吴奕阳
- 作品数：21 被引量：42H指数：3
- 供职机构：上海市计量测试技术研究院更多>>
- 相关领域：轻工技术与工程金属学及工艺理学医药卫生更多>>
- 饰品中有害元素的限定及无损检测方法的前瞻被引量：11
- 2009年
- 该文对即将出台的关于饰品中有害元素限定的国家行业标准进行了介绍,并提出了相关的无损检测方法的前瞻。
- 陈丁滢吴奕阳谢启耀
- 关键词：X射线荧光光谱
- 利用X荧光光谱法对仿真饰品镍释放量快速分析筛选初探
- 本文分别采用X射线荧光光谱仪和光谱仪对市场上常见合金仿真饰品镍含量和镍释放量进行检测，寻求仿真饰品金属覆盖层类型、表面镍含量、基体镍含量与饰品镍释放量的关系，进而获得通过利用X射线荧光谱法对金属覆盖层和镍含量进行检测，就...
- 吴奕阳戴珏张元璋
- 关键词：金属覆盖层镍含量
- X射线荧光光谱法对金首饰合金中铅、镉含量的检测
- 本文阐述了用X射线荧光光谱法(XRF法)进行金首饰合金中铅、镉元素的检测。研制不同金合金类型的工作标样,分别在能量色散X荧光光谱仪和波长色散X荧光光谱仪上对金合金空白工作标样进行实验,获得铅、镉元素的检出限。同等条件下,...
- 吴奕阳黄国芳戴珏吴嵩
- 关键词：铅镉X射线荧光光谱法
- X射线荧光光谱法检测银首饰合金中的铅含量被引量：2
- 2014年
- 阐述应用X射线荧光光谱法(XRF法)检测银首饰合金中的铅元素。针对不同纯度银合金的工作标样,分别利用波长色散X荧光光谱仪和能量色散X荧光光谱仪对银合金空白工作标样进行实验,从而获得铅元素的检出限。在同等条件下,对各种银合金样品进行铅含量的分析测试以获得检测值。结合仪器检出限,评估检测值的校正系数,给出判定结果,与ICP法验证实验分析判定结果进行比较,证明XRF方法可行。分析讨论可能影响检测的因素。
- 黄国芳金俊吴奕阳许雅
- 关键词：X射线荧光光谱法
- 基于三维扫描体积测算的宝石密度测定方法被引量：1
- 2021年
- 应用基于双目结构光原理的桌面三维扫描仪,对多种形状和类别的宝石进行多次体积测定,并根据电子分析天平称取的样品质量获得每件样品多次测量的密度值。每件样品多次测量的密度值均落在国家标准中的该样品所属宝石类别的密度区间内,表明该方法的准确性。该方法不稳定因素较少,通过数据分析比较发现,总体稳定性明显高于传统的宝石密度测定所使用的净水称重法。此外,由于三维扫描仪的扫描区域比较大,可以测定的样品体积和质量会比传统的净水称重法使用的密度天平大得多。
- 张晴吴奕阳汤红云
- 关键词：密度测定体积
- 波长色散X射线荧光光谱法测定纯金中金被引量：10
- 2003年
- 应用波长色散X射线荧光光谱法 (WDXRF)对纯金 (金含量为 98.0 0 %～ 99.95 % )中金含量进行定量分析。利用国家标准物质和自行研制的工作标样建立校准曲线 ,采用Lachance Trill浓度校正模式消除吸收 增强效应 ;进行背景修正以提高测低浓度组分的准确度。对样品的测试结果与其它方法结果比较 ,证明此法可行。金含量在 98.0 0 %～ 99.95 %范围内 ,分析结果与其他方法结果的偏差绝对值均小于 0 .10 %。
- 吴奕阳叶晓珉方名戌
- 关键词：纯金
- 能量色散X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅、汞被引量：1
- 2017年
- 采用能量色散X射线荧光光谱法对金首饰和铂首饰中的有害元素铅和汞进行检测。在能量色散X射线荧光光谱仪上对金首饰和铂首饰的空白标样进行检测,得出铅和汞的检出限。然后以同样的方法对金首饰和铂首饰的标样进行检测。结合检出限和其他判定规则对金首饰和铂首饰样品中铅、汞元素的测试结果给出合格与否的判定。该测定方法与ICP法的实验比对结果表明了该方法的可行性。
- 戴珏王炯吴奕阳
- 关键词：金首饰铂首饰铅汞
- X射线荧光光谱法在PET塑封金制品金层厚度测试中的应用被引量：1
- 2000年
- 应用 X射线荧光光谱法对 PET塑封金制品的金层厚度进行了测试。通过一定的技术和计算机处理 ,采用合适的数学模型 ,使不同厚度不同型号的 PET塑封金层得到不同的校准曲线 ,从而求得 PET塑封金制品的金层厚度。测试结果与经典称重法结果比较 。
- 吴奕阳叶晓珉袁国英谢启耀
- 关键词：X射线荧光光谱法厚度
- 铂制品中铂含量的无损方法──能量色散X射线荧光光谱法
- 1999年
- 本文叙述了采用能量色散X射线荧光光谱法对钳制品中的钥含量作无损检测的方法。我们运用多次熔炼的方法制作工作标样，根据X射线荧光光谱分析方法的基本原理，对样品进行检测及数据比对，并对方法进行了必要的修正，以提高测量方法的精度。本方法可测量多元素铂合金，其测量范围为Pt含量99．9％～85％，测量误差定为0．3％。
- 方名戍傅友俊吴奕阳
- 关键词：无损检测X射线荧光光谱法
- 饰品银含量和覆盖层厚度的X射线荧光检测被引量：3
- 2018年
- 采用X射线荧光显微仪和X射线荧光镀层测厚仪,以及K值计算法,对银饰品中银含量、镍覆盖层厚度和样品总厚度进行检测研究。银含量检测的结果与国家标准溴化钾容量法(电位滴定法)(GB/T 17832-2008)的检测结果吻合。
- 吴奕阳杨鹔黄国芳
- 关键词：分析化学银饰品覆盖层厚度
