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晏筱薇

作品数:3 被引量:4H指数:1
供职机构:桂林电子科技大学电子工程与自动化学院更多>>
发文基金:广西壮族自治区自然科学基金更多>>
相关领域:自动化与计算机技术更多>>

文献类型

  • 1篇期刊文章
  • 1篇学位论文
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇自动化与计算...

主题

  • 3篇自测试
  • 3篇内建自测试
  • 3篇存储器
  • 2篇嵌入式
  • 2篇嵌入式FLA...
  • 2篇FLASH存...
  • 2篇FLASH存...
  • 2篇存储器内建自...
  • 1篇核设计
  • 1篇IP核
  • 1篇IP核设计
  • 1篇测试器

机构

  • 3篇桂林电子科技...

作者

  • 3篇晏筱薇
  • 2篇雷加
  • 1篇周勇

传媒

  • 1篇微计算机信息
  • 1篇第二届全国虚...

年份

  • 1篇2008
  • 2篇2007
3 条 记 录,以下是 1-3
排序方式:
嵌入式flash存储器内建自测试IP核的研究
Flash存储器具有成本低、密度大和掉电不丢失数据的特点,在存储器市场中所占的比例越来越大,已广泛地运用于各个领域。同时flash存储器的密度和复杂程度日益提高,可能存在的缺陷类型越来越多,给嵌入式flash存储器的测试...
晏筱薇
关键词:FLASH存储器IP核设计
文献传递
Flash存储器的内建自测试设计被引量:4
2008年
内建自测试是一种有效的测试存储器的方法。分析了NOR型flash存储器的故障模型和测试存储器的测试算法,在此基础上,设计了flash存储器的内建自测试控制器。控制器采用了一种23位的指令,并且通过JATG接口来控制,结果通过扫描链输出。验证结果表明,设计的内建自测试结构对固定故障、转换故障、桥接故障、耦合故障、栅极干扰、漏极干扰、过渡擦除和读干扰均有100%的故障覆盖率。
雷加晏筱薇
关键词:FLASH存储器内建自测试
嵌入式Flash存储器内建自测试控制器的设计
本研究针对Flash存储器的特点,分析了存储器的工作机制、故障特征和Flash存储器特有的测试算法。在此基础上,提出了一种针对嵌入式FIash存储器的内建自测试控制器的结构。该结构采用指令格式,可以减少指令数据量。仿真结...
雷加晏筱薇周勇
文献传递
共1页<1>
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