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李晋楼

作品数：6 被引量：0H指数：0
供职机构：天津大学更多>>

合作作者

文献类型

  • 6篇中文专利

主题

  • 2篇电动势
  • 2篇电加热
  • 2篇电偶
  • 2篇电器
  • 2篇电器件
  • 2篇电源
  • 2篇电阻
  • 2篇电阻率测试仪
  • 2篇针尖
  • 2篇支撑架
  • 2篇数控
  • 2篇探针
  • 2篇热电偶
  • 2篇微型计算机
  • 2篇温差
  • 2篇温差电
  • 2篇温差电器件
  • 2篇卡具
  • 2篇计算机
  • 2篇测试片

机构

  • 6篇天津大学

作者

  • 6篇李晋楼
  • 6篇王为
  • 6篇李菲晖
  • 2篇汪洋

年份

  • 1篇2013
  • 1篇2011
  • 1篇2010
  • 3篇2009
共 6 条 记 录，以下是 1-6
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薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法
本发明涉及薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法。采用全新的基于双电测四探针原理测试薄膜温差电材料电阻率的薄膜温差电材料电阻率测试仪，它由测试卡具和控制及测试电路系统构成。待测薄膜温差电材料试样放置在测试卡具内，测试卡具通过...
王为李菲晖李晋楼汪洋
文献传递
基于薄膜温差电材料的微型温差电器件组装系统及方法
本发明涉及基于薄膜温差电材料的微型温差电器件组装系统及方法。该系统主要由数控平移装置、对准装置、微型温差电器件固定装置、系统支撑架和电源组成。数控平移装置用于实现待组装温差电薄膜的精确水平移位，对准装置用于实现微型温差电...
王为李菲晖李晋楼
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薄膜温差电材料赛贝克系数测试系统及方法
本发明涉及薄膜温差电材料塞贝克系数测试系统及方法。包括测试装置和控制及测试电路系统；待测试样放置在位于试样支撑架上的绝缘片上，并通过试样固定卡分别与二个试样测温热电偶紧密接触；通过位于待测试样一侧的电加热块在待测试样的内...
王为李菲晖李晋楼
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薄膜温差电材料赛贝克系数测试系统及方法
本发明涉及薄膜温差电材料塞贝克系数测试系统及方法。包括测试装置和控制及测试电路系统；待测试样放置在位于试样支撑架上的绝缘片上，并通过试样固定卡分别与二个试样测温热电偶紧密接触；通过位于待测试样一侧的电加热块在待测试样的内...
王为李菲晖李晋楼
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薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法
本发明涉及薄膜温差电材料电阻率测试系统及方法。采用全新的基于双电测四探针原理测试薄膜温差电材料电阻率的薄膜温差电材料电阻率测试仪，它由测试卡具和控制及测试电路系统构成。待测薄膜温差电材料试样放置在测试卡具内，测试卡具通过...
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基于薄膜温差电材料的微型温差电器件组装系统及方法
本发明涉及基于薄膜温差电材料的微型温差电器件组装系统及方法。该系统主要由数控平移装置、对准装置、微型温差电器件固定装置、系统支撑架和电源组成。数控平移装置用于实现待组装温差电薄膜的精确水平移位，对准装置用于实现微型温差电...
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