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机构

  • 3篇中国电子技术...
  • 1篇中国电子技术...
  • 1篇中国电子科技...

作者

  • 4篇蔡依林
  • 1篇李锟
  • 1篇王宝友
  • 1篇任翔
  • 1篇黄东巍
  • 1篇李小亮
  • 1篇麻力

传媒

  • 2篇信息技术与标...
  • 1篇电子与封装

年份

  • 1篇2019
  • 1篇2017
  • 1篇2014
  • 1篇2008
5 条 记 录,以下是 1-4
排序方式:
一种集成电路动态闩锁效应检测系统
本实用新型提出了一种集成电路动态闩锁效应检测系统,包括:信号源、试验电路板、闩锁效应试验台和供电电源。本实用新型实现了试验过程中的集成电路动态闩锁效应在线检测,通过时序信号和时钟信号的加入,使得待测器件工作在实际的动态工...
黄东巍麻力蔡依林任翔王宝友
文献传递
多电源域集成电路静电放电试验方法研究
2017年
随着集成电路技术的发展,电路从原来的单一电源域向多电源域进行转移,而其中的静电放电(ESD)试验是考核集成电路性能的一项重要指标,如何有效选择合适的试验方法变得越来越重要。结合国内外相关静电放电试验标准,研究标准之间存在的相同和不同的地方。结合实际情况,探究多电源域集成电路静电放电试验方法的选择。
姜汝栋蔡依林李小亮
关键词:静电放电
器件充电放电模式的静电防护被引量:3
2008年
由于其他的失效 ESD 模式的解决,近几年集成电路的生产中,CDM 失效的问题愈加突出。介绍了 CDM 原理及分类,主要探讨了器件静电放电(ESD)防护设计和 CDM 防护(环境、包装、操作等)的方法。
蔡依林
关键词:静电防护
集成电路锁定效应和试验方法标准研究被引量:2
2014年
针对CMOS集成电路的锁定效应,论述集成电路锁定效应的产生机制和失效机理,对目前国际上各大标准化组织发布实施的锁定试验方法标准进行对比分析,详细阐述JEDEC的JESD 78号标准的技术内容,包括试验分类、试验程序、试验方法、DUT偏置条件、脉冲触发条件、失效判据和抽样要求。
蔡依林李锟
关键词:集成电路
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