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解维坤

作品数:38 被引量:32H指数:3
供职机构:中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文基金:中央高校基本科研业务费专项资金国家自然科学基金福建省科技厅自然科学基金更多>>
相关领域:电子电信自动化与计算机技术机械工程电气工程更多>>

文献类型

  • 19篇专利
  • 17篇期刊文章
  • 1篇学位论文

领域

  • 14篇电子电信
  • 11篇自动化与计算...
  • 2篇机械工程
  • 2篇电气工程
  • 1篇航空宇航科学...
  • 1篇一般工业技术

主题

  • 8篇编程
  • 6篇向量
  • 5篇自测试
  • 5篇网络
  • 5篇内建自测试
  • 5篇测试系统
  • 5篇测试向量
  • 4篇ATE
  • 4篇FPGA
  • 3篇电机
  • 3篇电路
  • 3篇调速
  • 3篇调速系统
  • 3篇异步
  • 3篇异步电机
  • 3篇在线编程
  • 3篇仿真
  • 3篇变频
  • 3篇变频调速
  • 3篇变频调速系统

机构

  • 35篇中国电子科技...
  • 5篇电子科技大学
  • 3篇厦门大学
  • 2篇江南大学
  • 1篇福建工程学院
  • 1篇南京邮电大学
  • 1篇福建商学院

作者

  • 37篇解维坤
  • 9篇张凯虹
  • 8篇宋国栋
  • 4篇章慧彬
  • 4篇虞勇坚
  • 3篇陈诚
  • 2篇王厚军
  • 2篇吕栋
  • 2篇彭侠夫
  • 2篇苏洋
  • 1篇陆锋
  • 1篇蔡志匡
  • 1篇武乾文
  • 1篇赵贻玖
  • 1篇张秋丽
  • 1篇陆锋
  • 1篇万清

传媒

  • 6篇电子与封装
  • 3篇电子质量
  • 1篇安全与电磁兼...
  • 1篇仪器仪表学报
  • 1篇国外电子测量...
  • 1篇测试技术学报
  • 1篇现代电子技术
  • 1篇福建工程学院...
  • 1篇电机与控制应...
  • 1篇计算机技术与...

年份

  • 4篇2024
  • 9篇2023
  • 6篇2022
  • 3篇2021
  • 3篇2020
  • 3篇2019
  • 2篇2018
  • 1篇2016
  • 1篇2015
  • 1篇2013
  • 1篇2009
  • 3篇2008
38 条 记 录,以下是 1-10
排序方式:
大规模芯片内嵌存储器的BIST测试方法研究
2024年
随着大规模芯片的块存储器(block random access memory,BRAM)数量不断增多,常见的存储器内建自测试(memory build-in-self test,Mbist)方法存在故障覆盖率低、灵活性差等问题。为此,提出了一种新的基于可编程有限状态机的Mbist方法,通过3个计数器驱动的可编程Mbist控制模块和算法模块集成8种测试算法,提高故障覆盖率和灵活性。采用Verilog语言设计了所提出的Mbist电路,通过Modelsim对1 Kbit×36的BRAM进行仿真并在自动化测试系统上进行了实际测试。实验结果表明,该方法对BRAM进行测试能够准确定位故障位置,故障的检测率提高了15.625%,测试效率提高了26.1%,灵活性差的问题也得到了很大改善。
葛云侠陈龙解维坤张凯虹宋国栋宋国栋
关键词:存储器内建自测试
芯粒测试技术综述被引量:1
2023年
随着半导体工艺的发展,芯片工艺提升愈发困难,摩尔定律日趋放缓,而芯粒集成技术促进了多芯片封装的发展,有效地延续了摩尔定律。以2.5D、3D集成为主的芯粒异构集成芯片的测试方法与传统2D芯片测试有所不同,带来一些新的测试挑战。从当前芯粒测试的挑战分析入手,介绍了芯粒互联标准、互联测试和基于不同测试访问标准的可测性设计(DFT)方法,着重阐述各方法的优缺点以及相互之间的联系与区别,旨在帮助读者对芯粒测试技术进行系统性了解。
解维坤解维坤蔡志匡陈龙张凯虹王厚军
关键词:可测性设计TSV先进封装
一种通过指令估计处理器压力的建模方法
本发明公开一种通过指令估计处理器压力的建模方法,属于电子老化检测领域。提取指令机器码和处理器的工作负载,再通过指令机器码映射工作负载的建模。所述由于使用仿真建模方法进行,对处理器本身几乎没有侵入性,对CPU的性能和时序影...
季伟伟梁一凡陈宇轩黄乐天解维坤
基于EMC技术的PCBA板级可靠性测试案例分析被引量:1
2022年
为了使用正确的方法进行电磁兼容(EMC)测试,精准发现印刷电路板组件(PCBA)存在的潜在EMC性能缺陷,基于相关标准与EMC理论,设计了具体的PCBA板级ESD抗扰度测试、电快速瞬变脉冲群测试与浪涌冲击等典型测试方法。完善了PCBA板级EMC可靠性测试体系,并结合案例分析说明了该测试方法的适用性,为PCBA板级EMC可靠性评价和改善提供了指导。
江徽马勇解维坤张凯红
关键词:电磁兼容可靠性
一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法
本发明涉及微电子集成电路技术领域,特别涉及一种针对芯粒绑定全流程的DFT测试重定向架构及方法。包括:芯粒检测器,包括上层芯粒检测器和下层芯粒检测器;每个单芯粒的上层芯粒检测器和下层芯粒检测器接收并输出来自相邻单芯粒的下层...
解维坤洪浩斐宋国栋陈龙林晓会陈诚刘小婷魏梦凡蔡志匡
一种基于新型BIST的FPGA逻辑资源测试方法及其结构
本发明涉及集成电路技术领域,特别涉及一种基于新型BIST的FPGA逻辑资源测试方法及其结构,包括如下步骤:确定待测FPGA内部资源的被测模块BUT和比较模块BUC;基于硬件描述语言设计BIST电路结构,即:通过FPGA的...
林晓会解维坤宋国栋
一种单片机的在线编程测试方法研究被引量:1
2019年
单片机是一种集成电路芯片,在工业控制领域得到广泛的应用。而传统的单片机测试方法是先编程后上测试机测试,依赖下载器和人工操作,导致生产效率偏低。该文研究了基于ATE测试系统的单片机在线编程测试方法。以C8051F061型单片机电路为例,利用JTAG边界扫描原理设计了基于J750EX测试系统的单片机的在线测试方案,实现了J750EX测试系统对单片机的在线编程测试。实验结果表明,一种单片机的在线编程测试方法一方面解决了传统测试方法依赖下载器的问题,另一方面减少了测试过程中的人工操作,提高了生产效率,能够满足C8051F061型单片机的编程测试需求。
陈龙何笑解维坤苏洋
关键词:单片机在线编程自动测试系统JTAG
一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法
本发明涉及一种基于有限状态机的可编程存储器内建自测试方法,所述方法通过三个计数器驱动的可编程Mbist控制模块、算法模块、比较分析模块和待测BRAM实现。本发明中算法模块集成了8种测试算法并根据每个测试算法的特点生成特征...
葛云侠陈龙赵益波张凯虹解维坤武乾文康培培
基于DSP的交流异步电机变频调速系统研究与实现
随着电力电子技术的发展,以及各种新型控制器件和先进控制方法在电机调速系统中的应用,交流电机控制精度得到了极大的提高。为了满足高性能、节能和环保的要求,交流电机调速以其特有的优点,正逐步取代直流调速,在电气传动领域中扮演着...
解维坤
关键词:交流异步电机变频调速系统软件设计硬件设计系统设计
文献传递
一种亿门级FPGA互联资源智能测试方法
本发明公开一种亿门级FPGA互联资源智能测试方法,属于FPGA检测领域。确定待测FPGA内部互联资源的被测模块;根据被测模块在XDLRC报表资源文件中提取其物理连接点信息;对物理连接点进行建模处理和参数化处理,结果以图字...
解维坤齐文静宋国栋林晓会季伟伟陈龙陈宇轩
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