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李玉峰
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供职机构:
华北光电技术研究所
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相关领域:
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合作作者
曹凌霞
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InSb表面的损伤层研究
本文通过采用X射线双晶衍射的方法,对经过研磨、抛光的InSb晶片进行检测,研究晶片表面损伤,得出损伤层的大致范围,并把实验结果运用于实际工作中.
曹凌霞
李玉峰
关键词:
INSB
损伤层
红外探测器
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