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林玉瓶

作品数:8 被引量:6H指数:2
供职机构:浙江大学更多>>
相关领域:电子电信更多>>

文献类型

  • 4篇专利
  • 3篇期刊文章
  • 1篇会议论文

领域

  • 3篇电子电信

主题

  • 4篇单晶
  • 3篇氮气
  • 3篇直拉硅
  • 3篇直拉硅单晶
  • 3篇晶体
  • 3篇硅单晶
  • 3篇半导体
  • 2篇氮化
  • 2篇氮化硅
  • 2篇氮气压力
  • 2篇载体填料
  • 2篇填料
  • 2篇硅晶
  • 2篇硅晶体
  • 2篇半导体材料
  • 2篇超细
  • 2篇床层
  • 2篇纯度
  • 1篇单晶炉
  • 1篇单晶生长

机构

  • 8篇浙江大学

作者

  • 8篇林玉瓶
  • 4篇李立本
  • 3篇阙端麟
  • 2篇姚奎鸿
  • 2篇沃银花
  • 2篇余京松
  • 2篇张焕林
  • 2篇周晓茹
  • 1篇陈忠景
  • 1篇陈福元
  • 1篇杨德仁
  • 1篇陈修治
  • 1篇万英超
  • 1篇章婉珍
  • 1篇陈启秀

传媒

  • 2篇半导体技术
  • 1篇浙江大学学报...
  • 1篇中国有色金属...

年份

  • 1篇2001
  • 1篇1999
  • 2篇1992
  • 1篇1991
  • 1篇1990
  • 2篇1986
8 条 记 录,以下是 1-8
排序方式:
一种制造高纯度超细氮化硅的方法及设备
一种制造高纯度超细氮化硅的方法及设备,其特征是硅烷和氨气的气相化学反应是在立式双温区流态反应器3中进行,该反应器流态床底部设有不锈钢制造的分配板31,载体填料32是粒度为0.1~0.5mm的硅晶体,床层外部设有主加热器3...
姚奎鸿周晓茹张焕林林玉瓶余京松沃银花
文献传递
氮气氛下直拉硅单晶的杂质控制被引量:2
1992年
通过改变埚转、氮气流量及多晶熔化时间等拉晶参数,便能简单而有效地控制其氧碳氮杂质,并在实际生产中运用获得成功。
杨德仁李立本林玉瓶姚鸿年阙端麟
关键词:氮气硅单晶
采用氮保护气氛制造直拉(切氏法)硅单晶的方法
本发明属于直拉(切氏法)硅单晶生长技术领域。采用纯氮作为直拉硅单晶的保护气体,所用的氮气纯度为99.999%以上,进入炉内氮气压力为0.5~60托,氮气流量为2~50升/分,所用的充氮设备及控制方法与充氩工艺相同。由于氮...
阙端麟李立本林玉瓶
文献传递
氮气氛下生长的直接硅单晶中的氮浓度轴向分布
陈修治林玉瓶李立本
关键词:单晶晶体生长半导体材料
半绝缘多晶硅钝化技术研究及其应用被引量:4
1991年
1 前言 半导体器件的稳定性除了与器件的制造材料、器件本身的结构有关外,在相当大的程度上还取决于对其表面的保护措施——即表面钝化。钝化是改善器件性能和提高可靠性所不可缺少的手段和重点工艺。早在五十年代。
陈福元陈启秀陈忠景章婉珍林玉瓶
关键词:半绝缘多晶硅钝化半导体器件
ECR微波等离子体CVD制备a—Si:H薄膜
1992年
电子回旋共振微波等离子体化学气相沉积(ECRPCVD)应用于制备a—Si:H薄膜,其沉积速率大于射频等离子体化学气相沉积(RFPCVD),而且在基体不加温情况下也能获得比较满意的特性。根据红外吸收谱分析,并经伸缩振动模吸收带的积分计算,得出样品的含氢量为20—30%,光学带隙E。为1.80eV左右;暗电导率小于10^(-10)s/cm。倘若基体适当加温,a—Si:H膜的性能将更为优良。
万英超林玉瓶
关键词:微波等离子体CVD
一种制造高纯度超细氮化硅的方法及设备
一种制造高纯度超细氮化硅的方法及设备,其特征是硅烷和氨气的气相化学反应是在立式双温区流态反应器3中进行,该反应器流态床底部设有不锈钢制造的分配板31,载体填料32是粒度为0.1~0.5mm的硅晶体,床层外部设有主加热器3...
姚奎鸿周晓茹张焕林林玉瓶余京松沃银花
文献传递
直拉(切氏法)硅单晶的氮保护气氛
直拉硅单晶的氮保护气氛属于半导体材料制造技术。在直拉(切氏法)硅单晶技术中,以氮气作为拉晶的保护气体。所用的氮气纯度为99.999%以上,进入硅单晶炉内氮气流量为2—50升/分,炉内氮气压力为0.5—60乇。;由于氮气来...
阙端麟李立本林玉瓶
文献传递
共1页<1>
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