李斌成
- 作品数:235 被引量:261H指数:10
- 供职机构:电子科技大学更多>>
- 发文基金:国家自然科学基金国家科技重大专项国家高技术研究发展计划更多>>
- 相关领域:电子电信理学机械工程一般工业技术更多>>
- 一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法
- 本发明公开了一种光腔衰荡高反射率测量的数据处理方法,其特征在于:在基于光腔衰荡法测量大口径光学元件高反射率时,分析大口径光学元件反射率均匀性测试过程中待测光学元件不同位置反射率值与相应衰荡信号幅值间的关系,通过二次多项式...
- 韩艳玲李斌成崔浩周胜
- 文献传递
- 一种激光光谱痕量气体检测技术中的气体深度干燥方法
- 本发明公开了一种广泛适用于激光光谱痕量气体检测技术的气体深度干燥方法。根据气体池的结构,设计并制造出腔内干燥装置。根据待测气体的特征,确定腔内干燥装置和外置干燥管内填充物的成分,并确定外置干燥管的规格。将腔内干燥装置放置...
- 唐靖李斌成
- 文献传递
- 用于高反射率测量的开关激光束的时序优化方法
- 本发明公开了用于高反射率测量的开关激光束的时序优化方法,属于对光学元件参数进行测量的技术领域。由两种方式实现激光束开关时刻的优化:优化方波调制频率和占空比,使方波下降沿的光腔输出信号平均振幅最大;当光腔输出信号振幅大于设...
- 李斌成龚元韩艳玲
- 文献传递
- 光反馈光腔衰荡技术同时测量高反膜S和P偏振反射率被引量:4
- 2018年
- 提出采用光反馈光腔衰荡技术同时测量高反膜的S(垂直于入射平面)和P(在入射平面内)偏振反射率的方法,通过将一束具有一定偏振比、光强方波调制的偏振光入射到衰荡腔中,在调制方波下降沿记录从衰荡腔腔镜透射的光腔衰荡信号,通过双指数拟合得到S、P相应的衰荡时间,从而计算得到高反膜S、P偏振光的反射率。与采用纯S(P)光测量得到的偏振反射率相比,S和P偏振反射率偏差分别仅为1 ppm和15 ppm,证明了同时测量结果的正确性。与传统光腔衰荡测量高反膜偏振反射率方法相比,该测量方法装置简单,操作方便,测量更快速。
- 崔浩李斌成肖石磊王静王亚非高椿明
- 关键词:半导体激光高反膜
- 一种用于镀膜机行星系统中控制球形光学元件膜厚分布的挡板设计方法
- 一种用于镀膜机行星系统中控制球形光学元件膜厚分布的挡板设计方法,真空镀膜过程中,膜料以蒸发或溅射方式在真空环境中传输,并在球形光学元件表面上形成厚度非均匀分布的薄膜。分别建立了能真实反映未使用挡板和使用挡板修正时真空镀膜...
- 李斌成郭春孔明东柳存定
- 空间目标的光学特性分析被引量:43
- 1989年
- 本文推导了四种基本空间漫反射表面的地面照度表达式,计算了圆台—圆柱一半球面组合体的等效视星等值,并讨论了目标尺寸、表面漫反射系数和距观测站斜距以及太阳、目标、观测站几何位置对星等值的影响。给出了典型目标的星等范围在4~m—9~m之间,这一结论与观测站所给数据基本一致。
- 李斌成
- 关键词:光学特性光学观测
- 一种用于镀膜行星系统中控制圆锥形光学元件膜厚分布的挡板设计方法
- 一种用于镀膜行星系统中控制圆锥形光学元件膜厚分布的挡板设计方法,真空镀膜过程中,膜料以蒸发或溅射方式在真空环境中传输,在圆锥形光学元件表面上形成厚度非均匀分布的薄膜,分别建立了能真实反映未使用挡板和使用挡板修正时真空镀膜...
- 李斌成郭春孔明东柳存定
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- 基于DMD的Hadamard编码模板改进设计与光谱数据修正方法研究被引量:2
- 2013年
- 介绍了一种基于DMD的Hadamard变换成像光谱仪的物理模型。以7阶S矩阵为例进行论述,通过改进编码模板的设计方案,使所有色散光谱都能被严格编码为7段。提出了一种针对复原后光谱图像的修正方法,以7阶的S矩阵编码,最终可以获得6幅质量较高的光谱图像。如以n阶的S矩阵编码,最终可以获得n-1幅质量较高的光谱图像。实验结果证明了该方案的可行性和有效性。
- 徐君谢承旺刘海文刘强李斌成
- 关键词:HADAMARD变换成像光谱仪DMD
- 一种基于透过率测量定量评估金属高反膜环境稳定性的方法
- 本发明公开了一种基于透过率测量定量评估金属高反膜环境稳定性的方法,该方法所述的金属高反膜透过率测量采用激光器作光源,通过机械斩波器强度调制后的光束经孔径光阑和扩束系统后入射到分束元件上被分为两束,一束光经过聚焦透镜后进入...
- 李斌成徐旭何文彦王长军魏铭
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- 一种同时测量高反镜S和P偏振光反射率的方法
- 本发明涉及一种同时测量高反镜对S和P偏振光反射率的方法,将光强周期性调制的连续激光注入稳定初始谐振腔,由探测器探测衰荡信号,通过双指数拟合得到初始谐振腔内S和P偏振光的衰荡时间τ<Sub>0S</Sub>和τ<Sub>0...
- 李斌成祖鸿宇韩艳玲
- 文献传递