顾铠
- 作品数：19 被引量：4H指数：1
- 供职机构：西安电子科技大学更多>>
- 相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
- 基于LOF-KNN算法的晶圆级空间测量参数异常识别方法
- 本发明公开了一种基于LOF‑KNN算法的晶圆级空间测量参数异常识别方法，主要解决现有异常识别方法无法准确识别晶圆级空间测量参数中单个数据的可靠性隐患异常问题。其实施方案是：1、采集样本；2、根据K最近邻KNN算法，获得样...
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- 文献传递
- 基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法被引量：4
- 2013年
- 根据SPC基本原理,传统的统计过程控制技术无法直接用于多品种生产环境的质量监控.提出了一种新颖的统计过程控制方法,对工艺参数均值及标准偏差监控,仅需一张控制图即可对多品种生产过程的运行状态做出评价.详细给出了T、K统计量的定义和计算方式及T-K控制图控制限的确定.理论分析表明,T-K控制图具有稳定的监控性能且具有self-starting特点.通过实例分析及仿真验证,证实该过程控制方法能够及时、有效地检测出多品种生产模式下导致生产过程失控的异常因素,提示操作人员适时做出响应,使生产过程维持在统计受控状态以保证产品质量.
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- 关键词：多品种生产统计过程控制控制图
- 一种基于CAD蒙特卡洛分析的电路成品率估算方法
- 本发明公开了一种基于计算机辅助设计（CAD）蒙特卡洛分析的电路成品率估算方法。步骤包括：确定所分析电子线路或集成电路的拓扑结构、电路的性能参数指标范围、关键元器件参数及元器件参数的统计分布规律；建立电路性能参数与元件参数...
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- 文献传递
- 服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法
- 本发明公开了一种服从二项分布的计件值工序能力指数评价方法，主要解决现有技术所得工序能力指数结果明显偏高的问题，其实现步骤包括：1.连续采集多批产品的不合格品率作为样本数据；2.根据样本数据计算不合格品率的均值；3.根据不...
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- 文献传递
- 一种产品参数成品率估计方法
- 本发明公开了一种产品参数成品率估计方法。具体步骤是：（1）获得估计样本；（2）检验估计样本是否为单侧截尾正态分布，舍弃非单侧截尾正态分布样本；（3）获得样本均值；（4）获得样本标准偏差；（5）将样本均值和样本标准偏差代入...
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- 文献传递
- 现代半导体制造中质量控制和评价的关键技术研究
- 如今,在半导体和集成电路制造领域,随着工艺过程、技术和设备的日益复杂,电子元器件产品自身功能的不断完善,以及客户对工艺水平及产品质量要求的不断提高,使得生产过程质量控制和评价技术显得日益重要。同时,越来越多的国内企业为了...
- 顾铠
- 关键词：半导体
- 基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法
- 本发明公开了一种基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法，包括以下步骤：1)建立用于监测工艺参数均值的T控制图；2)建立用于监测工艺参数标准偏差的K控制图；3)在多品种生产模式下，采用T-K控制图对设备运行状态进...
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- 增强型功率MOS器件栅内引线脱落的检测方法
- 本发明公布了一种增强型功率MOS器件栅内引线脱落的检测方法。具体步骤是：（1）检查器件外观，获取表面完好的器件；（2）“两线法”测量器件阈值电压；（3）判定是否存在其它损坏，去除内部存在其它损坏的器件；（4）“三线法”测...
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- 文献传递
- 基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法
- 本发明公开了一种基于T-K控制图的多品种生产模式统计过程控制方法，包括以下步骤：1)建立用于监测工艺参数均值的T控制图；2)建立用于监测工艺参数标准偏差的K控制图；3)在多品种生产模式下，采用T-K控制图对设备运行状态进...
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- 文献传递
- 超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法
- 本发明公开了一种超净间内零过多颗粒数的统计过程控制方法，主要解决超净间内颗粒数零占比大于50％时现有统计过程控制技术误报警过多或不能及时报警的问题。其实施步骤是：1、利用颗粒数计数器对空气中的颗粒数进行采集，采集的数据中...
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