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张泽兰

作品数：1 被引量：5H指数：1
供职机构：武汉大学更多>>
相关领域：电子电信更多>>

合作作者

文献类型

  • 1篇中文期刊文章

领域

  • 1篇电子电信

主题

  • 1篇单晶
  • 1篇砷化镓
  • 1篇砷化镓单晶
  • 1篇图象
  • 1篇图象分析
  • 1篇微缺陷
  • 1篇半绝缘
  • 1篇半绝缘砷化镓
  • 1篇半绝缘砷化镓...

机构

  • 1篇武汉大学
  • 1篇电子工业部

作者

  • 1篇齐芸馨
  • 1篇张泽兰
  • 1篇曾立波

传媒

  • 1篇分析测试技术...

年份

  • 1篇1999
共 1 条 记 录，以下是 1-1
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排序方式：
半绝缘砷化镓单晶中AB微缺陷的定量测量方法被引量：5
1999年
报道了非掺杂半绝缘砷化镓单晶中ＡＢ微缺陷显微特征的研究结果，提出了一种自动定量测量微缺陷的方法，并在ＷＤ－５图象处理分析系统中实现了该算法。
张泽兰曾立波齐芸馨
关键词：图象分析微缺陷砷化镓单晶半绝缘
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共1页<1>
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