雪松刘鹏飞李志国
- 关键词：半导体器件失效率微电子器件
- 文献传递
- DC/DC模块中功率器件的寿命预计方法被引量：5
- 2010年
- 模拟开关电源DC/DC模块内部电路为开关电源中的功率器件—垂直导电双扩散MOS(VDMOS)和肖特基二极管(SBD)—提供恒定电应力,并对其施加温度应力进行加速寿命试验。采用恒定电应力温度斜坡法(CETRM),对开关电源中功率器件VDMOS和SBD的可靠性进行评价;对其失效机理一致性进行分析,计算其失效激活能;并在失效机理一致的范围内外推正常使用条件下的寿命,为开关电源整体可靠性评价提供依据。
- 黄春益马卫东张喆谢雪松吕长志李志国
- 关键词：开关电源DC/DC变换器加速寿命试验
